外觀檢查規定

1 表盤上或外殼上至少應有下述標志符號：A.儀表名稱或被測之量的標志符號；B.型號；C.系別符號；D.準確度等級；E.廠名或廠標；F.制造標準號；G.制造年月或出廠編號；H.電流種類或相數，三相儀表中測量機構的元件數量；I.正常工作位置；J.互感器的變比(指與互感器聯用的儀表)；K.定值導線值(或符號)和分流器額定電壓降值(對低量限電壓表的要求)。

2 儀表的端鈕和轉換開關上應有用途標志；

3 從外表看，零部件完整，無松動，無裂縫，無明顯殘缺或污損。當傾斜或輕搖儀表時，內部無撞擊聲；

4 向左右兩方向旋動機械調零器，指示器應轉動靈活，左右對稱； 其工作接近技術和物理的極限。平臺校準激光干涉儀表面粗糙度

利用不同構形的彈性敏感元件可測量各種物體的應力、應變、壓力、扭矩、加速度等機械量。半導體應變片與電阻應變片(見電阻應變片相比，具有靈敏系數高（約高 50～100倍）、機械滯后小、體積小、耗電少等優點。P型和N型硅的靈敏系數符號相反，適于接成電橋的相鄰兩臂測量同一應力。早期的半導體應變片采用機械加工、化學腐蝕等方法制成，稱為體型半導體應變片。它的缺點是電阻和靈敏系數的溫度系數大、非線性大和分散性大等。這曾限制了它的應用和發展。自70年代以來，隨著半導體集成電路工藝的迅速發展，相繼出現擴散型、外延型和薄膜型半導體應變片，上述缺點得到一定克服。半導體應變片主要應用于飛機、導彈、車輛、船舶、機床、橋梁等各種設備的機械量測量。光電激光干涉儀彩色共焦技術熱力或磁力應變作為ΔL與初始長度（Lo）之間的比率。

結構原理：普通電流互感器結構原理：電流互感器的結構較為簡單，由相互絕緣的一次繞組、二次繞組、鐵心以及構架、殼體、接線端子等組成。其工作原理與變壓器基本相同，一次繞組的匝數（N1）較少，直接串聯于電源線路中，一次負荷電流(I1)通過一次繞組時，產生的交變磁通感應產生按比例減小的二次電流（I2）；二次繞組的匝數（N2）較多，與儀表、繼電器、變送器等電流線圈的二次負荷（Z）串聯形成閉合回路，由于一次繞組與二次繞組有相等的安培匝數，I1N1=I2N2，電流互感器額定電流比電流互感器實際運行中負荷阻抗很小，二次繞組接近于短路狀態，相當于一個短路運行的變壓器。

引力波測量干涉儀也可以用于引力波探測(Saulson,1994)。激光干涉儀引力波探測器的概念是前蘇聯科學家Gertsenshtein和Pustovoit在1962年提出的（Gertsenshtein和Pustovoit 1962。1969年美國科學家Weiss和Forward則分別在1969年即于麻省理工和休斯實驗室建造初步的試驗系統（Weiss 1972）。截止jin ri，激光干涉儀引力波探測器已經發展了40余年。目前LIGO激光干涉儀實驗宣稱shou ci直接測量到了引力波 (LIGO collaboration 2016)。LIGO可以認為是兩路光線的干涉儀，而另外一類引力波探測實驗， 脈沖星測時陣列則可認為是多路光線干涉儀（Hellings和Downs,1983）。定位器的觸發運動控制。

在物理學家關于氣體或其他有重物體所形成的理論觀念同麥克斯韋關于所謂空虛空間中的電磁過程的理論之間，有著深刻的形式上的分歧。這就是，我們認為一個物體的狀態是由數目很大但還是有限個數的原子和電子的坐標和速度來完全確定的；與此相反，為了確定一個空間的電磁狀態，我們就需要用連續的空間函數，因此，為了完全確定一個空間的電磁狀態，就不能認為有限個數的物理量就足夠了。按照麥克斯韋的理論，對于一切純電磁現象因而也對于光來說，應當把能量看作是連續的空間函數，而按照物理學家的看法，一個有重客體的能量，則應當用其中原子和電子所帶能量的總和來表示。一個有重物體的能量不可能分成任意多個、任意小的部分，而按照光的麥克斯韋理論（或者更一般地說，按照任何波動理論），從一個點光源發射出來的光束的能量，則是在一個不斷增大的體積中連續地分布的。角度和迴轉測量，檢測軸承間隙。黃浦區激光干涉儀厚度測量

不穩定的偏航和俯仰測量。平臺校準激光干涉儀表面粗糙度

利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何干涉儀路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精度，干涉條紋每移動一個條紋間距，光程差就改變一個波長（～10-7米）。所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程差的，其測量精度之高是任何其他測量方法所無法比擬的。平臺校準激光干涉儀表面粗糙度