外觀檢查規定
1 表盤上或外殼上至少應有下述標志符號：A.儀表名稱或被測之量的標志符號；B.型號；C.系別符號；D.準確度等級；E.廠名或廠標；F.制造標準號；G.制造年月或出廠編號；H.電流種類或相數，三相儀表中測量機構的元件數量；I.正常工作位置；J.互感器的變比(指與互感器聯用的儀表)；K.定值導線值(或符號)和分流器額定電壓降值(對低量限電壓表的要求)。
2 儀表的端鈕和轉換開關上應有用途標志；
3 從外表看，零部件完整，無松動，無裂縫，無明顯殘缺或污損。當傾斜或輕搖儀表時，內部無撞擊聲；
4 向左右兩方向旋動機械調零器，指示器應轉動靈活，左右對稱； 使其可以測量長達40米的距離。傳感器激光干涉儀金線檢測
這些內容不局限于一種技術方案，而是幾種不同技術方案中概括出來的共同點。如采用無導軌干涉儀，對跟蹤系統的要求可以降低；采用二維精密跟蹤測角系統在1M3測量范圍內可以得到高精度；有了超半球反射鏡可以提高4路跟蹤方案的精度。在現場進行介入制造和裝配不能等待很長時間，力和熱變形的補償是必須的而且需要足夠快，現在的技術還有相當大的差距，所以這些進展是關鍵性的。應用范圍：新型并行機構機床的鑒定，飛機裝配型架的鑒定，大型設備安裝，用于生物芯片精密機器人校準等。惠州激光干涉儀厚度測量傳感頭的緊湊和模塊化設計，以及柔性玻璃纖維使得能夠在整個工作范圍內快速安裝和快速對齊。
5 指針不應彎曲，與標度盤表面間的距離要適當。對裝有反射鏡式讀數裝置的儀表應不大于(0.02L+1)MM；其余儀表應不大于(0.01L+1)MM。指針與標度尺在同一水平面上的儀表，其指針前列與標度尺邊緣的間隙應不超過(0.01L+0.8)MM。其中L 是標度尺長度，MM。刀形和絲形指針的前列至少應蓋住標度尺上較短分度線的1/2，矛形指針可為1/2～3/4；
6 檢查有無封印，外殼密封是否良好。
三相儀表應在對稱電壓和平衡負載的條件下檢驗。三相系統中每一個線電壓或相電壓以及電流與系統中相應量的平均值之差均不應大于1%。各個相電流與對應相電壓的相位差之間的差值不大于2°。
頻率影響
1 當頻率自額定值偏離±10%(但對相位表和功率因數表為±2%，對單相無功功率表為±5%)時，由此所引起的儀表指示值的改變應不超過表7 中的規定值。如果在儀表上注明額定頻率范圍，則在此范圍內的任一頻率下，儀表的基本誤差都應不超過規定值。如果在儀表上除注明額定頻率外，還注明有擴大的頻率范圍時，則在此范圍內的任一頻率下，儀表的基本誤差應不超過表7 中規定值的兩倍。儀表輔助電路的電源，當其頻率自額定值偏離±2%時，由此引起的儀表指示值的改變，應不超過表7 規定值的一半。
2 檢驗頻率的影響時，應遵守有關規定(對頻率的規定除外)，且應除去變差影響。試驗是在標度尺的幾何中心附近和上量限附近的兩點分度線上進行。相位表在額定電流下進行，功率表在額定功率因數下進行。 LineCAL可實現亞微米精度的空間補償。
光電效應分為：外光電效應和內光電效應。內光電效應是被光激發所產生的載流子（自由電子或空穴）仍在物質內部運動，使物質的電導率發生變化或產生光生伏特的現象。外光電效應是被光激發產生的電子逸出物質表面，形成真空中的電子的現象。外光電效應在光的作用下，物體內的電子逸出物體表面向外發射的現象叫做外光電效應。外光電效應的一些實驗規律a．只當照射物體的光頻率不小于某個確定值時，物體才能發出光電子，這個頻率叫做極限頻率(或叫做截止頻率)，相應的波長λ0叫做極限波長。不同物質的極限頻率和相應的極限波長 是不同的。電機振動的非接觸頻率分析。測量激光干涉儀
雖然加速度計可用于測量頻率> ~20 Hz @ 10 kHz的鏡像虛擬儀。傳感器激光干涉儀金線檢測
高精度。目前半導體工藝的典型線寬為0.25μm，并正向0.18μm過渡，2009年的預測線寬是0.07μm。如果定位要求占線寬的1/3，那么就要求10nm量級的精度，而且晶片尺寸還在增大，達到300mm。這就意味著測量定位系統的精度要優于3×10的-8次方，相應的激光穩頻精度應該是10的-9次方數量級。
高速度。目前加工機械的速度已經提高到1m/sec以上，上世紀80年代以前開發研制的儀器已不適應市場的需求。例如惠普公司的干涉儀市場大部分被英國Renishaw所占領，其原因是后者的速度達到了1m/sec。 傳感器激光干涉儀金線檢測
上海岱珂機電設備有限公司在光譜共焦傳感器，高精度3D測量系統，涂層厚度檢測傳感器，同軸激光位移傳感器一直在同行業中處于較強地位，無論是產品還是服務，其高水平的能力始終貫穿于其中。公司位于上海市奉賢區泰葉路159弄33號，成立于2011-11-11，迄今已經成長為儀器儀表行業內同類型企業的佼佼者。公司承擔并建設完成儀器儀表多項重點項目，取得了明顯的社會和經濟效益。多年來，已經為我國儀器儀表行業生產、經濟等的發展做出了重要貢獻。