第二條傳輸線中沒有過孔，這條傳輸線是一條均勻微帶。SMA加載與排前條傳輸線相同。巧合的是，盡管這是一個單端測量，但這條被測的傳輸線外還有另一條平行的傳輸線與其物理相鄰，間距約等于線寬。但是，相鄰的傳輸線上也端接了50歐姆的電阻。是否有可能另外一條跡線的逼近在某種程度上導致了這個波谷？如果是這樣，另一條線的哪些特征影響了波谷頻率？要回答這個問題，方法之一是為兩條耦合線的物理結構建立一個參數(shù)化的模型，驗證模擬的插入損耗與測得的插入損耗匹配，然后調整方面的模型，探索設計空間。克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室信號完整性技術指標；DDR測試信號完整性測試執(zhí)行標準

信號完整性和低功耗在蜂窩電話設計中是特別關鍵的考慮因素，EP諧波吸收裝置有助三階諧波頻率輕易通過，并將失真和抖動減小至幾乎檢測不到的水平。隨著集成電路輸出開關速度提高以及PCB板密度增加，信號完整性已經(jīng)成為高速數(shù)字PCB設計必須關心的問題之一。元器件和PCB板的參數(shù)、元器件在PCB板上的布局、高速信號的布線等因素，都會引起信號完整性問題，導致系統(tǒng)工作不穩(wěn)定，甚至完全不工作。 如何在PCB板的設計過程中充分考慮到信號完整性的因素，并采取有效的控制措施，已經(jīng)成為當今PCB設計業(yè)界中的一個熱門課題。DDR測試信號完整性測試執(zhí)行標準信號完整性測試分類時域測試頻域測試；

每個示波器都有自己獨特的頻率響應。頻率響應是否平坦對于信號完整性至關重要。磚墻式頻響示波器的帶外噪聲比較低,而高斯頻響的邊沿振鈴比較低。圖中顯示了8GHz帶寬示波器InfiniiumDSOS804A的幅度響應。垂直標度已放大到1db/格,8GHz帶寬內的頻響幅度變化十分輕微。

兩款示波器測試的是同一個信號,它們的額定帶寬、采樣率及其他設置均相同。右圖中的波形精確地再現(xiàn)了被測信號的各個頻譜分量,但左圖中的波形卻沒有。為什么有這種區(qū)別?這是因為,右圖中的示波器采用了校正濾波器,幅度和相位響應是平坦的,而左圖中的示波器則不然。

確定信號衰減的根本原因描述給定設備的頻率特性時，工程師可以使用S參數(shù)作為標準。互連的S參數(shù)（無論是在時域還是在頻域中進行測量）了互連的特征模型。該參數(shù)涵蓋了信號從進入一個端口到離開另一個端口時的所有特性信息。為了確定信號衰減的根本原因，重要的是先要確定您對S參數(shù)的期望值。將期望值與測量值進行比較，有助于識別導致信號完整性衰減的通道區(qū)域。接下來，您需要更深入地研究被測設備和設備之間的連接，以便確定根本原因。對于差分通道，可以使用混合模式S參數(shù)進行分析。常見的S參數(shù)是與電磁干擾有關的差分回波損耗（SDD11）、差分插入損耗（SDD21）和差分至共模轉換（SCD21）。在分析傳輸質量時，還需要重點考慮反射因素。每當出現(xiàn)瞬時阻抗變化時，信號就會被反射。反射會使返回的原始信號出現(xiàn)延遲（如下圖2所示），并與原始信號結合而產生相消干擾。信號完整性問題應循序的11個基本原則？

一致性達到了驚人的約8GHz。這表明，沒有出現(xiàn)任何異常情況。沒有出現(xiàn)任何超出兩條耦合有損線正常行為的情況。在此例中，未被驅動的第二條線端接了50歐姆電阻，而模型的設置也與之匹配。我們看到，當一條單線用在一對線當中時，插入損耗上會出現(xiàn)反常的波谷，而當這條單線被隔離時，波谷并不會出現(xiàn)。通過場解算器我們證實了這一點，是相鄰線的接近在某種程度上導致了波谷的產生。引起這種災難性的行為效果并不反常，只是很微妙。我們可能花上幾個星期的時間在新的板子上陸續(xù)測試一個個效果，試圖找出影響此行為的原因。例如，我們可以改變耦合長度、線寬、間距、電介質厚度，甚至是介電常數(shù)和耗散因數(shù)，來探尋是什么影響了諧振頻率。我們也可以使用如ADS這樣的仿真工具進行同樣的虛擬實驗。只有當我們相信工具能準確地預測這種行為時，我們才可以用它來探索設計空間。克勞德高速數(shù)字信號測試實驗室信號完整性的測試方法、系統(tǒng)、裝置及設備與流程；DDR測試信號完整性測試執(zhí)行標準

信號完整性基本定義是指一個信號在電路中產生相應的能力。DDR測試信號完整性測試執(zhí)行標準

轉換成頻域的TDR/TDT響應：回波損耗/插入損耗。藍線是參考直通的插入損耗。當然，如果有一個完美直通的話，每個頻率分量將無衰減傳播，接收的信號幅度與入射信號的幅度相同。插入損耗的幅度始終為1，用分貝表示的話，就是0分貝。這個損耗在整個20GHz的頻率范圍內都是平坦的。黃線始于低頻率下的約-30分貝，是同一傳輸線的回波損耗，即頻域中的S11。綠線是此傳輸線的插入損耗，或S21。這個屏幕只顯示了S參數(shù)的幅度，相位信息是有的，但沒有顯示的必要。回波損耗始于相對較低的值，接近-30分貝，然后向上爬升到達-10分貝范圍，約超過12GHz。這個值是對此傳輸線的阻抗失配和兩端的50歐姆連接的衡量。插入損耗具有直接有用的信息。在高速串行鏈路中，發(fā)射機和接收機共同工作，以發(fā)射并接收高比特率信號。在簡單的CMOS驅動器中，一個顯示誤碼率之前可能可以接受-3分貝的插入損耗。對于簡單的SerDes芯片而言，可以接受-10分貝的插入損耗，而對于先進的高級SerDes芯片而言，則可以接受-20分貝。如果我們知道特定的SerDes技術可接受的插入損耗，那就可以直接從屏幕上測量互連能提供的比較大比特率。DDR測試信號完整性測試執(zhí)行標準