其中該中心凹陷區域是方形。在一實施例中，為了讓基板區域的電阻值降低，其中在該邊框結構區域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該凹陷區域的該***表面至該第二表面的距離的兩倍。在一實施例中，為了讓基板區域的電阻值降低，其中在該邊框結構區域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該***環狀凹陷區域或該中心凹陷區域的該***表面至該第二表面的距離的兩倍。在一實施例中，為了讓基板區域的電阻值降低，其中在該邊框結構區域的該***表面至該第二表面的距離，大于或等于在該***內框結構區域的該***表面至該第二表面的距離。在一實施例中，為了節省金屬層的厚度以便節省成本，其中該第四表面具有向該第三表面凹陷的一金屬層凹陷區域，該金屬層凹陷區域在該第二表面的投影區域位于該中心凹陷區域當中。在一實施例中，為了設計與制作的方便，其中該金屬層凹陷區域與該凹陷區域的形狀相應，該金屬層凹陷區域的面積小于該中心凹陷區域的面積。根據本申請的一實施例，提供一種半導體晶圓，其特征在于，其中該半導體晶圓當中預定切割出一***芯片區域，該***芯片區域包含如所述的半導體組件的基板結構。在一實施例中。國內半導體晶圓廠家哪家好？河北半導體晶圓歡迎選購

    該晶圓制作方法1500可以用于制作本申請所欲保護的其他基板結構，而不只限于基板結構1000。步驟1510：提供晶圓。該晶圓可以是圖13或14所示的晶圓1300或1400。在圖16a當中，可以看到晶圓層820的剖面。圖16a的晶圓層820的上表面，是圖10a實施例所說的第二表面822。步驟1520：根據所欲切割芯片的大小與圖樣，涂布屏蔽層。在圖16b當中，可以看到屏蔽層1610的圖樣，形成在晶圓層820的上表面。而每一個芯片預定區域的屏蔽層1610的圖樣，至少要在該芯片的周圍形成邊框區域。當所欲實施的基板結構如同圖8a~10b所示的基板結構800~1000，或是具有內框結構時，則屏蔽層1610的圖樣可以涵蓋這些內框結構的區域。在一實施例當中，上述的屏蔽層可以是光阻層(photoresistlayer)，也可以是其他如氮化硅之類的屏蔽層。步驟1530：對晶圓進行蝕刻。蝕刻的方式可以包含濕式蝕刻、干式蝕刻、電漿蝕刻、反應離子蝕刻(rie,reactiveionetching)等。如圖16c所示，蝕刻的深度可以約為該晶圓層820厚度的一半，但本申請并不限定蝕刻步驟的厚度。在步驟1530之后，形成芯片邊緣的邊框結構與/或芯片內部的方框結構。利用兩個步驟1520與1530，可以形成該晶圓上所有芯片的晶圓層的全部邊框結構與內框結構。北京標準半導體晶圓半導體晶圓服務電話？

    在本發明的一個或多個實施方式中，排氣口包含多個穿孔。本發明的另一實施方式提供一種半導體晶圓干燥方法。半導體晶圓干燥方法包含：將半導體晶圓設置于腔室內；對半導體晶圓發射微波，以將半導體晶圓上的水加熱并轉換成水蒸氣；以及將水蒸氣排出腔室。在本發明的一個或多個實施方式中，半導體晶圓干燥方法進一步包含：旋轉半導體晶圓。在本發明的一個或多個實施方式中，半導體晶圓的轉速實質上為10rpm。相較于公知技術，本發明的上述實施方式至少具有以下優點：(1)運用微波移除先前的工藝殘留于半導體晶圓表面上的水，使得干燥過程變得簡單，從而能有效降低干燥半導體晶圓的作業成本。(2)由于微波產生器平均地環繞腔室分布，微波可均勻地進入腔室內，并均勻地到達位于腔室內的半導體晶圓，從而促進干燥過程。(3)由于半導體晶圓以約10rpm(revolutionsperminute，每分鐘回轉數)的低轉速旋轉，半導體晶圓可均勻地暴露于發射自微波產生器的微波，藉此可促進干燥過程。附圖說明參照以下附圖閱讀下文中詳述的實施方式，可更透徹地理解本發明。圖1為依據本發明一實施方式的半導體晶圓干燥設備的剖視圖。圖2為依據本發明另一實施方式的半導體晶圓干燥設備的剖視圖。

    在圖8b所示的實施例當中，示出四個內框結構。本領域普通技術人員可以從圖8a與圖8b理解到，本申請并不限定內框結構的數量、位置、形狀等配置的參數。在一實施例當中，如圖8a所示，在內框結構821與822之處，晶圓層820的厚度與在邊框結構的厚度是相同的。在另一實施例當中，內框結構821與822的厚度與邊框結構的厚度可以是不同的。舉例來說，在內框結構821與822的晶圓層厚度，可以較在邊框結構的晶圓層厚度來得小。由于在芯片中間所承受的應力與/或熱應力可以比在邊緣來得小，因此可以使用較薄的內框結構作為補強。一方面降低基板結構的電阻值，另一方面還能補強基板結構。請參考圖9所示，其為根據本申請一實施例的半導體基板的結構900的一剖面示意圖。圖9所示的結構900是在圖8所示的結構800之下加入樹酯層440。和圖4所示的結構400一樣，該樹酯層440可以用于保護該結構900的金屬層810，并且降低物理應力與熱應力的影響，進而保護器件。在圖8a與圖9的實施例當中，在芯片中間的金屬層810比較厚。由于金屬層810的金屬價格比樹酯層440的樹酯還要貴，制作較厚金屬層810的步驟也比制作樹酯層440的步驟更貴。如果在設計規格允許的情況下，可以制作較薄的金屬層810，以便減少成本。咸陽12英寸半導體晶圓代工。

    圖18b是圖18a所示通孔的頂視圖。圖18c揭示了形成在晶圓18010上的多個槽18036的剖視圖。同樣的，槽18036中由聲波能量產生的氣泡18012增強了對雜質的去除，如殘留物和顆粒。圖18d是圖18c所示槽18036的頂視圖。飽和點rs被定義為通孔18034、槽18036或其他凹進區域內可容納的**大氣泡量。當氣泡的數量超過飽和點rs時，清洗液將受圖案結構內的氣泡阻擋且很難到達通孔18034或槽18036側壁的底部，因此，清洗液的清洗效果會受到影響。當氣泡的數量低于飽和點時，清洗液在通孔18034或槽18036內有足夠的活動路徑，從而獲得良好的清洗效果。低于飽和點時，氣泡總體積vb與通孔或槽或其他凹進區域的總體積vvtr的比值r為：r＝vb/vvtr當處于飽和點rs時，比值r為：r＝vb/vvtr＝rs通孔18034，槽18036或其他凹進區域內氣泡總體積為：vb＝n*vb其中，n為通孔、槽或凹進區域內的氣泡總數，vb為單個氣泡的平均體積。如圖18e至圖18h所示，當超聲波或兆聲波能量被應用于清洗液中時，氣泡18012的尺寸逐漸膨脹到一定體積，從而導致氣泡總體積vb和通孔、槽或其他凹進區域的體積vvtr的比值r接近或超過飽和點rs。膨脹的氣泡18012堵塞了清洗液體交換和***通孔或槽中雜質的路徑。在這種情況下。半導體晶圓定制價格。北京標準半導體晶圓

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    并且不同規格的花籃無法同時進行作業，**降低了生產的效率。技術實現要素：本實用新型所要解決的技術問題在于克服現有技術不足，提供一種半導體晶圓濕法清洗治具，可適用于不同尺寸不同形狀晶圓，且可實現多層同時清洗。本實用新型具體采用以下技術方案解決上述技術問題：一種半導體晶圓濕法清洗治具，該治具包括提把和一組平放花籃；所述提把沿豎直方向均勻設置有一組連接端口；所述平放花籃由圓形底盤和設置在圓形底盤邊緣的一圈鏤空側壁組成，圓形底盤上設置有一組通孔，在所述鏤空側壁的外緣設置有至少一個連接端子，所述連接端子與提把上的任一連接端口相配合可使得平放花籃可拆卸地固定于提把上對應于該連接端口的位置。推薦地，圓形底盤上的所述通孔均勻分布。推薦地，該治具還包括一組豎直擋板；所述平放花籃的鏤空側壁內緣及相應位置的圓形底盤上設置有一系列用于固定所述豎直擋板的卡槽，豎直擋板與相應的卡槽配合可將平放花籃內的空間劃分為不同角度的扇形空間。進一步推薦地，所述豎直擋板上設置有一組通孔。推薦地，所述一組平放花籃中包括多個具有不同半徑圓形底盤的平放花籃。推薦地，所述提把的上端帶有掛鉤。相比現有技術。河北半導體晶圓歡迎選購

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