電光源的頻閃與頻閃效應(yīng)概述電光源的頻閃與頻閃效應(yīng)，給我們的工作和生活帶來了嚴(yán)重的危害。然而，我們在應(yīng)用電光源時(shí)，并沒有引起應(yīng)有的重視和正確的認(rèn)識。頻閃與頻閃效應(yīng)是針對電光源，光通量的波動深度和由此產(chǎn)生的危害效應(yīng)（稱為頻閃效應(yīng)）大小的兩個(gè)互為因果的物理量。頻閃是指電光源光通量波動的深度。光通量波動深度越大，頻閃越嚴(yán)重。電光源光通量波動深度大小，與電光源的技術(shù)品質(zhì)有直接關(guān)系。電光源光通量波動深度大小，通常用百分?jǐn)?shù)來描述。現(xiàn)階段，己廣泛應(yīng)用的電光源中，如電感鎮(zhèn)流器驅(qū)動的T8（26mm）直管日光燈、高壓汞燈、高壓鈉燈、金屬鹵化物燈光通量的波動深度高達(dá)55％-65％。而市場上部分技術(shù)品質(zhì)較差的節(jié)能燈，仍然存在高達(dá)20%－30％的頻閃深度。頻閃效應(yīng)是指電光源由光通量的波動而產(chǎn)生的危害效應(yīng)，即頻閃產(chǎn)生的危害效應(yīng)。電光源頻閃越嚴(yán)重，頻閃效應(yīng)危害越嚴(yán)重。直觀鑒別與*價(jià)節(jié)能燈頻閃與頻閃效應(yīng)的工具，通常采用頻閃檢測**陀螺。鑒別與*價(jià)節(jié)能燈頻閃與頻閃效應(yīng)，是以太陽光為標(biāo)準(zhǔn)的。太陽光的光通量是平滑穩(wěn)定的，沒有頻閃與頻閃效應(yīng)危害。節(jié)能燈的光通量平滑穩(wěn)定度，越接近太陽光，節(jié)能燈的頻閃深度越小，頻閃效應(yīng)危害越小。光源頻閃測試儀在教室照明檢測中廣泛應(yīng)用。LED光源頻閃測試儀設(shè)計(jì)

LFM-5000光源頻閃測試系統(tǒng)在電子設(shè)備和照明產(chǎn)品的生產(chǎn)過程中，光源頻閃測試系統(tǒng)被廣泛應(yīng)用。對于電子產(chǎn)品制造商和照明設(shè)備生產(chǎn)商來講，這種系統(tǒng)能夠幫助他們確保產(chǎn)品的品質(zhì)，避免頻閃問題，確保產(chǎn)品符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí)，它也可以幫助用戶了解和識別光源的質(zhì)量，并進(jìn)行選擇。此外，光源頻閃測試系統(tǒng)還可用于日常家居測試。如，檢測燈具、電視機(jī)、電腦等的頻率閃爍情況，避免光源頻繁閃爍對健康的影響。另外，它也適用于醫(yī)療、環(huán)保、交通等領(lǐng)域的頻閃檢測。總之，光源頻閃測試系統(tǒng)是一種介于科技和實(shí)用性之間的檢測設(shè)備，應(yīng)用范圍***，具有重要意義。它不僅能夠幫助制造商保證產(chǎn)品質(zhì)量，還能為消費(fèi)者提供保障，讓人們更加健康、舒適地使用電子產(chǎn)品和照明產(chǎn)品。衢州光源頻閃測試儀專業(yè)設(shè)備光源頻閃測試儀可檢測頻閃對視覺反應(yīng)的影響。

LFM5000對LED光源頻閃的測量。隨著LED燈具***被使用，頻閃問題逐漸成為影響視覺舒適度乃至視覺健康的關(guān)鍵指標(biāo)。由于大多數(shù)LED是通過PWM方式調(diào)光，其調(diào)制頻率往往從幾百Hz到幾十kHz之間，容易產(chǎn)生不同程度的頻閃現(xiàn)象。LFM5000頻閃測試儀根據(jù)當(dāng)今國際上新的測試標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行設(shè)計(jì)，采用高速功率計(jì)對光信號進(jìn)行采樣，通過全新的軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和處理，能夠滿足研發(fā)到生產(chǎn)，不同類型的測試需求。系統(tǒng)配置的探測器響應(yīng)近似CIE1931V(λ)曲線，配合高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)對光度量的快速測量。獨(dú)有的信號處理算法使得系統(tǒng)具有極強(qiáng)的抗干擾能力，能夠快速而精細(xì)的找出被測光源的頻閃頻率等一系列指標(biāo)。該系統(tǒng)緊湊，牢固，方便使用。系統(tǒng)經(jīng)過多重驗(yàn)證，測量結(jié)果真實(shí)可靠。軟件界面操作簡單，能夠通過一次點(diǎn)擊測量所有相關(guān)參數(shù)，能夠方便和翊明光學(xué)其他光測量系統(tǒng)或其他產(chǎn)品進(jìn)行系統(tǒng)集成。

頻閃對于LED照明至關(guān)重要，各國各組織紛紛對此做研究，并定義相對應(yīng)的規(guī)范與標(biāo)準(zhǔn)，如美國能源之星計(jì)劃、IEC、ANSI、CIE等等組織均有相關(guān)于頻閃的規(guī)范與研究，例如對于明暗變化的振幅大小，ANSI/ IES便定義了兩個(gè)指標(biāo)來描述，分別為Percent Flicker與Flicker Index，其相關(guān)定義如圖五所示。Percent Flicker由時(shí)域上光波形的振幅大小定義，F(xiàn)licker Index則從能量觀點(diǎn)來作為定義。針對頻率部分，雖然有研究顯示可能約需高于160Hz以上方能無生理危害，但因這部份尚無結(jié)論，并考量現(xiàn)有技術(shù)與成本，各國規(guī)范大致是以電力系統(tǒng)頻率的二次諧波作為規(guī)范，如美國電力為60Hz，能源之星便要求LED照明不能有低于120Hz的頻閃，但相信隨著相關(guān)研究陸續(xù)有成果后，對于可允許的頻閃頻率規(guī)范可能也會有相對應(yīng)之修改。光源頻閃測試儀是檢測照明質(zhì)量的重要工具。

行業(yè)內(nèi)關(guān)于頻閃測量的方法還不統(tǒng)一，主要有IEEE、IEC-Pst、加州CEC、ASSIST和CIE標(biāo)準(zhǔn)等，每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的測量方法和量化標(biāo)準(zhǔn)也不盡相同，但結(jié)果都可以作為衡量LED燈具頻閃情況的重要指標(biāo)，可以由用戶來決定采取哪種標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行測量。IEEE Std 1789標(biāo)準(zhǔn)量化一個(gè)開關(guān)周期內(nèi)的頻閃百分比，即比較大光輸出與**小光輸出之差除以比較大光輸出與**小光輸出之和。以及頻閃指數(shù)，即一個(gè)開關(guān)周期內(nèi)超出平均光輸出的量除以全部光輸出。IEC-Pst測量方法是參考IECTR61547-2015基于IEC61000-3-3和IEC61000-4-15等標(biāo)準(zhǔn)提出的應(yīng)用于照明產(chǎn)品閃爍評價(jià)。Pst=1表示50%的實(shí)驗(yàn)者(概率)剛好感覺到閃爍。加州CEC Title 24標(biāo)準(zhǔn)中的JA10章節(jié)專門對可調(diào)光產(chǎn)品的頻閃提出要求，主要通過量化照明系統(tǒng)的光波動，并且用低于某一截止頻率的調(diào)制深度百分比來表征頻閃程度。ASSIST測量是由美國照明研究中心(LCR)領(lǐng)導(dǎo)的固態(tài)照明系統(tǒng)和技術(shù)聯(lián)盟(ASSIST)所推薦的，針對可見頻閃的評價(jià)和頻閃效應(yīng)的評價(jià)。SVM為CIE推薦的量化頻閃效應(yīng)的參數(shù)，參考CIEIN:006-2016標(biāo)準(zhǔn)，并得到了LightingEurope和NEMA的推薦。SVM<1，頻閃不可見；SVM>1，頻閃可見。光源頻閃測試儀專業(yè)生產(chǎn)廠家。。徐州光源頻閃測試儀廠家

NM2=1表示頻閃低風(fēng)險(xiǎn)等級限值，若NM2>1則表示光源為頻閃低風(fēng)險(xiǎn)等級。LED光源頻閃測試儀設(shè)計(jì)

    國際照明委員會發(fā)布了技術(shù)備注文件CIE TN 006：2016 Visual Aspects of Time -Modulated Lighting Systems-Definitions and Measurement Models (時(shí)間調(diào)制的照明系統(tǒng)的視覺方面——定義及測量模型)。此文件由CIE TC1-83技術(shù)委員會起草，反映了當(dāng)前CIE在這一領(lǐng)域的知識和經(jīng)驗(yàn)。作為技術(shù)備注，此文件為資料性文件，并非強(qiáng)制執(zhí)行。   固態(tài)照明光源的響應(yīng)速度非常快，輸入電流的波動在幾個(gè)納秒內(nèi)就可反映到其光輸出波動上，因而固態(tài)照明可實(shí)現(xiàn)靈活多變的光色調(diào)控，并迅速掀起照明應(yīng)用的變革。但是，由光源的驅(qū)動器、調(diào)光器引起的電調(diào)制波動引起的光輸出時(shí)間調(diào)制，會使觀察者對環(huán)境的視覺感知發(fā)生變化，這種感知變化往往是不期望發(fā)生的，甚至是有害的，它會嚴(yán)重影響光品質(zhì);此外，光波動還可能導(dǎo)致視覺性能的下降，引起視覺疲勞甚至如癲癇、偏***等嚴(yán)重的健康問題。LED光源頻閃測試儀設(shè)計(jì)