SKYSCAN1273的大樣品室能容納的樣品,比通過單個探測器視場所能掃描的范圍還要大。通過分段式掃描和探測器偏置掃描,SKYSCAN1273可以掃描直徑達到250mm和長度達到250mm的大型物體。3D.SUITE可自動和無縫地將超大尺寸的圖像拼接到一起。S...
各向異性擴散濾波新版中增加的一些特性,其中之一就是強大高效的濾波工具“AnisotropicDiffusion,各向異性擴散”。”各項異性”,顧名思義,就是在進行平滑處理時各個方向并不相同,只就垂直于邊界的區域進行平滑處理,保持邊界不會變的模糊。“擴散”意味著...
MicroCT作為樣品三維結構的較好(極大程度保證完整性的)成像工具,可以用于任意形狀樣品的掃描。如下圖中的巖石,布魯克Bruker臺式x射線三維顯微鏡呈現出的CT圖像具有復雜的邊界形狀,x射線顯微技術在進行定量分析(如孔隙率的計算)時,需要選擇一個具有代表性...
由于具有出色的適應能力,*使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同...
介孔分子篩SBA-15結構分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結構,具有更大的孔徑、更厚的孔壁和更高的孔容,而且具有更好的水熱穩定性,有利于它在溫度較高、體系中有水的反應中應用,因此在催化、分離、生物及納米材料等領域有應用前景。SBA-15結...
D8DISCOVER應用范圍材料研究殘余應力分析、織構和極圖、微區X射線衍射、廣角X射線散射(WAXS)XRD可研究材料的結構和物理特性,是重要的材料研究工具之一。D8DISCOVER就是布魯克推出的、用于材料研究的旗艦款XRD儀器。D8DISCOVER配備了...
超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節點技術的發展,薄膜厚度越來越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術節點的a20范圍內。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,XRR是的測量技術...
D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,是面向多用途、多用戶實驗室的X射線平臺。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求,包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延):典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(PDF)分析小角X射線散...
D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,帶有諸多前沿技術組件。它專為在環境條件下和非環境條件下,對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結構表征而設計。應用范圍:1.定性相分析和定量相分析、結構測定和精修、微應變和微晶尺寸分析2.X射線反射...
石油和天然氣D2PHASER是一種移動式的臺式X射線衍射儀(XRD),可用于鑒定地質樣品中的塊狀和黏土礦物。此外,X射線衍射(XRD)是分析頁巖層所必不可少的技術,可進行礦物學定性和定量表征。X射線衍射在石化業:使用D2PHASER識別膨脹性粘土(PDF)X射...
EIGER2R具有多模式功能(0D-1D-2D、快照和掃描模式),覆蓋了從粉末研究到材料研究的多種測量方法。EIGER2并非傳統意義上的萬金油,而是所有分析應用領域的專業用戶。其可實現無吸收測量的動態范圍、用于超快粉末測量和快速倒易空間掃描的1D大尺寸以及超過...
對分布函數(PDF)分析是一種分析技術,它基于Bragg以及漫散射(“總散射”),提供無序材料的結構信息。其中,您可以通過Bragg衍射峰,了解材料的平均晶體結構的信息(即長程有序),通過漫散射,表征其局部結構(即短程有序)。就分析速度、數據質量以及對非晶、弱...
由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時...
薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到...
二氧化鋯多晶型分析引言二氧化鋯化學性質不活潑,且具有高熔點、高電阻率、高折射率和低熱膨脹系數等獨特的物理化學性質,使它成為重要的耐高溫材料、陶瓷絕緣材料和陶瓷遮光劑。其結構主要有三種晶型:單斜相、四方相以及立方相。不同晶體結構對應的物理化學性質有較大區別,X射...
薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析,從非晶和...
§Nrecon重建軟件,包含GPU加速軟件使用修正的Feldkamp多層體積(錐束)重建算法。單層或選定/全體積在一個掃描后也能重建。全橫截面尺寸(全圖模式),部分重建模式,大于視場的局部細節重建。自動位移校正,環狀物校正,可調平滑,射束硬化校正,探測器死像素...
無損顯微CT3D-XRM不需要進行切片,染色或噴金等樣品處理。顯微CT3D-XRM的樣品可重復測試,進行縱向比對。高襯度圖像聚丙烯這類主要由C,H等輕元素組成的物質,對X射線吸收非常弱,想獲得足夠高的對比度,①要求X射線探測器的靈敏程度高,可以識別出微小的信號...
RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上。常規的XRD測試,X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米,這遠遠大于薄膜的厚度,導致薄膜的信號會受到襯底的...
多層膜XRR引言X射線反射率(XRR:X-RayReflectivity)單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度、膜厚、粗糙度等結構參數的有效無損檢測手段。由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀...
粉煤灰中晶態礦相及非晶相定量分析引言粉煤灰,是從煤燃燒后的煙氣中收捕下來的細灰,粉煤灰是燃煤電廠排出的主要固體廢物。粉煤灰是我國當前排量較大的工業廢渣之一。大量的粉煤灰不加處理,就會產生揚塵,污染大氣;若排入水系會造成河流淤塞,而其中的有毒化學物質還會對人體和...
特點介紹SkyScan1272是一臺具有革新意義的高分辨三維X射線顯微成像系統統。單次掃描比較高可獲得2000張,每張大小為146M(12069x12069像素)的超清無損切片,用于之后高分辨三維重建。通過先進的相襯增強技術,SkyScan1272對樣品的細節...
藥物:從藥物發現到藥物生產,D8D為藥品的整個生命周期提供支持,其中包括結構測定、候選材料鑒別、配方定量和非環境穩定性測試。地質學:D8D是地質構造研究的理想之選。借助μXRD,哪怕是對小的包裹體進行定性相分析和結構測定也不在話下。金屬:在常見的金屬樣品檢測技...
SKYSCAN1272SampleDimensionsMax.samplesizeforhighestresolution(0.4μm):2mm(insideFOV)/5mm(truncated)Largestrepresentativesamplediame
SKYSCAN2214研究地質樣品——無論是地下深處的巖心樣品還是地面之上的巖石,能為探索我們所在世界的形成過程提供豐富的信息。分析時通常需要破壞原始樣品,消除內部結構的重要起源。XRM可在無需切片的情況下分析樣品,因而能夠更快地得到結果,也使樣品未來能夠繼續...
嬰兒爽身粉中石棉的定量分析引言含有滑石粉成分的化妝品常見的有各種潤膚粉、美容粉、爽身粉等。因滑石粉具有阻隔紅外線的作用,能增強這類化妝品的防曬和抗紅外線的性能。所以,在日常生活中使用。由于石棉是滑石的伴生礦物,滑石粉中可能含有石棉。石棉纖維被人體吸入到肺會引起...
制劑中微量API的晶型檢測引言藥物制劑生產過程中除需添加各種輔料外,往往還需要經過溶解、研磨、干燥(溫度)、壓片等工藝過程,在此過程中API的晶型有可能發生改變,進而可能影響到藥物的療效。國內外FDA規定多晶型藥物在研制、生產、貯存過程中必須保證其晶型的一致性...
制造業:1.在鑄造、機械加工和增材制造過程中,檢測下次、分析孔隙度,即使是封閉在內部的結構也可以檢測2.對增材制造過程中的再利用的金屬粉末進行質控。封裝:1.檢測先進的醫療工具2.檢測藥品包裝3.檢測復雜的機電裝配。地質學、石油天然氣:1.大尺寸地質巖心分析2...
各向異性擴散濾波新版中增加的一些特性,其中之一就是強大高效的濾波工具“AnisotropicDiffusion,各向異性擴散”。”各項異性”,顧名思義,就是在進行平滑處理時各個方向并不相同,只就垂直于邊界的區域進行平滑處理,保持邊界不會變的模糊。“擴散”意味著...