在光學性能方面,應力會導致鏡片的表面變形、折射率發(fā)生變化等,從而影響鏡片的成像質(zhì)量。在機械性能方面應力會降低鏡片的機械強度和穩(wěn)定性,應力過大可能導致鏡片的破裂或者疲勞損傷,在熱穩(wěn)定性方面應力會影響鏡片的熱穩(wěn)定性,應力過大可能導致鏡片在高低溫環(huán)境下的性能下降。應...
相位差測量在光學薄膜特性分析中是不可或缺的。多層介質(zhì)膜的相位累積效應直接影響其光學性能,通過測量透射或反射光的相位差,可以評估膜系的均勻性和光學常數(shù)。這種方法特別適用于寬波段消色差波片的研發(fā),能夠驗證不同波長下的相位延遲特性。在制備抗反射鍍膜時,實時相位監(jiān)測確...
手機玻璃蓋板在生產(chǎn)過程中會產(chǎn)生不同程度的內(nèi)部應力,這些應力主要來源于切割、研磨、鋼化和貼合等工藝環(huán)節(jié)。殘余應力的大小和分布直接影響蓋板的機械強度和光學性能,不當?shù)膽Ψ植伎赡軐е庐a(chǎn)品在使用中出現(xiàn)碎裂、翹曲或光學畸變等問題。為了確保產(chǎn)品質(zhì)量,制造商通常采用雙折射...
快軸慢軸角度測量對波片類光學元件的質(zhì)量控制至關(guān)重要。相位差測量儀通過旋轉(zhuǎn)補償器法,可以精確確定雙折射材料的快慢軸方位。這種測試對VR設(shè)備中使用的1/4波片尤為重要,角度測量精度達0.05度。系統(tǒng)配備多波長光源,可驗證波片在不同波段的工作性能。在聚合物延遲膜的檢...
相位差測量儀在AR/VR光學模組檢測中發(fā)揮著關(guān)鍵作用,特別是在Pancake光學系統(tǒng)的質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。通過精確測量多層折疊光路中的相位差分布,可以評估光學模組的成像質(zhì)量和光能利用率。現(xiàn)代測試系統(tǒng)采用多波長干涉技術(shù),能夠同時檢測可見光波段內(nèi)不同波長下的相位差特性,...
光學特性諸如透過率、偏振度、貼合角和吸收軸等參數(shù),直接決定了偏光材料在顯示中的效果。因此控制各項參數(shù),是確保終端產(chǎn)品具備高效光學性能的重中之重。 PLM系列是由千宇光學精心設(shè)計研發(fā)及生產(chǎn)的高精度相位差軸角度測量設(shè)備,滿足QC及研發(fā)測試需求的同時,可根...
光程差測量是相位差測量儀的另一個重要的應用領(lǐng)域?;谶~克爾遜干涉原理的測量系統(tǒng)可以檢測光學元件表面形貌引起的微小光程差異,分辨率可達納米級。這種方法廣泛應用于光學鏡面加工的質(zhì)量控制,如望遠鏡主鏡的面形檢測。在薄膜厚度測量中,通過分析反射光與入射光之間的光程差,...
在光學元件制造領(lǐng)域,應力檢測具有特殊的重要性。光學玻璃在切割、研磨和鍍膜過程中會產(chǎn)生殘余應力,這些應力會導致光學性能下降甚至元件破裂。專業(yè)的應力檢測儀能夠精確測量這些微觀應力,通常采用激光干涉或數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù),分辨率可達納米級別。通過定期檢測,工藝工程師可以...
相位差測量儀在吸收軸角度測試中具有關(guān)鍵作用,主要用于液晶顯示器和偏光片的質(zhì)量控制。通過精確測量吸收材料的各向異性特性,可以評估偏光片對特定偏振方向光的吸收效率?,F(xiàn)代測試系統(tǒng)采用旋轉(zhuǎn)樣品臺配合高靈敏度光電探測器,測量精度可達0.01度。這種方法不僅能確定吸收軸的...
目視法應力儀的校準和維護對其檢測結(jié)果的可靠性至關(guān)重要。由于儀器的精度依賴于光學組件的對齊和偏振片的性能,定期校準是保證測量準確性的關(guān)鍵。校準通常使用標準應力片或已知應力分布的樣品,通過調(diào)整光源強度和偏振角度,確保儀器顯示的條紋與標準值一致。此外,環(huán)境因素如溫度...
透鏡內(nèi)應力的精確檢測需要綜合運用多種測量技術(shù)。對于透明光學材料,偏振光應力儀可直觀顯示應力分布情況,配合定量分析軟件能獲得具體的應力數(shù)值。當需要更高空間分辨率時,可采用數(shù)字全息干涉法,其測量精度可達0.1nm/cm。對于不透明或鍍膜透鏡,則適用X射線衍射法,能...
斯托克斯測試方法通過測量光的四個斯托克斯參數(shù),可以完整描述光束的偏振狀態(tài)。相位差信息隱含在斯托克斯參數(shù)的相互關(guān)系之中,反映了光學系統(tǒng)的偏振調(diào)制特性。這種測試對偏振相關(guān)器件的性能評估尤為重要,如液晶相位調(diào)制器、光纖偏振控制器等。當前的實時斯托克斯測量系統(tǒng)采用高速...
成像應力檢測設(shè)備通過將應力分布可視化,極大提升了檢測效率和結(jié)果判讀的直觀性。這類設(shè)備通?;跀?shù)字圖像相關(guān)技術(shù)或光彈性原理,配備高分辨率工業(yè)相機和智能圖像處理系統(tǒng)。在玻璃制品檢測中,設(shè)備能夠在數(shù)秒內(nèi)完成整個產(chǎn)品的掃描,通過彩色應力云圖直觀顯示應力分布情況?,F(xiàn)代成...
成像式應力儀在玻璃制品內(nèi)應力檢測中展現(xiàn)出獨特的技術(shù)優(yōu)勢。這類儀器基于光彈性原理,通過分析偏振光通過玻璃時產(chǎn)生的雙折射現(xiàn)象,能夠精確測量出材料內(nèi)部的應力分布?,F(xiàn)代成像式應力儀采用高靈敏度CCD傳感器和精密光學系統(tǒng),可檢測到低至2nm/cm的微小相位差,完全滿足普...
光學材料的應力主要來自兩個方面:內(nèi)部應力和外部應力。內(nèi)部應力是由材料的制備過程和結(jié)構(gòu)導致,如晶體材料的晶格缺陷、材料的熱膨脹系數(shù)不匹配等。外部應力則是來源于外界環(huán)境的作用,如機械壓力、溫度變化等。千宇光學自主研發(fā)的成像式內(nèi)應力測試儀PRM-90S,高精高速,采...
在光學鏡片制造領(lǐng)域,成像式應力儀發(fā)揮著不可替代的質(zhì)量控制作用。光學玻璃對內(nèi)部應力極為敏感,微小的應力不均勻都會導致光路偏移和成像質(zhì)量下降。專業(yè)的光學鏡片應力檢測系統(tǒng)采用多波長測量技術(shù),能夠有效區(qū)分材料固有雙折射和應力雙折射,確保測量結(jié)果的準確性。高精度型號的相...
應力分布測試技術(shù)是評估材料或構(gòu)件性能的重要手段,能夠反映受力狀態(tài)下的應力傳遞規(guī)律?,F(xiàn)代應力分布測試系統(tǒng)通常結(jié)合多種傳感技術(shù),如光纖光柵陣列、電阻應變片網(wǎng)絡(luò)或數(shù)字圖像相關(guān)方法,實現(xiàn)對復雜應力場的精確測量。在復合材料構(gòu)件測試中,應力分布測試可以清晰顯示纖維與基體之...
在光學薄膜的研發(fā)與檢測中,相位差測量儀發(fā)揮著不可替代的作用。多層介質(zhì)膜在設(shè)計和制備過程中會產(chǎn)生復雜的相位累積效應,這直接影響著增透膜、分光膜等光學元件的性能指標。通過搭建基于邁克爾遜干涉儀原理的相位差測量系統(tǒng),研究人員可以實時監(jiān)測鍍膜過程中各層薄膜的相位變化,...
相位差測量在光學薄膜特性分析中是不可或缺的。多層介質(zhì)膜的相位累積效應直接影響其光學性能,通過測量透射或反射光的相位差,可以評估膜系的均勻性和光學常數(shù)。這種方法特別適用于寬波段消色差波片的研發(fā),能夠驗證不同波長下的相位延遲特性。在制備抗反射鍍膜時,實時相位監(jiān)測確...
Rth相位差測試儀專門用于測量光學材料在厚度方向的相位延遲特性,可精確表征材料的雙折射率分布。該系統(tǒng)基于傾斜入射橢偏技術(shù),通過改變?nèi)肷浣嵌?,獲取樣品在不同深度下的相位差數(shù)據(jù)。在聚合物薄膜檢測中,Rth測試儀能夠評估拉伸工藝導致的分子取向差異,測量范圍可達±30...
玻璃制品內(nèi)應力的精確檢測是確保產(chǎn)品質(zhì)量和安全性的重要環(huán)節(jié)。在玻璃成型、退火和加工過程中,由于溫度梯度和機械作用,會產(chǎn)生不同程度的內(nèi)應力。這些應力如果超過允許值,會導致產(chǎn)品在運輸、使用過程中自爆或破裂。專業(yè)的玻璃應力檢測主要采用偏光應力儀,基于應力雙折射原理進行...
成像式應力儀的未來發(fā)展將更加注重多功能集成和智能化應用。新一代設(shè)備開始融合多種檢測模式,如將應力檢測與尺寸測量、表面缺陷檢測等功能集成于一體。部分創(chuàng)新產(chǎn)品引入增強現(xiàn)實(AR)技術(shù),通過頭戴顯示器將應力分布直接疊加在真實產(chǎn)品上,極大方便了現(xiàn)場檢測工作。在數(shù)據(jù)分析...
透鏡內(nèi)應力的精確檢測需要綜合運用多種測量技術(shù)。對于透明光學材料,偏振光應力儀可直觀顯示應力分布情況,配合定量分析軟件能獲得具體的應力數(shù)值。當需要更高空間分辨率時,可采用數(shù)字全息干涉法,其測量精度可達0.1nm/cm。對于不透明或鍍膜透鏡,則適用X射線衍射法,能...
光學晶體材料的應力檢測對成像式應力儀提出了更高要求。這類材料如氟化鈣、硅等,在激光、紅外等特殊光學系統(tǒng)中應用普遍。由于其晶體結(jié)構(gòu)的各向異性,常規(guī)應力測量方法往往難以適用。特制成像式應力儀采用可調(diào)諧激光光源和多向偏振檢測技術(shù),能夠準確解析晶體材料內(nèi)部的復雜應力狀...
定 性 檢 測 之測量方法,565nm光程差的全波片翻入光路中,視場顏色是紫紅色(使視域中出現(xiàn)彩色干涉色,提高肉眼對干涉色的分辯能力,將試件置入儀器偏振場中,人眼通過目鏡筒觀察被測試件表面的干涉色,可定性地判斷退火的質(zhì)量, 如果被測試件放入光路后,視場的顏色基...
成像應力檢測設(shè)備通過將應力分布可視化,極大提升了檢測效率和結(jié)果判讀的直觀性。這類設(shè)備通?;诠鈴椥曰驍?shù)字圖像相關(guān)技術(shù),能夠?qū)崟r捕捉樣品表面的應力分布情況。先進的成像應力檢測系統(tǒng)采用高分辨率CMOS傳感器和多光譜光源,結(jié)合智能圖像處理算法,可以自動識別應力集中區(qū)...
透鏡內(nèi)應力是影響光學成像質(zhì)量的關(guān)鍵因素,主要來源于材料成型、加工和裝配過程中的各種機械和熱作用。在注塑成型工藝中,熔融塑料在模具內(nèi)冷卻固化時,由于溫度梯度和收縮不均會產(chǎn)生明顯的殘余應力。這種應力會導致透鏡產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象,進而引起成像畸變和分辨率下降。通過偏振光...
玻璃制品內(nèi)應力的精確檢測是確保產(chǎn)品質(zhì)量和安全性的重要環(huán)節(jié)。在玻璃成型、退火和加工過程中,由于溫度梯度和機械作用,會產(chǎn)生不同程度的內(nèi)應力。這些應力如果超過允許值,會導致產(chǎn)品在運輸、使用過程中自爆或破裂。專業(yè)的玻璃應力檢測主要采用偏光應力儀,基于應力雙折射原理進行...
偏光度測量是評估AR/VR光學系統(tǒng)成像質(zhì)量的重要指標。相位差測量儀采用穆勒矩陣橢偏技術(shù),可以分析光學模組的偏振特性。這種測試對Pancake光學系統(tǒng)中的反射偏光膜尤為重要,測量范圍覆蓋380-780nm可見光譜。系統(tǒng)通過32點法測量,確保數(shù)據(jù)準確可靠。在光波導...
應力雙折射測量技術(shù)是基于光彈性原理發(fā)展起來的一種應力分析方法,特別適用于透明或半透明材料的應力檢測。當偏振光通過存在應力的材料時,會產(chǎn)生雙折射現(xiàn)象,通過測量光程差的變化即可計算出應力大小。這種測量方法具有非接觸、高靈敏度的特點,被廣泛應用于光學玻璃、液晶面板等...