珠寶和古籍檢測(cè)領(lǐng)域ProSp 系統(tǒng)通過(guò)測(cè)量樣品的反射、熒光或拉曼光譜，進(jìn)行種類(lèi)識(shí)別和真假鑒定。這使得系統(tǒng)能夠處理珠寶、古籍等樣品，幫助鑒定其成分和真?zhèn)巍?. 半導(dǎo)體發(fā)光二極管ProSp 系統(tǒng)能夠測(cè)量半導(dǎo)體發(fā)光二極管的電致發(fā)光量子效率，適用于 OLED、QLED 和 PeLED 等發(fā)光器件。這使得系統(tǒng)能夠處理半導(dǎo)體材料，幫助研究人員評(píng)估其發(fā)光性能。7. 微納結(jié)構(gòu)材料和器件ProSp 系統(tǒng)能夠測(cè)量微納結(jié)構(gòu)材料的反射率、透射率和散射特性，適用于薄膜材料、濾光片和表面等離子體耦合共振器件。這使得系統(tǒng)能夠處理微納結(jié)構(gòu)材料，幫助研究人員分析其光學(xué)特性。8. 發(fā)光材料和器件ProSp 系統(tǒng)能夠測(cè)量發(fā)光材料和器件的光譜特性，適用于 LED 光源和液晶顯示材料。這使得系統(tǒng)能夠處理發(fā)光材料，幫助研究人員評(píng)估其發(fā)光效率和光譜分布。總結(jié)ProSp 系統(tǒng)憑借其多功能性和高靈敏度，能夠處理多種類(lèi)型的材料，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)和工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域。其在微流控、農(nóng)業(yè)、激光材料、光子晶體、珠寶檢測(cè)、半導(dǎo)體發(fā)光二極管、微納結(jié)構(gòu)材料和發(fā)光材料等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，展示了其強(qiáng)大的性能和靈活性。材料研究領(lǐng)域：通過(guò)分析材料微觀區(qū)域的光譜，研究其特性。沈陽(yáng)顯微Mapping光譜專(zhuān)譜光電網(wǎng)站

對(duì)于傳統(tǒng)積分球式的光致發(fā)光及電致發(fā)光量子效率測(cè)試系統(tǒng)，我們使用積分球收集電致發(fā)光器件的發(fā)射光，光譜儀分析其強(qiáng)度，根據(jù)不同波長(zhǎng)計(jì)算其光子數(shù)，根據(jù)發(fā)射光子數(shù)與經(jīng)過(guò)器件的電流載流子數(shù)的比值，我們可以計(jì)算出樣品的電致發(fā)光量子效率 EQE 。因此，針對(duì)于不同發(fā)光強(qiáng)度及樣品區(qū)域的需求， 我們開(kāi)發(fā)了這套 ProSp-ELQY 電致發(fā)光量子效率測(cè)試系統(tǒng)。ProSp-ELQY電致發(fā)光量子效率測(cè)試系統(tǒng)可變光強(qiáng)量子效率測(cè)試系統(tǒng)以模塊化思路設(shè)計(jì)，適合手套箱內(nèi)使用，應(yīng)對(duì)無(wú)論是OLED，QLED，PeLED發(fā)光器件，可在器件制備的全流程中進(jìn)行器件測(cè)試，測(cè)試系統(tǒng)經(jīng)過(guò)可溯源的光源進(jìn)行定標(biāo)，能夠進(jìn)行準(zhǔn)確的***量子產(chǎn)率，色度，和光譜測(cè)量。湖北結(jié)構(gòu)色器件專(zhuān)譜光電測(cè)量系統(tǒng)熒光光譜范圍覆蓋300-2500nm，拉曼光譜波長(zhǎng)范圍覆蓋250-2500nm，反射光譜范圍覆蓋350-2500nm。

專(zhuān)譜量子效率測(cè)試系統(tǒng)是一種用于測(cè)量光電器件和材料量子效率的高性能設(shè)備。它廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能電池、光電探測(cè)器、LED、光電器件的研發(fā)和質(zhì)量控制。以下是其主要特點(diǎn)和功能：測(cè)量方法：外量子效率（EQE）：衡量光電器件從外部光源接收光子并轉(zhuǎn)換為電子的效率，包括光吸收、電子遷移、表面反射等多個(gè)因素。內(nèi)量子效率（IQE）：*考慮光電器件內(nèi)部的光電轉(zhuǎn)換效率，排除了因光的反射或透射而造成的損失。光譜范圍：250-2500 nm。高靈敏度探測(cè)器：采用高靈敏度的光電二極管或光電倍增管。自動(dòng)化控制：集成自動(dòng)化控制功能，能夠進(jìn)行大規(guī)模、高通量的測(cè)試。多種測(cè)量功能：支持量子效率、光譜響應(yīng)、IV特性等多種測(cè)量。

生物光學(xué)和量子光學(xué)專(zhuān)譜光電在生物光學(xué)和量子光學(xué)領(lǐng)域也有豐富的經(jīng)驗(yàn)，提供多種解決方案，包括：共聚焦激光掃描顯微系統(tǒng)：如 ProSp-Con50i，用于高分辨率成像。SERS 基底：用于表面增強(qiáng)拉曼光譜測(cè)量，適用于痕量分析和醫(yī)學(xué)診斷。4. 光電檢測(cè)設(shè)備專(zhuān)譜光電還提供多種光電檢測(cè)設(shè)備，包括：功率計(jì)和能量計(jì)：用于測(cè)量光功率和能量。光束分析儀：用于分析光束質(zhì)量。光電探測(cè)器：用于高靈敏度光檢測(cè)。5. 實(shí)驗(yàn)樣品專(zhuān)譜光電提供多種實(shí)驗(yàn)樣品，包括：熒光粒子：用于生物醫(yī)學(xué)研究。單粒子：適用于科研領(lǐng)域。功能化顆粒：用于多種實(shí)驗(yàn)應(yīng)用。總結(jié)專(zhuān)譜光電的產(chǎn)品線涵蓋了從光譜儀器到激光器系統(tǒng)，再到光電檢測(cè)設(shè)備和實(shí)驗(yàn)樣品的多個(gè)領(lǐng)域。其產(chǎn)品在科研、工業(yè)和環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用，為用戶(hù)提供了***的解決方案。SERS 基底：用于表面增強(qiáng)拉曼光譜測(cè)量，適用于痕量分析和醫(yī)學(xué)診斷。

ProSp 角分辨測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量參數(shù)ProSp 角分辨測(cè)試系統(tǒng)（ProSp-RTM-UV/VIS）能夠自動(dòng)測(cè)量多種參數(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、微納光學(xué)、生物技術(shù)和礦物分析等領(lǐng)域。以下是其自動(dòng)測(cè)量的參數(shù)和功能：自動(dòng)測(cè)量參數(shù)反射光譜：上反射：測(cè)量從樣品表面反射的光譜。下反射：測(cè)量從樣品背面反射的光譜。透射光譜：測(cè)量光通過(guò)樣品后的透射光譜。輻射光譜：測(cè)量樣品發(fā)出的輻射光譜。散射光譜：測(cè)量樣品散射的光譜。熒光光譜：測(cè)量樣品在激發(fā)光作用下發(fā)出的熒光光譜。角度依賴(lài)性參數(shù)：入射角：系統(tǒng)可以自動(dòng)調(diào)整入射光的角度，范圍為 0-270°。接收角：系統(tǒng)可以自動(dòng)調(diào)整接收光的角度，范圍為 0-360°。光子晶體領(lǐng)域：測(cè)量微小區(qū)域的顏色值或較大區(qū)域的顏色分布。安徽PROSP micro40專(zhuān)譜光電廠商

405nm單模光纖耦合激光器 主要特點(diǎn)：體積小，高穩(wěn)定性，輸出功率連續(xù)可調(diào)節(jié)，耦合效率高，光纖可拆卸更換。沈陽(yáng)顯微Mapping光譜專(zhuān)譜光電網(wǎng)站

專(zhuān)譜LIBS（激光誘導(dǎo)擊穿光譜）系統(tǒng)是一種先進(jìn)的光譜分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料成分分析和元素檢測(cè)。以下是關(guān)于專(zhuān)譜LIBS系統(tǒng)的詳細(xì)介紹，包括其技術(shù)原理、應(yīng)用領(lǐng)域和系統(tǒng)特點(diǎn)：技術(shù)原理LIBS技術(shù)通過(guò)高能量激光脈沖聚焦于樣品表面，使樣品表面的少量材料被燒蝕并激發(fā)成等離子體。等離子體中的原子和離子在冷卻過(guò)程中會(huì)發(fā)射特征光譜，通過(guò)光譜儀和檢測(cè)器對(duì)這些光譜進(jìn)行分析，可以確定樣品的元素組成。LIBS技術(shù)具有以下特點(diǎn)：無(wú)需樣品制備：幾乎無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行預(yù)處理，適用于固體、液體、氣體等多種形態(tài)的樣品。快速分析：檢測(cè)速度快，可實(shí)現(xiàn)原位檢測(cè)。多元素分析：能夠同時(shí)檢測(cè)多種元素，包括輕元素（如鋰、硼）和重元素。高空間分辨率：能夠?qū)腆w異質(zhì)材料進(jìn)行高空間分辨率采樣和分析。沈陽(yáng)顯微Mapping光譜專(zhuān)譜光電網(wǎng)站