電磁輻射干擾的遠場測量是指在半電波暗室或者EMC開闊場進行的測量，測量天線與被測物的距離一般為3米或3米以上，給出的結果是一張頻譜圖，即各個頻率點的電磁輻射干擾強度。標準GB13837-1997（CISPR13）和GB4343-1995（CISPR14）規定，應分別測試EUT外接連線，如電源線、AV線、耳機線、話筒線等線纜的干擾功率。傳導干擾是測試EUT運行過程中端口干擾電壓，包括電源端口、射頻端口、天線端口、電信端口等。如果被測設備有一個或者幾個頻率點的電磁干擾超過了標準的限值，被測設備就不符合EMC標準要求。示波器互補的方法為EMI排查診斷打開了全新的天地，提供前所未有的EMI排查能力。上海充電樁EMI診斷輻射發射測試

電路板上的組件成為輻射來源，由于所使用的IC或CPU本身在運作時產生很大的輻射﹐使得EMI測試無法通過﹐卵石種情往往在經過（1）﹑（2）﹑（3）的分析后噪聲依然存在﹐通常解決的方法不外換一個類似的組件﹐看EMI特性是否會好一些。另外就是電路板重新布線時﹐將其擺放于影響小的位置﹐也就是附近沒有I/OPort及連接線等經過﹐當然若情況允許﹐將整個組件用金屬外殼包覆（Shielding）也是一種快速有效的方法。由以上的分析介紹我們可以了解﹐造成電磁干擾輻射關鍵的地方就是電線的問題﹐當有了適當的天線條件存在很容易就產生干擾﹐另外電源線往往亦是造成天線效應的主因﹐這是在許EMI對策中容易疏忽的。消費電子EMI診斷原理不需要達到與EMI部門或實驗室掃描同等程度的精度，因為測量都是相對值。

許多頻譜分析儀重量輕，可以方便地移入測試室內以對被測產品進行連續觀察。測試人員可以用電場或磁場探頭探測被測設備泄漏區域。通常這些區域包括像箱體接縫、顯示屏前面板、接口線纜、鍵盤線纜、鍵盤、電源線和箱體開口部位等，探頭也可深入被測設備的箱體內進行探測。為了確切指出很大輻射區域，要求探頭靈敏度不要太高，通常，一段小線頭與一同軸線纜一起放入BNC連接器內就可以了。此外，應注意近場探頭探測過程中頻譜分析儀上所顯示的近場測試值可能會較大，但這不一定就是遠場輻射的主要原因。

EMI電磁干擾場地勘測：便攜式的頻譜分析儀與寬帶天線的組合在探測電磁干擾過程中特別有用。在1KHz～1GHz之間的輻射電磁干擾探測只用一臺頻譜分析儀和一根天線就可完成。不同地理位置環境干擾的勘測有助于確定好的的EMI開闊測試場地。勘測的信息也可用于確定安置EMI敏感校驗或設計組的好的位置。大多數情況下，來自建筑物外小的環境電磁干擾區域趨于建筑物的中間。對于多層建筑物，地下室或較低樓層通常具有小的環境電磁干擾。頻譜分析儀在電磁敏感度測試過程中用于監視被測設備上的傳導或輻射發射電平。全世界幾乎所有有關部門都在嘗試控制他們國家生產的電子產品產生的有害電磁干擾（EMI）。

將探頭放在振蕩部件的上方，頻譜分析儀上將顯示大量的振蕩頻率諧波。如果電路經過屏蔽、濾波并且其導線很短，這將不成問題。對于一個產品，工程師一般關注以下幾個方面：導線是否較長、帶狀線纜是否未經屏蔽、是否存在接地回路、視頻電路是否未經屏蔽、導線在輸出端是否未經濾波、或導線是否靠近箱體接縫。診斷出問題區域后，就可進行修補措施：通常是綜合運用屏蔽、濾波、接地和搭接。頻譜分析儀另一個重要診斷用途是確定發射的特性。例如：一個信號根據它被確定為寬帶或窄帶的不同而選用不同的限值。沒有正確的診斷﹐找不到病癥的源頭﹐往往事倍功半而拖延費時。上海充電樁EMI診斷輻射發射測試

一旦有疾病則正確的診斷﹐才能得到快速的痊愈。上海充電樁EMI診斷輻射發射測試

接下來做什么？電源是EMI干擾噪聲的主要來源，示波器的電源諧波分析在這類排查工作中很有潛力。我們不久將討論這一方面的內容。排查EMI是否一致的四種基本方法：全世界幾乎所有有關部門都在嘗試控制他們國家生產的電子產品產生的有害電磁干擾（EMI）。為了向用戶提供一定的保護和安全等級，有關部門都會制訂涉及電子產品設計的非常特殊的一些規則和規定。當然這是好事。但這也意味著為了盡量減少他們的EMI特征并通過官方的EMI認證測試，許多公司必須在產品設計和測試方面花費大量的人力物力。壞消息是，即使采用了好的設計原理、選擇了高質量的元件并且仔細地表征了產品，當進行一致性測試時，如果測試并不是所有階段都進展順利，那么EMI故障仍有可能影響到產品的發布日程。上海充電樁EMI診斷輻射發射測試

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