激光干涉儀的應用：1、幾何精度檢測可用于檢測直線度、垂直度、俯仰與偏擺、平面度、平行度等。2、器的誤差，而且還能通過RS232接口自動對其線性誤差進行補償，比通常的補償方法節省了大量時間，并且避免了手工計算和手動數控鍵入而引起的操作者誤差，同時可蕞大限度地選用被測軸上的補償點數，使機床達到蕞佳精度，另外操作者無需具有機床參數及補償方法的知識。3、數控轉臺分度精度的檢測及其自動補償現在，利用ML10激光干涉儀加上RX10轉臺基準還能進行回轉軸的自動測量。它可對任意角度位置，以任意角度間隔進行全自動測量，其精度達±1。比傳統用自準直儀和多面體的方法不只節約了大量的測量時間，而且還得到完整的回轉軸精度曲線，知曉其精度的每一細節，并給出按相關標準處理的統計結果。激光干涉儀通過與不同的光學組件結合，可以實現對直線度、垂直度、角度、平面度的測量。廣東雷尼紹XL-80激光干涉儀廠家供應

利用激光干涉儀的線性測長功能，不但能夠測量出數控機床的定位精度、重復定位精度和反向間隙等數據并對精度進行補償。還能幫助我們利用檢測圖形和數據，來分析數控機床出現故障的原因及解決辦法，從而迅速恢復機床，縮短數控機床維修時間，提高數控機床維修的效率。激光干涉儀是根據光學干涉基本原理設計而成的。具體到API激光干涉儀，即激光器射出單一頻率波，當此光束抵達偏振分光鏡時，會被分為兩道光束(一道反射光束和一道投射光束)，在這兩道光射向其反光鏡，然后透過分光鏡反射回去，在激光頭內的探測器形成一道干涉光束，若光程差沒有任何變化，探測器會在每一次光程改變時，在相長性和相消性干涉的兩極找到變動的信號。計算處理系統可以通過此變化來測量兩光程間差異變化。數控軸平行度激光干涉儀采購激光干涉儀使用注意事項：盡量不要去擦拭儀器的反光鏡、分光鏡等。

激光干涉儀的注意事項：儀器應放置在干燥、清潔以及無振動的環境中應用。在移動儀器時，為防止導軌變形，應托住底座再進行移動。儀器的光學零件在不用時，應在清潔干燥的器皿中進行存放，以防止發霉。盡量不要去擦拭儀器的反光鏡、分光鏡等，如必須擦拭則應當小心擦拭，利用科學的方法進行清潔。導軌、絲桿、螺母與軸孔部分等傳動部件，應當保持良好的潤滑。因此必要時要使用精密儀表油潤滑。在使用時應避免強旋、硬扳等情況，合理恰當的調整部件。避免劃傷或腐蝕導軌面絲桿，保持其不失油。

隨著數控機床應用的普及，采用激光干涉儀對數控機床進行定位精度檢測已經成為目前公認的高效、高精度的檢測方法。激光干涉儀測量原理：激光器發射單一頻率光束射入線性干涉鏡，然后分成兩道光束，一道光束(參考光束)射向連接分光鏡的反射鏡，而第二道透射光束(測量光束)則通過分光鏡射入第二個反射鏡，這兩道光束再反射回到分光鏡，重新匯聚之后返回激光器，其中會有一個探測器監控兩道光束之間的干涉。若光程差沒有變化時，探測器會在相長性和相消性干涉的兩極之間找到穩定的信號。激光干涉儀常配合筆記本電腦使用。

激光干涉儀初步調整后，它的固定分光鏡并在分光鏡上安裝光靶，通過“整體”調整精確瞄準光靶后，取下分光鏡光靶，將Z軸升高，觀察激光在反光鏡光靶上偏離程度，同時透過“尾部”調整使激光對準反光鏡光靶，若在此過程中因“尾部”的調整導致分光鏡遮擋了部分激光，則將Z軸停止上升回到起始處，重新調整“整體”，再次對準反射鏡光靶。緊接著再升Z軸，繼續調整“尾部”，觀察激光在反光鏡光靶上偏離程度。重復整個過程，往往幾次即可達到準直要求。激光干涉儀的測量精度高：以激光干涉技術為關鍵。英國雷尼紹XL-80激光干涉儀維護

可進行滾珠絲桿的動態特性分析。廣東雷尼紹XL-80激光干涉儀廠家供應

雙頻激光干涉儀：在氦氖激光器上，加上一個約0.03特斯拉的軸向磁場。由于塞曼分裂效應和頻率牽引效應,激光器產生1和2兩個不同頻率的左旋和右旋圓偏振光。經1/4波片后成為兩個互相垂直的線偏振光,再經分光鏡分為兩路。一路經偏振片1后成為含有頻率為f1-f2的參考光束。另一路經偏振分光鏡后又分為兩路：一路成為只含有f1的光束,另一路成為只含有f2的光束。當可動反射鏡移動時,含有f2的光束經可動反射鏡反射后成為含有f2±Δf的光束，Δf是可動反射鏡移動時因多普勒效應產生的附加頻率,正負號表示移動方向(多普勒效應是奧地利人C.J.多普勒提出的，即波的頻率在波源或接受器運動時會產生變化)。這路光束和由固定反射鏡反射回來只含有f1的光的光束經偏振片2后會合成為f1-(f2±Δf）的測量光束。廣東雷尼紹XL-80激光干涉儀廠家供應