納米探針多采用鎢絲制備，并且制備方法有比較多種，如：機械剪切法、機械研磨法、場蒸發方法、離子轟擊方法、電火花加工、電化學腐蝕法等。電化學腐蝕法是常用的制備鎢材質探針的方法，該方法原理及設備簡單、容易實現，可控性較好，成本較低。根據微操作系統的使用特點，鎢探針不僅要具有較大的長徑比，還要具有較高的力學強度，以避免探針在使用過程中彎曲、斷裂。探針的長徑比決定了STM測量高深寬比微納結構的能力。優良的STM探針應具備：較高的諧振頻率；只有一個穩定的原子而不是多重針尖的。汽車線束測試探針：專業用于汽車線束通斷檢測，直徑在1.0-3.5mm之間，電流在3-50A。LED點測探針聯系人

電子探針可以對試樣中微小區域（微米級）的化學組成進行定性或定量分析。可以進行點、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動進行批量（預置9999測試點）定量分析。探針是一小段單鏈DNA或者RNA的片段（大約是20到500bp），用于檢測與其互補的核酸序列。雙鏈DNA加熱變性成為單鏈，隨后用放射性同位素（通常用磷-32）、熒光染料或者酶（如辣根過氧化物酶）標記成為探針。磷-32通常被摻入組成DNA的四種核苷酸之一的磷酸基團中，而熒光染料和酶與核酸序列以共價鍵相連。北京GGB硬探針探測鎢針和解剖針則為帶尖頭的針狀。

測試探針的種類有PCB探針、ICT功能測試探針（汽車線束測試探針、電池針、電流電壓針、開關針、電容極性針、高頻針）、BGA測試探針等 探針根據電子測試用途可分為：A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品；B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針。 根據產地不同又分為美國QA探針、美國ECT探針、美國IDI探針等，德國INGUN探針，德國PTR探針等，韓國LEENON探針，中國臺灣CCP中國探針，中國臺灣UC佑傳探針等。

探針是一種由針頭(Plunger)和針管(Tube)以及彈簧(Spring)三個基本部件通過精密儀器鉚壓之后形成的彈簧式探針，又稱作彈簧針、彈簧頂針、彈簧探針、Spring Loaded、PogoPin連接器。這種探針的針尖尖部經過特殊工藝加工而成，針錐精度高，具有**度和彈性模量，產品更耐磨、更耐腐蝕，表面光滑無傷，光潔度可達到Ra0.25以下，幾乎為鏡面。錸鎢探針有不同的針尖類型，即不同的尖部形狀，例如，針尖帶平臺，針尖完全尖以及針尖為圓弧；晶圓探針卡是一種用于晶圓測試的工具。

晶圓測試是對芯片上的每個晶粒進行針測，在檢測頭裝上以鎢材料制成的鎢探針，與晶粒上的接點接觸，測試其電氣特性，不合格的晶粒會被標上記號，而后當芯片依晶粒為單位切割成**的晶粒時，標有記號的不合格晶粒會被淘汰，不再進行下一個制程，以免徒增制造成本。這意味著晶圓探測鎢針的好壞將在很大程度上影響到產出的集成電路的優良率和效率。探針卡是一種用于晶圓測試的工具，通常由一測試電路板和位于電路板上的針尖彎折成95-105度的錐形鎢針構成。測試時，將鎢探針的針頭直接接觸被測晶圓的襯墊，從而實現對晶圓的電性能測試。垂直探針：垂直型探針一般直徑在2.54mm-1.27mm之間。大連探針聯系方式

大電流探針：其特點是測試電流大，測試條件溫度高。LED點測探針聯系人

探針顯微鏡是在掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡（原子力顯微鏡，靜電力顯微鏡，磁力顯微鏡，掃描離子電導顯微鏡，掃描電化學顯微鏡等）的一種統稱，是國際上近年發展起來的表面分析儀器，是綜合運用光電子技術、激光技術、微弱信號檢測技術、精密機械設計和加工、自動控制技術、數字信號處理技術、應用光學技術、計算機高速采集和控制及分辨圖形處理技術等現代科技成果的光、機、電一體化的高科技產品。LED點測探針聯系人

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