在電子測試中對探針的選擇有著較高的要求，重點會考慮到探針能承載多大的電流、可適應的間距值、頭型與待測對象的適配度等等。在電子測試過程中若是探針使用不恰當或者性能達不到測試的需求，就比較容易造成損壞，影響測試的穩定性，因此探針的性能比較重要。在電子測試中，探針有彈片微針模組和Pogopin探針模組兩種類型。這兩種探針都是用于手機電池、屏幕、攝像頭等連接器模組測試的。彈片微針模組是一體成型式的彈片結構，體型輕薄，鍍金后經過加硬處理，可承載的電流高能達到50A，電流傳輸時流通于同一材料體內，具有更好地連接功能；在小pitch領域，彈片微針模組的適應性高，可取值范圍小可達到0.15mm，性能比較穩定。半導體探針：直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。高電流探針：探針直徑在2.54mm-4.75mm之間。大的測試電流可達39amps。南通大規模探針廠家價格

鎢探針是一種結構細長由純鎢或者鎢合金制的得的鎢制品。可以用于氬弧焊技術中的電極材料，也可用以儀器探針的使用。它具有耐高溫，導電性好等優點。鎢針主要用于雕刻金屬表面，膠棉中顆粒的切割和單一顆粒的操作。由于這些針非常易脆，故比較經常彎曲或折斷。在完成粒子切割時需要用手操作。這些鎢針不僅用于粒子的切割，也用于晶胚和玻璃的吹制。鎢資源的主要應用也是硬質合金，也就是鎢鋼。硬質合金，被稱為現代工業的牙齒，鎢鋼制品的使用程度非常。環保探針市價我們的探針在導電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機械穩定性可滿足客戶定制要求。

觸點壓力的定義為探針頂端（測量單位為密耳或微米）施加到接觸區域的壓力（測量單位為克）。觸點壓力過高會損傷焊點。觸點壓力過低可能無法通過氧化層，因此產生不可靠的測試結果。頂端壓力主要由探針臺的驅動器件控制，額外的Z運動（垂直行程）會令其直線上升。此外，探針材質、探針直徑、光束長度、和尖錐長度都在決定頂端壓力時起重要的作用。從本質上來說，隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點氧化物和污染物的表層，接觸電阻減小而電流流動迅速開始。隨著探針接觸到焊點金屬的亞表層，這些效應將增加。盡管隨著探針壓力的增強，接觸電阻逐漸降低，終它會達到兩金屬的標稱接觸電阻值。

接觸電阻即探針尖與焊點之間接觸時的層間電阻。通常不能給出具體的指標，因為實際的接觸電阻比較難測量。一般，信號路徑電阻被用來替代接觸電阻，而且它在眾多情況下更加相關。在檢測虛焊和斷路的時候，探針卡用戶經常需要為路徑電阻指定一個標稱值。信號路徑電阻是從焊點到測試儀的總電阻，即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是，接觸電阻是信號路徑電阻的重要組成部分。在實際使用中，探針的接觸電阻在比較大程度上取決于焊點的材料、清洗的次數、以及探針的狀況，而且它同標稱值相差較多。探針具有導電薄膜的電阻率、面電阻、型號及擊穿電壓等多種功能。

鎢探針：我們生產的純鎢探針、錸鎢探針、Paliney7合金探針，主要應用于IC、LED、LCD等芯片檢測以及晶圓檢測等行業。適用于各類Pad表面。衡泌采用品質穩定的原材料，可按照不同客戶的多樣要求，提供國產或日本鎢材料，有純鎢（99.95-99.98%）、錸鎢等原料。通常情況下，測量儀器引進一些噪聲或測量誤差。而更可能導致誤差的原因是系統的其它部件，其中之一可能是，它會受探針參數的影響，如探針的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質、觸點壓力、以及探針臺的平整度。此外，探針尖磨損和污染也會對測試結果造成極大的負面影響。半導體探針：直徑一般在0.50mm-1.27mm之間。無錫好的探針

隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點氧化物和污染物的表層，接觸電阻減小而電流流動迅速開始。南通大規模探針廠家價格

鎢熔點高(3683℃±20℃)，電子發射能力強，彈性模量高，蒸氣壓低，故比較早就被用作熱電子發射材料。純金屬鎢極的發射效率比較低，且在高溫下再結晶形成等軸狀晶粒組織而使鎢絲下垂、斷裂。為克服上述缺點，適應現代工業新技術、新工藝的發展，各國材料工作者正致力于研究和開發各種新型電極材料。以鎢為基摻雜一些電子逸出功低的稀土氧化物，既能提高再結晶溫度，又能啟動電子發射。稀土金屬氧化物具有優良的熱電子發射能力，稀土鎢電極材料一直是替代傳統放射性釷鎢電極材料的開發方向。南通大規模探針廠家價格

江蘇秉聚金屬制品有限公司致力于電子元器件，是一家貿易型公司。公司業務分為放電鎢針，微創鎢針，探針等，目前不斷進行創新和服務改進，為客戶提供良好的產品和服務。公司秉持誠信為本的經營理念，在電子元器件深耕多年，以技術為先導，以自主產品為重點，發揮人才優勢，打造電子元器件良好品牌。秉聚金屬秉承“客戶為尊、服務為榮、創意為先、技術為實”的經營理念，全力打造公司的重點競爭力。