能影響相控陣探頭檢測性能的參數有哪些？動態范圍是在增益不變時，超聲波相控陣探傷儀示波屏上能分辨的較大反射面積與較小反射面積波高之比，通常以分貝(dB)表示。按照有關規定，儀器的動態范圍不小于26dB。靈敏度是超聲波相控陣探傷儀與探頭組合后所具有的檢測較小缺陷的能力?？蓹z出的缺陷愈小或檢出同樣大小缺陷的可探測距離愈大，表示儀器和探頭組合后的靈敏度愈高。盲區是在正常檢測靈敏度下，從檢測表面到較近可檢缺陷的距離。儀器的發射脈沖愈寬，盲區愈大。因此盲區可近似地用顯示器顯示的發射脈沖所占寬度來表示。由相控陣探頭產生的聲波會沿直線傳播，直到遇到材料介質的邊緣。面形相控陣探頭廠商

相控陣陣列探頭的陣元間距是標定相控陣陣列探頭的關鍵參數之一，較大的陣元間距能夠提高陣列的指向性，但陣元間距設置過大，掃描時就會在實空間出現不希望有的柵瓣，柵瓣的能量很大，是形成偽像的主要原因。陣元間距是影響主瓣寬度的重要因素之一，隨著陣元間距的增加，主瓣寬度逐漸變窄，但是當陣元間距過大時，柵瓣就會出現。為了避免柵瓣的產生，同時為了提高陣列的橫向分辨率，在確定陣元間距時，選擇小于dmax的較大值。凸面陣能很好地匹配相同曲率管子的內徑，但在陣列凸面排列的狀態下，聲場旁瓣十分明顯，特別是小徑管中的聚焦聲場更容易向空間擴散；凸面陣多用于醫學B超超聲診斷領域。浙江圓環陣相控陣探頭相控陣探頭在無損檢測中的主要優點是：多角度掃查能力。

相控陣探頭的優點:探頭尺寸更小；檢測難以接近的部位；檢測速度快，檢測靈活性更強；可實現對復雜結構件和盲區位置缺陷的檢測；通過局部晶片單元組合對聲場控制，可實現高速電子掃描，對試件進行高速，多方位和多角度檢測；可以節約系統成本：探頭更少，機械部分少。高溫探頭分為兩類，雙晶探頭和延遲楔探頭。在這兩種探頭中，延遲楔材料(對雙晶探頭而言延遲楔材料在內部)在實際探頭晶片和熱檢測表面之間作為熱絕緣體。所有的標準高溫探頭設計時都考慮到工作周期。對大部分的雙晶探頭和延遲線探頭，對表面溫度在約90℃到500℃時，推薦的工作周期為接觸熱表面的時間不超過10秒(推薦5秒).

超聲波聚焦相控陣探頭可將超聲波聚集成一細束（線狀或點狀），在焦點處聲能集中，可提高探傷靈敏度及分辨力。超聲聚焦有兩種方法：一種是將壓電晶片做成凹面，發射的聲波直接聚焦，稱為自聚焦探頭；一種由直探頭和聲透鏡組成，聲透鏡的作用就是實現波束聚焦，稱為透鏡聚焦探頭。聚焦探頭具有良好的方向性，適用于檢測曲面零件缺陷和一定深度的缺陷。水浸相控陣探頭可在水中探傷，其結構與直探頭相似，只是探頭較長，以便浸在水中，保護膜也可去掉，由聲透鏡替代，前端為瓦狀聲透鏡的是線聚焦探頭，前端為球面聲透鏡的是點聚焦探頭。探頭發射縱波，但在液體中傾斜入射到工件時，由于入射角的不同，在工件中可產生橫波、表面波或蘭姆波，根據需要而定。相控陣探頭與壓電陶瓷探頭相比，在一般情況下可提供的靈敏度會高出10dB到30dB。

相控陣按陣列形式通常可分為線形、矩陣形、環形和扇形。相控陣探頭有多種不同的陣列排布形式，其類型按陣元排列方式可分為：一維線陣、二維矩陣、環形陣、扇形陣、凹面陣、凸面陣、雙線型陣等。不同的陣列排布方式將會產生不同的聲場特性，使相控陣能應用于不同工況下的檢測。一維線陣是目前相控陣探頭中應用多的一種形式，其特點是能在相控陣的軸平面實現聲束偏轉和軸向聚焦。與一維線陣相比，環形陣的優勢是能在聲束剖面實現二維聚焦(一維線陣只能實現一個方向上的聲束聚焦)，聲束剖面呈圓形，能獲得較大的能量集中，并且不要求大數目的陣列。相控陣探頭的靈敏度是指激勵脈沖波幅與從指定目標反射的回波波幅之間的關系。面形相控陣探頭廠商

相控陣探頭的分辨率會隨著頻率的升高而增強。面形相控陣探頭廠商

超聲相控陣探頭可使用較高的分辨率迅速掃查較大的區域，常規的線陣相控陣探頭不能彎曲，在幾何形狀發生了變化的部位很難耦合。柔性相控陣探頭可彎曲的能力使其更好貼合復雜幾何形狀部件并用于相控陣檢測，其產生的聲束就像任何具有同樣參數的標準相控陣探頭一樣。柔性相控陣探頭常用于掃描形狀變化的復雜部件的高分辨率厚度成像，它像標準相控陣探頭一樣產生扇形和線性掃描，并通過相控陣設備實現B掃描、C掃描成像顯示。當柔性相控陣探頭用作復雜幾何形狀檢測時，它不應被考慮作為一個耐用的工具。你必須小心的在探頭上應用恒壓來維持好的信號。面形相控陣探頭廠商

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