紅外(Infrared,IR)波是指波長在，它在大自然的電磁波譜里處在可見光與微波之間。由于IR在電磁波譜中涵蓋的波長范圍很寬，人們通常按波長將它分成５個子波段，分別為：近紅外(near-IR,NIR)、中紅外(mid-IR,MIR)、長波紅外(long-wavelengthIR,LWIR)、甚長波紅外(very-long-wavelengthIR,VLWIR)以及遠紅外(far-IR,FIR)，它們所對應的波長范圍如下表所示：一、IR紅外探測器分類根據探測機理的不同，IR探測器可分為兩大類，分別是光子探測器和熱探測器，下圖所示：在吸收IR波后，熱探測材料的溫度、電阻率、電動勢以及自發極化強度等會產生明顯的波動，根據這些波動可探測目標物體向外輻射IR的能量。熱探測器的響應速度普遍比光子探測器低，因此在大規模FPA探測器的發展方面不如光子探測器樂觀，但熱探測器制造成本低廉、使用便利，這使它們在民用市場大受歡迎與光子探測器不同，熱探測器的響應光譜較為平坦，不存在峰值波長，其探測率不隨波長變化而變化，如圖所示。 建筑工程師利用紅外熱像儀檢查建筑物的保溫性能，確保能效較大化。新型紅外熱像儀哪家便宜

紅外測溫儀：在對物體進行測量時只能測一個點，可以把它認為成只有一個像素的熱像儀，因此其顯示目標上單個點的溫度測量值。小貼士提醒:在知道準確的位置要進行近距離檢測時，紅外測溫儀經濟實惠并具有出色的性能。面對以下情況時，建議優先考慮紅外熱像儀。NO.2進行小目標測量紅外測溫儀光斑尺寸的同時就限制了需在近距離情況下測量小物體溫度的能力。但要測量極小的元件時，則需要搭配特寫光學元件（微距鏡頭）的紅外熱像儀能聚焦到每像素光斑尺寸小于5μm，這樣更有利于被測物件得到準確的測量結果。鋁材測溫紅外熱像儀哪家便宜紅外線熱成像分為三個波段：短波、中波、長波、特殊波長。

熱電堆又叫溫差電堆，它利用熱電偶串聯實現探測功能，是較為古老的一種IR探測器。以前，熱電堆都是基于金屬材料制備的，具有響應速度慢、探測率低、成本高等致命劣勢，不受業內人士的待見。隨著近代半導體技術的迅猛發展，半導體材料也被應用到了熱電堆的制作中。半導體材料普遍比金屬材料的塞貝克(Seebeck)系數高，而且半導體的微加工技術保證了器件的微型化程度，降低其熱容量，因此熱電堆的性能得到了**地優化。互補金屬氧化物半導體(CMOS)工藝的引入，讓紅外熱像儀熱電堆芯片電路技術實現了批量生產。

對表面散熱的計算還可以采用公式法，本文中的公式法源于《化工原理》中的傳熱學部分，對于具體傳熱系數的計算方法則來自于拉法基集團水泥工藝工程手冊及拉法基集團熱工計算工具中使用的經驗計算公式。公式法將表面散熱分為輻射散熱和對流散熱分別進行計算，表面的總熱損失是輻射和對流損失的總和：Q總=Q輻射+Q對流。1）紅外熱像儀輻射散熱而言，附件物體的表面會把所測外殼的熱輻射反射回外殼，從而減少了熱量的傳遞，輻射熱量的減少量取決于所測外殼的大小、形狀、發射率和溫度。所測殼體的曲面以及殼體大小、形狀和距離將影響可視因子，這里所說的可視因子是指可以被所測外殼“看到”的附件物體表面的比例。即使對于相對簡單的形狀，可視因子的計算也變得相當復雜，因此必須進行假設以簡化計算。在電力行業，很早就將紅外熱像儀運用于設備的安全檢。

測量表面溫度一般采用非接觸紅外高溫計，必須注意在測量時需要調整紅外熱像儀所使用的發射率ε，發射率是材料及其表面狀況的特性，采用不正確的發射率會產生明顯的測量誤差。有兩種方法可以在靜態表面上校準發射率，***個方法是使用接觸式高溫計測量溫度，然后將紅外高溫計指向同一點并調整發射率，直到溫度讀數與接觸式溫度計的讀數相同；第二個方法是在被測表面粘上黑膠布，或者涂上黑漆，然后用測得的溫度校準紅外高溫計。常用特定溫度下水泥窯系統表面發射率見表1。本文將詳細介紹如何選購紅外熱像儀。OPTPI400紅外熱像儀用途

電力行業采用紅外熱像儀對輸電線路和變電站進行定期巡檢，預防電氣故障。新型紅外熱像儀哪家便宜

1、設備或部件的輸出參數設備的輸出與輸入的關系以及輸出變量之間的關系都可以反映設備的運行狀態。2、設備零部件的損傷量變形量、磨損量、裂紋以及腐蝕情況等都是判斷設備技術狀態的特征參量。3、紅外熱像儀運轉中的二次效應參數主要是設備在運行過程中產生的振動、噪聲、溫度、電量等。設備或部件的輸出參數和零部件的損傷量都是故障的直接特征參量。而二次效應參數是間接特征參量。使用間接特征參量進行故障診斷的優點是，可以在設備運行中并且無需拆卸的條件下進行。不足之處是間接特征參量與故障之間的關系不是完全確定的。新型紅外熱像儀哪家便宜