SIX-8001紅外輻射測量系統

【概述】實際是一套有源熱源檢測臺式紅外熱像儀，通過熱成像及測溫技術直觀呈現熱缺陷或整體溫度分布，并可以進行過程監控。通過本系統，可以助力研究電路板熱分析、微米級元器件檢測、材料應力溫升分析、材料熱力性能分析、化學反應溫度分析、化工工藝溫度監測等。

【特點】~桌面在線式設計，著重過程檢測和記錄。~可調焦式設計，全視距清晰，見微見著。~鏡頭分辨力50微米，熱顯微成像。~專業PC端軟件，豐富的檢測報告內容。

【應用】~電路板熱分析。~微米級元器件檢測。~材料應力溫升分析。~化學反應溫度分析。~化工工藝溫度監測。 LD/LED 光源測量系統基于光譜分析原理，測量光源光譜特性，用于光學設計。浙江反射率測量系統推薦廠家

反射率測量系統

【概述】反射率是物質/材料的基本光學特性，也是光譜測量的基本內容。對于不同種類的樣品，物體表面的反射主要有鏡面反射和漫反射兩種。光在完美平整表面上的反射是鏡面反射，在毛糙表面上的反射是漫反射，而光在大多數物體表面的反射則介于兩者之間。反射測量可以用于測量元件的反射率，也可以測量分析物體的反射的顏色和化學樣品中的成分信息。當我們對物體進行反射測量時，判斷物體表面主要是哪種反射類型是非常重要的。那些看上去非常光亮的樣品表面大多數是鏡面反射，可采用光纖進行取樣測量，而對于曲面樣品，采用積分球取樣測量更為合適。

【特點】~樣品放置方便，夾具要求不高。~操作簡便、重復性好、檢測快速。~方便讀取全譜的反射率值和曲線。~可通過積分球采樣測量材料顏色。

【應用】~物質/材料的鏡面反射測量。~物質/材料的漫反射測量。~物質/材料的顏色測量。 杭州激光驅動控制測量系統廠家LD/LED 光源測量系統，基于光電效應原理，能準確測量光源參數，普遍用于照明工業研發。

博源光電專業生產測量系統產品：【BIX-8801,LD/LED光源測量系統】應用于激光二極管測試研究;垂直腔面發射激光器測試;單波長發光二極管測試;寬帶光源光譜特性測試研究。【BIX-8805,輻照度測量系統】應用于紫外標準檢測計量;LED光輻射安全測量;植物生長/PAR/植物光生物學;紫外線固化系統的表征;光穩定性測量;光譜反射率/吸光度/透過率測量;熒光測量。【SIX-8001,紅外輻射測量系統】應用于電路板熱分析；微米級元器件檢測；材料應力溫升分析；化學反應溫度分析；化工工藝溫度監測。【BIX-8811,反射率測量系統】應用于物質/材料的鏡面反射測量；物質/材料的漫反射測量；物質/材料的顏色測量。【BIX-8812,透過率測量系統】應用于濾光片的衰減性能測量；玻璃等材料的透光性能測量；材料對特定波長的吸收性能測量。【BIX-8813,吸光度測量系統】應用于物質的吸光度測量研究、濃度的定量測量、吸收特性測量分析。【BIX-8814,熒光測量系統】應用于生化領域組分分析熒光測量；醫藥領域的定量分析測量；礦物材料等的熒光光譜特性測量。【BIX-8815,拉曼測量系統】應用于珠寶、文物貴重物品鑒定;藥品成分檢測分析;瓜果蔬菜等食品快速檢測;化工環保監察監測。

杭州博源光電科技有限公司測量系統產品：【BIX-8801,LD/LED光源測量系統】應用于激光二極管測試研究;垂直腔面發射激光器測試;單波長發光二極管測試;寬帶光源光譜特性測試研究。【BIX-8805,輻照度測量系統】應用于紫外標準檢測計量;LED光輻射安全測量;植物生長/PAR/植物光生物學;紫外線固化系統的表征;光穩定性測量;光譜反射率/吸光度/透過率測量;熒光測量。【SIX-8001,紅外輻射測量系統】應用于電路板熱分析；微米級元器件檢測；材料應力溫升分析；化學反應溫度分析；化工工藝溫度監測。【BIX-8811,反射率測量系統】應用于物質/材料的鏡面反射測量；物質/材料的漫反射測量；物質/材料的顏色測量。【BIX-8812,透過率測量系統】應用于濾光片的衰減性能測量；玻璃等材料的透光性能測量；材料對特定波長的吸收性能測量。【BIX-8813,吸光度測量系統】應用于物質的吸光度測量研究、濃度的定量測量、吸收特性測量分析。【BIX-8814,熒光測量系統】應用于生化領域組分分析熒光測量；醫藥領域的定量分析測量；礦物材料等的熒光光譜特性測量。【BIX-8815,拉曼測量系統】應用于珠寶、文物貴重物品鑒定;藥品成分檢測分析;瓜果蔬菜等食品快速檢測;化工環保監察監測。BIX-8805輻照度測量系統可應用于光穩定性測量，光譜反射率/吸光度/透過率測量，熒光測量等。

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反射率測量系統，依據光反射原理，準確測定材料反射率，為光學材料研發提供數據。浙江反射率測量系統推薦廠家

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