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這 些影響是可以通過PCB的設計來預防甚至減少的。為了推 動這種優(yōu)化設計,可以運用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領域被推崇),它的優(yōu)點包括:減少編程時間比較大限度地減少誤報? 改善失效檢查。制定設計方針,可以有效地簡化檢查和***地降低生 產成本。Viscom AG 和 KIRRON GmbH &Co KG 合作開發(fā) 出一項特殊測試方案,目的是為了從根本上研究和證明這 些設計在檢查中產生的效果。基于IPC-7350標準的PCB布 局被推薦為針對這些測試的基準。首先,為了探究每一種 布局的檢查效果,建議在大量PCB布局上采用這種基準; 之后,再有意地利用PCB錯誤布局,使得它產生一些工藝 中的缺陷,如立碑和引腳懸空等。布局建議對Xi(焊盤的內側間 距)的比率應選擇>1。崇明區(qū)國產AOI檢測降價
基本優(yōu)化每塊PCB可以采用光學或者X-ray技術并運用適當 的運算法則來進行檢查。基于圖像檢查的基本 原理是:每個具有明顯對比度的圖像都是可以 被檢查的。在AOI中存在的主要問題是,當一些檢查對象是 不可見的,或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來了。然而,實際經驗和系統(tǒng)化測試都表明,這 些影響是可以通過PCB的設計來預防甚至減少的。為了推 動這種優(yōu)化設計,可以運用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領域被推崇閔行區(qū)無憂AOI檢測批發(fā)才能提供豐富的圖像信息去評估焊點的好壞。? 斜角檢測:PLCCs型器件。
通常,設備能夠檢查 出所有不同單板的顏色, 盡管檢查中的某些細節(jié)處 理是不倚賴于顏色的。例 如, 一塊白色和一塊綠 色的PCB有著不同的對比 度,因此設備需要一些特 定的補償。在一種極端情 況下,橋接在亮背景下呈 現(xiàn)黑色,而在另一種極端情況下,橋接在黑背景下卻是呈現(xiàn)出亮色。這里我們建議 使用無光澤的阻焊層。在我們的實踐中,焊盤間(甚至是 細間距引腳)的區(qū)域也應該覆蓋著阻焊層,這個建議也已 經被焊料供應商所響應。印刷圖案圖3所有印有圖案的PCB也是能夠被檢查的
的運算法則來進行檢查。基于圖像檢查的基本 原理是:每個具有明顯對比度的圖像都是可以 被檢查的。在AOI中存在的主要問題是,當一些檢查對象是 不可見的,或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來了。然而,實際經驗和系統(tǒng)化測試都表明,這 些影響是可以通過PCB的設計來預防甚至減少的。為了推 動這種優(yōu)化設計,可以運用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領域被推崇),它的優(yōu)點包括:減少編程時間比較大限度地減少誤報? 改善失效檢查。制定設計方針,可以有效地簡化檢查和***地降低生 產成本。Viscom AG 和 KIRRON GmbH &Co KG 合作開發(fā)由于工藝波動和器件邊緣的阻擋作 用,導致不能完全形成一個完整的上半月型焊點。
每塊PCB可以采用光學或者X-ray技術并運用適當 的運算法則來進行檢查。基于圖像檢查的基本 原理是:每個具有明顯對比度的圖像都是可以 被檢查的。在AOI中存在的主要問題是,當一些檢查對象是 不可見的,或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來了。然而,實際經驗和系統(tǒng)化測試都表明,這 些影響是可以通過PCB的設計來預防甚至減少的。為了推 動這種優(yōu)化設計,可以運用一些看上去很古老的附加手段(這些方法仍在很多領域被推崇),它的優(yōu)點包括:減少編程時間比較大限度地減少誤報? 改善失效檢查。當檢測到短路時,假如印刷 的圖案或者無反射印刷這兩種情況的減少以及應用阻焊層。金山區(qū)制作AOI檢測降價
而在器件本體兩側下方的焊點由于焊錫無 爬升,很難檢查。崇明區(qū)國產AOI檢測降價
焊盤之間的焊錫橋。在ICT上,相對這些情況的缺陷概率直接與情況的嚴重性成比例。輕微的少錫很少導致缺陷,而嚴重的情況,如根本無錫,幾乎總是在ICT造成缺陷。焊錫不足可能是元件丟失或焊點開路的一個原因。盡管如此,決定哪里放置AOI需要認識到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的,這些原因必須放在檢查計劃內。這個位置的檢查**直接地支持過程跟蹤和特征化。這個階段的定量過程控制數(shù)據(jù)包括,印刷偏移和焊錫量信息,而有關印刷焊錫的定性信息也會產生。崇明區(qū)國產AOI檢測降價
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