電子探針又稱微區(qū)X射線光譜分析儀、X射線顯微分析儀。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面，使被轟擊的元素激發(fā)出特征X射線，按其波長(zhǎng)及強(qiáng)度對(duì)固體表面微區(qū)進(jìn)行定性及定量化學(xué)分析。主要用來(lái)分析固體物質(zhì)表面的細(xì)小顆粒或微小區(qū)域，**小范圍直徑為1μm左右。分析元素從原子序數(shù)3（鋰）至92（鈾）。***感量可達(dá)10-14至10-15g。近年形成了掃描電鏡-顯微分析儀的聯(lián)合裝置，可在觀察微區(qū)形貌的同時(shí)逐點(diǎn)分析試樣的化學(xué)成分及結(jié)構(gòu)。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、冶金材料、水泥熟料研究等部門(mén)。如圖《電子探針示意圖》所示。可以進(jìn)行點(diǎn)、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。楊浦區(qū)特制探針五星服務(wù)

電子探針（Electron Probe Microanalysis）是一種利用電子束作用樣品后產(chǎn)生的特征X射線進(jìn)行微區(qū)成分分析的儀器， [1]可以用來(lái)分析薄片中礦物微區(qū)的化學(xué)組成。除H、He、Li、Be等幾個(gè)較輕元素外，還有U元素以后的元素以外都可進(jìn)行定性和定量分析。電子探針的大批量是利用經(jīng)過(guò)加速和聚焦的極窄的電子束為探針，激發(fā)試樣中某一微小區(qū)域，使其發(fā)出特征X射線，測(cè)定該X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度，即可對(duì)該微區(qū)的元素作定性或定量分析。電子探針顯微分析原理及其發(fā)展的初期是建立在X射線光譜分析和電子顯微鏡這兩種技術(shù)基礎(chǔ)上的，該儀器實(shí)質(zhì)上就是這兩種儀器的科學(xué)組合。楊浦區(qū)質(zhì)量探針五星服務(wù)1953年前蘇聯(lián)制成了X射線微區(qū)分析儀，以后英、美等國(guó)陸續(xù)生產(chǎn)。

在不損耗試樣的情況下，電子探針通常能分析直徑和深度不小于1微米范圍內(nèi)、原子序數(shù)4以上的所有元素；但是對(duì)原子序數(shù)小于12的元素，其靈敏度較差。常規(guī)分析的典型檢測(cè)相對(duì)靈敏度為萬(wàn)分之一，在有些情況下可達(dá)十萬(wàn)分之一。檢測(cè)的***靈敏度因元素而異，一般為10-14～10-16克。用這種方法可以方便地進(jìn)行點(diǎn)、線、面上的元素分析，并獲得元素分布的圖象。對(duì)原子序數(shù)高于10、濃度高于10%的元素，定量分析的相對(duì)精度優(yōu)于±2%。電子探針儀是 X射線光譜學(xué)與電子光學(xué)技術(shù)相結(jié)合而產(chǎn)生的。1948年法國(guó)的R.卡斯坦制造了***臺(tái)電子探針儀。1958年法國(guó)首先制造出商品儀器。電子探針儀與掃描電子顯微鏡在結(jié)構(gòu)上有許多共同處。70年代以來(lái)生產(chǎn)的電子探針儀上一般都帶有掃描電子顯微鏡功能，有的還附加另一些附件，使之除作微區(qū)成分分析外，還能觀察和研究微觀形貌、晶體結(jié)構(gòu)等。

安全**介紹，WiFi探針盒子確實(shí)可以通過(guò)技術(shù)手段獲取個(gè)人信息，用戶為避免信息泄露，可以在出門(mén)后關(guān)閉手機(jī)連接WiFi的功能，并不要在一些不合規(guī)的APP上提供真實(shí)個(gè)人信息。律師表示，利用探針盒子獲取他人手機(jī)號(hào)等隱私信息的行為涉嫌侵犯他人隱私，可能面臨民事侵權(quán)責(zé)任及治安管理處罰責(zé)任。實(shí)現(xiàn)原理1. WiFi信道掃描工具WiFi探針實(shí)現(xiàn)原理示意圖這種神秘的Wi-Fi探針,實(shí)際是“WiFi信道掃描工具”。市面上的WiFi有2.4G、5G兩個(gè)頻段,每個(gè)頻段有不同的信道劃分,Wi-Fi探針設(shè)備通過(guò)在各個(gè)信道被動(dòng)監(jiān)測(cè),采集周圍的數(shù)據(jù)幀內(nèi)容,發(fā)現(xiàn)周邊手機(jī)、筆記本、路由器等無(wú)線設(shè)備,從而滿足客流統(tǒng)計(jì)、精細(xì)營(yíng)銷等需求。此外,這種“Wi-Fi信道掃描工具”處于被動(dòng)監(jiān)測(cè)模式,無(wú)需用戶主動(dòng)連接某個(gè)WiFi,*需打開(kāi)手機(jī)WiFi功能時(shí)即可捕獲。電子探針主要由電子光學(xué)系統(tǒng)（鏡筒），X射線譜儀和信息記錄顯示系統(tǒng)組成。

2、能譜儀來(lái)自樣品的X光子通過(guò)鈹窗口進(jìn)入鋰漂移硅固態(tài)檢測(cè)器。每個(gè)X光子能量被硅晶體吸收將在晶體內(nèi)產(chǎn)生電子空穴對(duì)。不同能量的X光子將產(chǎn)生不同的電子空穴對(duì)數(shù)。例如，F(xiàn)e的Kα輻射可產(chǎn)生1685個(gè)電子空穴對(duì)，而Cu為2110。知道了電子空穴對(duì)數(shù)就可以求出相應(yīng)的電荷量以及在固定電容（1μμF）上的電壓脈沖。多道脈沖高度分析器中的數(shù)模轉(zhuǎn)換器首先把脈沖信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，建立起電壓脈沖幅值與道址的對(duì)應(yīng)關(guān)系（道址號(hào)與X光子能量間存在對(duì)應(yīng)關(guān)系）。電子束轟擊樣品表面將產(chǎn)生特征X射線，不同的元素有不同的X射線特征波長(zhǎng)和能量。楊浦區(qū)質(zhì)量探針五星服務(wù)

只要令探測(cè)器連續(xù)進(jìn)行2θ角的掃描，即可在整個(gè)元素范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)連續(xù)測(cè)量。楊浦區(qū)特制探針五星服務(wù)

B、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；**產(chǎn)品的**技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；C、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，**技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹(shù)脂型（Epoxy Type）垂直探針：垂直型（Vertical Type）1.ICT探針 （ICT series Probes）一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試．也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試．也是目應(yīng)用較多的一種探針．楊浦區(qū)特制探針五星服務(wù)

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