X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物質，都有其特定的晶體結構，包括點陣類型、晶面間距等參數，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質受激發，會產生二次熒光X射線（標識X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置（峰位）可以進行化合物的定性分析，測定譜線的積分強度（峰強度）可以進行定量分析，而測定譜線強度隨角度的變化關系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。“X射線衍射儀"可分為"X射線粉末衍射儀"和"X射線單晶體衍射儀"。安徽奧林巴斯BTX小型臺式XRD公司有哪些

x射線有哪些特點？各種衍射方法有何不同 1、穿透作用。X射線因其波長短，能量大，照在物質上時，只一部分被物質所吸收，大部分經由原子間隙而透過，表現出很強的穿透能力。X射線穿透物質的能力與X射線光子的能量有關，X射線的波長越短，光子的能量越大，穿透力越強。X射線的穿透力也與物質密度有關，利用差別吸收這種性質可以把密度不同的物質區分開來。 2、電離作用。物質受X射線照射時，可使核外電子脫離原子軌道產生電離。利用電離電荷的多少可測定X射線的照射量，根據這個原理制成了X射線測量儀器。在電離作用下，氣體能夠導電；某些物質可以發生化學反應；在有機體內可以誘發各種生物效應。 3、熒光作用。X射線波長很短不可見，但它照射到某些化合物如磷、鉑鋇、硫化鋅鎘、鎢酸鈣等時，可使物質發生熒光（可見光或紫外線），熒光的強弱與X射線量成正比。這種作用是X射線應用于穿視的基礎，利用這種熒光作用可制成熒光屏，用作穿視時觀察X射線通過人體組織的影像，也可制成增感屏，用作攝影時增強膠片的感光量。浙江奧林巴斯BTX小型臺式XRD代理公司有哪些x射線具有很強的穿透力，醫學上常用作檢查，工業中用來探傷。

X射線衍射的方法有很多。 按使用的樣品可分為：單晶法和多晶粉末法； 按記錄檢測方法可分有：照相法和衍射譜儀（計算器）法。 基本的X射線衍射方法有三種：平板照相法、旋晶法和多晶粉末法。 1、平板照相法（平面底片法） 2、園筒底片法（又叫回轉照相法或旋晶法） （1）、回轉照相法 （2）、魏森堡（Weissenberg）照相法 （3）、多晶粉末德拜-謝樂照相法 （4）、多晶粉末衍射儀法 （5）、其它X射線衍射儀 a、計算機自動控制的四圓單晶衍射儀 b、轉靶X射線衍射儀 c、面探測器X射線衍射儀 d、同步輻射衍射分析。

當x射線以掠角θ(入射角的余角)入射到某一點陣晶格間距為d的晶面上時,在符合上式的條件下，將在反射方向上得到因疊加而加強的衍射線。布拉格方程簡潔直觀地表達了衍射所必須滿足的條件。當 x射線波長λ已知時(選用固定波長的特征x射線)，采用細粉末或細粒多晶體的線狀樣品,可從一堆任意取向的晶體中，從每一θ角符合布拉格方程條件的反射面得到反射,測出θ后，利用布拉格方程即可確定點陣晶面間距、晶胞大小和類型;根據衍射線的強度,還可進一步確定晶胞內原子的排布。這便是x射線結構分析中的粉末法或德拜-謝樂(debye—scherrer)法的理論基礎。而在測定單晶取向的勞厄法中所用單晶樣品保持固定不變動（即θ不變）,以輻射束的波長作為變量來保證晶體中一切晶面都滿足布拉格方程的條件,故選用連續x射線束。如果利用結構已知的晶體，則在測定出衍射線的方向θ后,便可計算x射線的波長，從而判定產生特征x射線的元素。這便是x射線譜術,可用于分析金屬和合金的成分。很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。

衍射儀： x射線發生器 探測器 1衍射儀進展 衍射儀的進展主要在三個方面： 1、X 射線發生器，2、探測器，3、衍射幾何與光路。 x射線發生器 X射線發生器是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一，其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。 探測器 探測器是用來記錄衍射譜的，因而是多晶體衍射設備中不可或缺的重要部件之一。早先被普遍使用的是照相底片，由于它吸收率低，大量X射線會透過而不被吸收；它的計數線性范圍不大，強衍射不易測準；而且，還會起“霧”；又由于要有暗室用化學法進行顯影、定影、沖洗、曬干等一套繁瑣的過程，因此被性能更好的光子計數器所取代。計數器探測器不需化學處理，可以通過電子電路直接記錄衍射的光子數，方便了許多。初的計數器是蓋格計數器，但由于它的時間分辨率不高，計數的線性范圍不大，故不是一個良好的探測器。以后，正比計數器及閃爍計數器取代了蓋格計數器，成為普遍使用的探測器。隨著人類對自然的認識越來越廣，越來越深，對實驗的要求也越來越高，越多樣化，簡單的正比或閃爍計數器亦不 能滿足不同的實驗要求，于是又陸續發展出許多不同的探測器。衍射儀是為材料研究和工業產品分析設計的，是常規分析與特殊目的測量相結合的完善產品。金華衍射儀銷售代理

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使用粉末多晶衍射儀測量單晶體樣品時得到的X射線衍射譜，相對于與所測單晶體同種類的多晶樣品的X射線衍射譜來說，它的譜圖特征可能是：衍射峰數量可能會變少，峰強度會有變化:有的會變強、有的會變弱；如果測試時單晶樣品不旋轉，有些峰可能就根本不出現，因為其照射角派生的2θ滿足不了布拉格公式而發生衍射；其峰強弱依賴于單晶樣品在譜儀樣品架上的作固定安裝的立體角參數。 若將一束單色X射線照射到一粒靜止的單晶體上，入射線與晶粒內的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少數的晶面能符合布拉格公式而發生衍射。要使各晶面族都發生衍射，常用的方法就是轉動晶體。轉動中各晶面族時刻改變著與入射線的交角，會在某個時候符合布拉格方程而產生衍射。目前常用的收集單晶體衍射數據的方法是：一為回擺法，二為四圓衍射儀法。安徽奧林巴斯BTX小型臺式XRD公司有哪些