AFM液相成像技術的優點在于消除了毛細作用力，針尖粘滯力，更重要的是可以在接近生理條件下考察DNA的單分子行為。DNA分子在緩沖溶液或水溶液中與基底結合不緊密，是液相AFM面臨的主要困難之一。硅烷化試劑,如3-氨丙基三乙氧基硅烷（APTES）和陽離子磷脂雙層修飾的云母基底固定DNA分子，再在緩沖液中利用AFM成像，可以解決這一難題。在氣相條件下陽離子參與DNA的沉積已經發展十分成熟，適于AFM觀察。在液相條件下，APTES修飾的云母基底較常用。DNA的許多構象諸如彎曲，超螺旋，小環結構，三鏈螺旋結構，DNA三通接點構象，DNA復制和重組的中間體構象，分子開關結構和藥物分子插入到DNA鏈中的相互作用都地被AFM考察，獲得了許多新的理解、；另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力；黃山原子力顯微鏡測試公司

    適用于對生物大分子、聚合物等軟樣品進行成像研究特點：對于一些與基底結合不牢固的樣品，輕敲模式與接觸模式相比，很大程度地降低了針尖對表面結構的“搬運效應”。樣品表面起伏較大的大型掃描比非接觸式的更有效。測試優勢：1)低漂移和低噪音水平；2)配置有專有ScanAsys原子成像優化技術，可以簡易快速穩定成像；3)測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；4)溫度補償位置傳感器使Z軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現出前所未有的高分辨率。；5)全新的XYZ閉環掃描頭在不損失圖像質量的前提下提高了掃描速度；6)測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；AFM應用技術舉例：AFM可以在大氣、真空、低溫和高溫、不同氣氛以及溶液等各種環境下工作，且不受樣品導電性質的限制，因此已獲得比STM更為廣泛的應用。 邯鄲原子力顯微鏡測試服務原子力顯微鏡的基本原理是：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定；

原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，簡稱AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于一九八五年所發明的，其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）差別在于并非利用電子隧穿效應，而是檢測原子之間的接觸，原子鍵合，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性。

橫向力顯微鏡（LFM）是在原子力顯微鏡（AFM）表面形貌成像基礎上發展的新技術之一。工作原理與接觸模式的原子力顯微鏡相似。當微懸臂在樣品上方掃描時，由于針尖與樣品表面的相互作用，導致懸臂擺動，其擺動的方向大致有兩個：垂直與水平方向。一般來說，激光位置探測器所探測到的垂直方向的變化，反映的是樣品表面的形態，而在水平方向上所探測到的信號的變化，由于物質表面材料特性的不同，其摩擦系數也不同，所以在掃描的過程中，導致微懸臂左右扭曲的程度也不同，檢測器根據激光束在四個象限中，（A+C）-（B+D）這個強度差值來檢測微懸臂的扭轉彎曲程度。而微懸臂的扭轉彎曲程度隨表面摩擦特性變化而增減（增加摩擦力導致更大的扭轉）。激光檢測器的四個象限可以實時分別測量并記錄形貌和橫向力數據。以供SPM控制器作信號處理；

DNA和蛋白質分子的特定相互作用在分子生物學中起著關鍵作用。蛋白質與DNA結合的精確位點圖譜和不同細胞狀態下結合位點的測定對于了解復雜細胞體系的功能與機理，特別是基因表達的控制都十分關鍵。AFM作為一種高度分辨達0。1nm，寬度分辨率為2nm左右的表面分析技術，已用于表征各類DNA-蛋白質的復合物。低濕度大氣條件下，Rees等利用AFM在接觸模式下考察了λ2PL啟動子在啟動和關閉轉錄過程中對DNA鏈彎曲程度的影響。此外，這個小組還研究了另外一種λ2轉錄因子，Cro-蛋白對DNA彎曲的影響。為了研究Jun蛋白的結合是否會引起DNA鏈的彎曲，Becker等利用AFM研究了包含一個AP21結合位點的線性化質粒DNA與Jun蛋白的復合物。Aizawa小組對DNA蛋白激酶Ku亞結構域和雙鏈DNA斷裂的相關性進行了研究。Kasas等研究了大腸桿菌RNA聚合酶（RNAP)轉錄過程中的動態酶活性。他們的方法是在Zn2+存在的條件下，RNAP能夠松散或緊密地與DNA模板進行結合，通過AFM成像了解其動態過程。所以在本系統中是使用微小懸臂（cantilever）來檢測原子之間力的變化量。寧波原子力顯微鏡測試多少錢

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SFM除了形貌測量之外，還能測量力對探針-樣品間距離的關系曲線Zt（Zs）。它幾乎包含了所有關于樣品和針尖間相互作用的必要信息。當微懸臂固定端被垂直接近，然后離開樣品表面時，微懸臂和樣品間產生了相對移動。而在這個過程中微懸臂自由端的探針也在接近、甚至壓入樣品表面，然后脫離，此時原子力顯微鏡（AFM）測量并記錄了探針所感受的力，從而得到力曲線。Zs是樣品的移動，Zt是微懸臂的移動。這兩個移動近似于垂直于樣品表面。用懸臂彈性系數c乘以Zt，可以得到力F=c·Zt。如果忽略樣品和針尖彈性變形，可以通過s=Zt-Zs給出針尖和樣品間相互作用距離s。這樣能從Zt（Zs）曲線決定出力-距離關系F（s）。這個技術可以用來測量探針尖和樣品表面間的排斥力或長程吸引力，揭示定域的化學和機械性質，像粘附力和彈力，甚至吸附分子層的厚度。如果將探針用特定分子或基團修飾，利用力曲線分析技術就能夠給出特異結合分子間的力或鍵的強度，其中也包括特定分子間的膠體力以及疏水力、長程引力等。黃山原子力顯微鏡測試公司