鎢針可分為純鎢針、稀土鎢針、摻雜鎢針。鎢針主要用于制作強度高氣體放電燈電弧管用電極。由于鎢的特性，使得它比較適合用于tiG焊接以及其它類似這種工作的電極材料。在金屬鎢中添加稀土氧化物來刺激它的電子逸出功，使得鎢電極的焊接性能得以改善：電極的起弧性能更好，弧柱的穩定性更高，電極燒損率更小。可根據要求定制尖部形狀，有鋒利極銳尖、平臺和圓弧等形狀。我們的針尖范圍從微米級到納米級，針尖曲率半徑Min可控為50納米，包裝前逐根檢測。在電子測試中，探針有彈片微針模組和Pogopin探針模組兩種類型。徐州加工探針

錸鎢針(97%Tungsten,3%Rhenium)，直徑是0.05-0.1mm不等，針具有高硬度、高彈性模量、檢測時無傷原器件等特點，其硬度/抗勞性佳，穩定度佳，適合長時間測試。我司可按照不同客戶的多樣要求，提供國產或日本鎢材料，T長均勻，針尖采用研磨處理，中心居正，針尖長度細長，飽滿，壽命長。這種探針的針尖尖部經過特殊工藝加工而成，針錐精度高，具有強度高和彈性模量，產品更耐磨、更耐腐蝕，表面光滑無傷，光潔度可達到Ra0.25以下，幾乎為鏡面。探針具有用于測量半導體材料、功能材料、導電薄膜的電阻率、面電阻、型號及擊穿電壓等多種功能。徐州加工探針探針的頂端壓力主要由探針臺的驅動器件控制，額外的Z運動（垂直行程）會令其直線上升。

鎢探針是晶圓測試過程中的耗材。替換晶圓探測鎢針勢必會在增加生產成本。晶圓探針卡是一種用于晶圓測試的工具，通常由一測試電路板和位于電路板上的針尖彎折成95-105度的錐形鎢針構成。測試時，將鎢探針的針頭直接接觸被測晶圓的襯墊，從而實現對晶圓的電性能測試。定制針尖：我們綜合運用電化學、機械加工、電鍍工藝，精深加工，確保探針一致性。可根據要求定制尖部形狀，有鋒利極銳尖、平臺和圓弧等形狀。我們的針尖范圍從微米級到納米級，針尖曲率半徑Min可控為50納米，包裝**0%逐根檢測。定制涂層：可按客戶要求整體或局部鍍鎳錫金等、壓鑄銅套和不銹鋼套等定制服務。

觸點壓力的定義為探針頂端（測量單位為密耳或微米）施加到接觸區域的壓力（測量單位為克）。觸點壓力過高會損傷焊點。觸點壓力過低可能無法通過氧化層，因此產生不可靠的測試結果。頂端壓力主要由探針臺的驅動器件控制，額外的Z運動（垂直行程）會令其直線上升。此外，探針材質、探針直徑、光束長度、和尖錐長度都在決定頂端壓力時起重要的作用。從本質上來說，隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點氧化物和污染物的表層，接觸電阻減小而電流流動迅速開始。隨著探針接觸到焊點金屬的亞表層，這些效應將增加。盡管隨著探針壓力的增強，接觸電阻逐漸降低，終它會達到兩金屬的標稱接觸電阻值。探針材質、探針直徑、光束長度、和尖錐長度都在決定頂端壓力時起重要的作用。

現有的探針頭，通常采用條狀彈簧片來提供恒定壓力和在金屬探針頭上焊接上一根導電線，在結構上，每根條狀彈簧片是單獨壓在對應的探針上，每根條狀彈簧片需單獨定位，安裝困難，由于條狀彈簧片是用彈簧金屬片單獨切割而成，因而比較難保證每根條狀彈簧片都具有相同的彈力，采用條狀彈簧片因長度長而令探針頭的體積增大，探針頭的異形外殼加工困難。采用耙形彈簧片作為探針恒壓彈性元件，耙形彈簧片用定位環定位安裝，并選用多種形狀及不同材料探針的探針頭，從而克服現有技術存在的缺點。探針具有導電薄膜的電阻率、面電阻、型號及擊穿電壓等多種功能。蘇州探針市場價

探針尖磨損和污染也會對測試結果造成極大的負面影響。徐州加工探針

掃描隧道顯微鏡是一種利用具有原子級分辨率的新型探測工具，已在物理、化學、生物學、材料科學以及微電子科學等領域得到了應用。微結構氣體探測器是一種氣體粒子探測器，已在X射線、γ射線以及中子成像、天體物理、固體物理、生物醫學以及核醫學等比較多領域得到了的應用。鎢探針具有高硬度、高彈性模量等特點。合金探針檢測時無傷原器件，已批量應用于LED芯片檢測領域。其導電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機械穩定性可滿足客戶定制要求。徐州加工探針

江蘇秉聚金屬制品有限公司主要經營范圍是電子元器件，擁有一支專業技術團隊和良好的市場口碑。公司業務涵蓋放電鎢針，微創鎢針，探針等，價格合理，品質有保證。公司注重以質量為中心，以服務為理念，秉持誠信為本的理念，打造電子元器件良好品牌。秉聚金屬立足于全國市場，依托強大的研發實力，融合前沿的技術理念，飛快響應客戶的變化需求。