光源:八側面多角度高亮條形光源相機：標配2000萬CCD全彩工業面陣相機（可選配1200萬/2500萬/2900萬）FOV：400*300mm可檢PCBA尺寸：寬度400mm，長度不限；可選配寬度750mm，長度不限CPU：inteli59600KF；GPU：NVIDIA獨立顯卡顯存：8G/6G內存/硬盤存儲：16GDDR4/2T操作系統：：22寸/，率先對AOI進行變革。采用深度學習算法，解決AOI編程復雜、誤報多的行業痛點，為客戶提供智能的插件檢測方案。公司團隊深耕計算機視覺領域、圖形、圖像領域16余年，擁有20年行業背景。合作客戶覆蓋工控、電源、電力、家電、汽車電子、醫療電子、消費電子等多個行業。在長期的經營活動中以高效的服務贏得廣大客戶的信賴及推介.。 圖像傳感器是AOI系統采集圖像的基礎，目前市面上大多數廠商選擇使用面陣相機。專業AOI供應

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光電轉化器可以分為CCD（chargeCouplingdiode）和CMOS（complementarymetaloxidesemiconductor）兩種。因為制作工藝與設計不同，CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現為數字電荷傳送的方式的不同，工作原理如下圖所示，CCD采用硅基半導體加工工藝，并設置了垂直和水平移位寄存器，電極所產生的電場推動電荷鏈接方式傳輸到中間模數轉換器。這樣的結構與設計很難集成很多的感光單元，制造成本高且功耗大；而CMOS采用無機半導體加工工藝，每像素設計了額外的電子電路，每個像素都可以被定位，而無需CCD中那樣的電荷移位設計，對圖像信息的讀取速度遠遠高于CCD芯片，因光暈和拖尾等過度曝光而產生的非自然現象的發生頻率要低得多，價格和功耗比CCD光電轉化器也低，但其缺點是半導體工藝制作的像素單元缺陷多，靈敏度會有一些問題，同時，為每個像素電子電路提供所需的額外空間不會作為光敏區域。芯片表面上的光敏區域部分（定義為填充因子）小于CCD芯片。從理論上講，這個原因導致可以收集的圖像信息光子數會有所減少，所以，CMOS光電轉化元件一般需要搭配高亮度光源，噪音也比較大。

  AOI檢測技術應運而生的背景是電子元件集成度與精細化程度高，檢測速度與效率更高，檢測零缺陷的發展需求。AOI檢測的比較大的優點是節省人力，降低成本，提高生產效率，統一檢測標準和排除人為因素干擾，保證了檢測結果的穩定性，可重復性和準確性，及時發現產品的不良，確保出貨質量。在人工智能技術與大數據發展進步中，AOI檢測不僅是一部檢測設備，對大量不良結果進行分類和統計，可以發現不良發生的原因，在工藝改善和生產良率提升中也正逐步發揮著更重要的作用，因此，可以預期未來AOI檢測技術將在半導體與電子電路檢測中將會發揮越來越重要的作用。無需設置參數：1.采用智能算法、自動框圖比例高；2.無需抽色、無需調飽和度、色相、無需調容忍度、閾值。

    本系統采用的卷積神經網絡（ConvolutionalNeuralNetworks,CNN）是一類包含卷積計算且具有深度結構的前饋神經網（FeedforwardNeuralNetworks），是深度學習（deeplearning）的表示算法之一。卷積神經網絡仿造生物的視知覺（visualperception）機制構建，可以進行監督學習和非監督學習。作為圖像識別領域的中心算法之一，卷積神經網絡在學習數據充足時有穩定的表現。針對本系統所處理的大規模圖像分類問題，卷積神經網絡將用于提取圖像的判別特征，再通過分類器進行學習和識別。畫面顯示：1、主圖畫面都有顯示器件框，便于觀察器件是否被識別；2、根據底板顏色可以自由選擇器件框顏色；3、可依據客戶需求，自由定義器件中文名；4、不良器件圖靜態顯示。 圖像采集器看不清楚或看不到被檢測物體的特征點，那么也就無法談到準確的檢出。AOI

自動光學檢測機的速度是人類所不能奇跡的，較寬的光譜響應范圍使得其可以實現人眼所不能看到的紅外測量。專業AOI供應

模板匹配就是先設定已知模板，已知模板是AOI檢測中沒有缺陷的實物影像或較小重復單元影像，通常情況下PCBAOI檢測中以實物影像為已知模板，FPD AOI檢測中則是較小重復單元。將采集到的圖像與模板影像進行重合比對，然后平移到下一個單元進行同樣比對，出現灰階有差異的部分就被懷疑為缺陷，這里我們給灰階差異設定一個閾值，當灰階差超過設定閾值后，就被判定為真正的缺陷。從細節上講，閾值的設定過于嚴格出現誤判的概率就會增加，而閾值設定過于寬松漏檢出的概率就會增加，因此，被檢測物體的特征提取可以提高比對的對位精度，進而對檢測結果起到了決定性的作用。專業AOI供應

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