深圳市欣同達(dá)科技有限公司2025-04-05

在混合使用不同類型DDR內(nèi)存的系統(tǒng)中，DDR測(cè)試座可以通過分別對(duì)不同類型的內(nèi)存進(jìn)行測(cè)試，來評(píng)估其兼容性。測(cè)試座可以模擬不同內(nèi)存之間的交互情況，檢測(cè)是否存在兼容性問題。同時(shí)，還可以通過調(diào)整系統(tǒng)參數(shù)，如內(nèi)存頻率、時(shí)序等，來優(yōu)化內(nèi)存的兼容性。

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