數(shù)字化探測(cè)器將被測(cè)物理量的變化過(guò)程傳送給主控機(jī), 主控機(jī)根據(jù)采集到的數(shù)據(jù), 采用數(shù)字濾波或曲線(xiàn)模擬等先進(jìn)的數(shù)字信號(hào)處理技術(shù), 排除干擾, 提高報(bào)警的可靠性, 這就是以數(shù)字化探測(cè)器為基礎(chǔ)的火災(zāi)報(bào)警系統(tǒng)的主要特征。數(shù)字化探測(cè)器是決定數(shù)字X線(xiàn)攝影信息捕獲方式以及影響圖像質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，其相關(guān)的理論研究和臨床應(yīng)用是當(dāng)前研究的熱點(diǎn)。數(shù)字化探測(cè)器技術(shù)的不斷發(fā)展與完善，將推動(dòng)各種數(shù)字X線(xiàn)成像系統(tǒng)在臨床中的進(jìn)一步應(yīng)用，為我們放射科帶來(lái)革命性的變化。數(shù)字X射線(xiàn)成像儀是一種用于材料科學(xué)、機(jī)械工程、安全科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域的物理性能測(cè)試儀器。舟山DR無(wú)線(xiàn)平板探測(cè)器工作原理

評(píng)價(jià)平板探測(cè)器成像質(zhì)量的性能指標(biāo)主要有兩個(gè)：量子探測(cè)效率和空間分辨率。影響平板探測(cè)器空間分辨率的因素在直接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器中，空間分辨率決定于單位面積內(nèi)薄膜晶體管矩陣大小。矩陣越大薄膜晶體管個(gè)數(shù)越多，空間分辨率越高，可以達(dá)到很高的空間分辨率。在間接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器中，由于存在散射現(xiàn)象，空間分辨率不僅決定于單位面積內(nèi)薄膜晶體管矩陣大小，還決定于散射光的控制技術(shù)。所以間接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器的空間分辨率低于直接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器的空間分辨率。舟山DR無(wú)線(xiàn)平板探測(cè)器工作原理平板探測(cè)器的特性會(huì)對(duì)DR圖像質(zhì)量產(chǎn)生比較大的影響。

X射線(xiàn)數(shù)字成像在技術(shù)上是可行的。國(guó)際焊接學(xué)會(huì)(IIW) 在八十年代后期開(kāi)展系統(tǒng)的研究，發(fā)表的五篇研究報(bào)告以及英、美等國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)已證明它具有良好的技術(shù)可行性。X射線(xiàn)數(shù)字成像檢測(cè)的管理與原有的管理辦法基本相同，探傷室的平面布置和安全防護(hù)與原有的基本一致。對(duì)于一個(gè)中等檢測(cè)量的探傷室而言，一般配置1～3套圖像采集系統(tǒng), 以便在工作量大時(shí)同時(shí)采集圖像；通常配置3套圖像評(píng)定系統(tǒng),一套用于初評(píng)，一套用于復(fù)評(píng),另一套為駐廠(chǎng)鍋檢所監(jiān)檢用。探傷室內(nèi)多臺(tái)計(jì)算機(jī)用一臺(tái)服務(wù)器聯(lián)網(wǎng)管理，探傷室應(yīng)配備計(jì)算機(jī)專(zhuān)業(yè)人員。

DR 平板探測(cè)器從能量轉(zhuǎn)換的方式可以分為兩種 :間接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器和直接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器。間接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器由碘化銫等閃爍晶體涂層與薄膜晶體管或電荷耦合器件或 互 補(bǔ) 型 金 屬 氧 化 物 半 導(dǎo) 體構(gòu)成 。間接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器的工作過(guò)程一般分為兩步 , 首先閃爍晶體涂層將 X 線(xiàn)的能量轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光 ;其次 TF T 或者C CD , 或 C MO S 將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。由于在這過(guò)程中可見(jiàn)光會(huì)發(fā)生散射 , 對(duì)空間分辨率產(chǎn)生一定的影響 。雖然新工藝中將閃爍體加工成柱狀以提高對(duì) X 線(xiàn)的利用及降低散射 ,但散射光對(duì)空間分辨率的影響不能完全消除。直接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器主要由非晶硒層T FT 構(gòu)成 。入射的 X 射線(xiàn)使硒層產(chǎn)生電子空穴對(duì), 在外加偏壓電場(chǎng)作用下 , 電子和空穴對(duì)向相反的方向移動(dòng)形成電流 , 電流在薄膜晶體管中形成儲(chǔ)存電荷 。每一個(gè)晶體管的儲(chǔ)存電荷量對(duì)應(yīng)于入射 X 射線(xiàn)的劑量 , 通過(guò)讀出電路可以知道每一點(diǎn)的電荷量 ,進(jìn)而知道每點(diǎn)的 X 線(xiàn)劑量 。由于非晶硒不產(chǎn)生可見(jiàn)光 , 沒(méi)有散射線(xiàn)的影響 , 因此可以獲得比較高的空間分辨率。DQE的高低取決于非晶硒層產(chǎn)生電荷的能力。

x射線(xiàn)數(shù)字成像技術(shù)，又稱(chēng)為DR技術(shù)，數(shù)字射線(xiàn)成像技術(shù)等。X射線(xiàn)數(shù)字成像在技術(shù)上是可行的。國(guó)際焊接學(xué)會(huì)(IIW) 在八十年代后期開(kāi)展系統(tǒng)的研究，發(fā)表的五篇研究報(bào)告以及英、美等國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)已證明它具有良好的技術(shù)可行性。國(guó)內(nèi)的有關(guān)大學(xué)、研究單位、使用單位自八十年代末以來(lái)，對(duì)X射線(xiàn)數(shù)字成像的基礎(chǔ)理論、應(yīng)用技術(shù)等課題進(jìn)行了卓有成效的研究，取得了重大的成果，相繼通過(guò)了有關(guān)部門(mén)的鑒定，為在國(guó)內(nèi)推廣X射線(xiàn)數(shù)字成像技術(shù)奠定了良好的技術(shù)基礎(chǔ)。X射線(xiàn)數(shù)字成像系統(tǒng)是市場(chǎng)上獨(dú)有的可以全便攜、全電池、有線(xiàn)/無(wú)線(xiàn)操作的具有高檢測(cè)靈敏度的高科技設(shè)備。舟山DR無(wú)線(xiàn)平板探測(cè)器工作原理

直接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器中，X線(xiàn)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)決定于非晶硒層產(chǎn)生的電子-空穴對(duì)。舟山DR無(wú)線(xiàn)平板探測(cè)器工作原理

分析X射線(xiàn)系統(tǒng)成像原理;分析射線(xiàn)成像過(guò)程中圖像的噪聲,研究了相關(guān)射線(xiàn)圖像去噪算法,對(duì)相關(guān)算法做了改進(jìn),同時(shí)驗(yàn)證了改進(jìn)后算法的有效性;針對(duì)系統(tǒng)采集到的圖像偏暗,對(duì)比度不高的問(wèn)題,研究了相關(guān)射線(xiàn)圖像增強(qiáng)算法,提出了一種新的射線(xiàn)圖像增強(qiáng)算法,并對(duì)提出的算法的有效性進(jìn)行了驗(yàn)證;設(shè)計(jì)了圖像采集、顯示系統(tǒng)。論文設(shè)計(jì)了一套基于增感屏(CsI)+CCD相機(jī)的數(shù)字化X射線(xiàn)成像系統(tǒng),系統(tǒng)分辨率達(dá)到10lp/cm,整個(gè)系統(tǒng)具有圖像質(zhì)量高、體積小、重量輕且成本低的特點(diǎn)。該系統(tǒng)能夠滿(mǎn)足小物件的缺陷檢測(cè)和小面積成像的要求,適合在中小型企業(yè)推廣使用,應(yīng)用范圍比較廣。舟山DR無(wú)線(xiàn)平板探測(cè)器工作原理

洛陽(yáng)特特檢測(cè)設(shè)備有限公司是一家生產(chǎn)型類(lèi)企業(yè)，積極探索行業(yè)發(fā)展，努力實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品創(chuàng)新。公司是一家有限責(zé)任公司（自然）企業(yè)，以誠(chéng)信務(wù)實(shí)的創(chuàng)業(yè)精神、專(zhuān)業(yè)的管理團(tuán)隊(duì)、踏實(shí)的職工隊(duì)伍，努力為廣大用戶(hù)提供高品質(zhì)的產(chǎn)品。公司擁有專(zhuān)業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，具有數(shù)字超聲波探傷儀，陶瓷管X射線(xiàn)探傷機(jī)，滲透探傷劑等多項(xiàng)業(yè)務(wù)。洛陽(yáng)特特檢測(cè)設(shè)備自成立以來(lái)，一直堅(jiān)持走正規(guī)化、專(zhuān)業(yè)化路線(xiàn)，得到了廣大客戶(hù)及社會(huì)各界的普遍認(rèn)可與大力支持。