耗散因子(DF值)耗散因子是決定電容內部功率耗散的一個物理量，越小越好，一般DF值隨頻率增加而增加。損耗大小對產品使用影響及可靠性影響說明：損耗（DF值）是表征鉭電容器本身電阻能夠造成的無效功耗比例的一個參數，損耗較小的產品ESR也將較小。但損耗大小的微小差別不會對使用造成明顯影響，對工作狀態的產品的可靠性影響與容量偏差的影響相比較大，但與產品漏電流大小和ESR大小對使用時的可靠性的影響相比仍然較小（漏電流大小和ESR大小影響>損耗大小影響>容量偏差的影響），濾波時如果產品的損耗較大，濾波效果差一些。同時，損耗較大的產品的抗浪涌能力也較差。3.4阻抗，等效串聯阻抗(ESR)&感抗ESR是決定電容濾波性能的一個重要指標，鉭電容的ESR主要是由引腳和內部電極阻抗引起，是電容在高頻上表現的一個很重要的參數，一般來講，同容量，同電壓值的鉭電容的ESR要低于電解電容，但要高于多層陶瓷電容，ESR隨著頻率和溫度的增加而減少，ESR=DF/WC。在諧振頻率以下，電容的阻抗是電容的容抗和ESR的矢量和，在電容產生諧振以后，電容的阻抗是電容的感抗和ESR矢量和。鉭電容的種類繁多，可以根據不同的應用需求選擇不同的類型。CAK45W-F-25V-22uF-K

鉭電容器使用時的生產過程因素導致的失效，很多用戶往往只注意到鉭電容器性能的選擇和設計,而對于貼片鉭電容安裝使用時容易出現的問題視而不見;舉例如下;A,不使用自動貼裝而使用手工焊接,產品不加預熱,直接使用溫度高于300度的電烙鐵較長時間加熱電容器,導致電容器性能受到過高溫度沖擊而失效.B,手工焊接不使用預熱臺加熱,焊接時一出現冷焊和虛焊就反復使用烙鐵加熱產品.C,使用的烙鐵頭溫度甚至達到500度.這樣可以焊接很快,但非常容易導致片式元氣件失效貼片鉭電容實際使用時的可靠性實際上可以通過計算得出來,而我們的很多用戶使用時設計余量不夠,魯棒性很差,小批實驗通過純屬僥幸,在批生產時出現一致性質量問題.此時,問題原因往往簡單被推到電容器生產商身上,忽略對設計可靠性的查找.鉭電容器使用時的無故障間隔時間MTBF對于很多用戶來講還是一個陌生的概念.很多使用者對可靠性工程認識膚淺.過于重視實驗而忽略數學計算.導致分電路設計可靠性比整機可靠性低,因此,批量生產時不斷出現問題.不懂得失效是一個概率問題,非簡單的個體問題.實際上鉭電容器使用時容易出現的故障原因和現象還很多,無法在此一一論述.如果有使用時的新問題,可以及時交流.CAK45W-F-25V-22uF-K鉭電容的自恢復能力和動作閾值等參數需要根據實際應用進行調整和優化，以保證電路的安全運行。

鉭電容簡介和基本結構固體鉭電容是將鉭粉壓制成型,在高溫爐中燒結成陽極體,其電介質是將陽極體放入酸中賦能,形成多孔性非晶型Ta2O5介質膜,其工作電解質為硝酸錳溶液經高溫分解形成MnO2,通過石墨層作為引出連接用。鉭電容性能優越，能夠實現較大容量的同時可以使體積相對較小，易于加工成小型和片狀元件，適宜目前電子器件裝配自動化，小型化發展，得到了***的應用，鉭電容的主要特點有壽命長，耐高溫，準確度高，但耐電壓和電流能力相對較弱，一般應用于電路大容量濾波部分。

參數和選型鉭電容器的漏電流和工作溫度之間的關系鉭電容器的漏電流會隨使用溫度的增加而增加,此曲線稱作漏電流溫度曲線.但不同廠家生產的相同規格的產品，常常由于生產工藝和使用的原材料及設備精度不同而高溫漏電流變化存在非常大的差別.高溫漏電流變化大的產品在高溫狀態會由于自己產生的熱量的不斷累積而**終出現擊穿現象.高溫漏電流變化小的產品在高溫下長時間工作，產品的穩定性和可靠性將較高.因此高溫時產品漏電流變化率的大小可以決定鉭電容器的可靠性.對于片式鉭電容器,高溫性能高低對可靠性有決定性的影響.3.2漏電流VS電壓：漏電流的測試一般是在20℃時施加額定電壓進行測試，在測量電路中與電容串接一1000OHM保護電阻，充電一到五分鐘(KEMET、VISHAY、AVX為兩分鐘、SANYO為五分鐘)，然后測出漏電流。鉭電容在電子設備中的使用數量和類型需要根據設備的性能要求和使用環境等因素進行合理規劃。

電路峰值輸出電流過大(使用電壓合適)鉭電容器在工作時可以安全承受的比較大直流電流沖擊I,與產品自身等效串聯電阻ESR及額定電壓UR存在如下數學關系;I=UR/1+ESR如果一只容量偏低的鉭電容器使用在峰值輸出電流很大的電路,這只產品就有可能由于電流過載而燒毀.這非常容易理解.3.鉭電容器等效串聯電阻ESR過高和電路中交流紋波過高導致的失效當某只ESR過高的鉭電容器使用在存在過高交流紋波的濾波電路,即使是使用電壓遠低于應該的降額幅度,有時候,在開機的瞬間仍然會發生突然的擊穿現象;出現此類問題的主要原因是電容器的ESR和電路中的交流紋波大小嚴重不匹配.電容器是極性元氣件,在通過交流紋波時會發熱,而不同殼號大小的產品能夠維持熱平衡的容許發熱量不同.由于不同容量的產品的ESR值相差較高,因此,不同規格的鉭電容器能夠安全耐受的交流紋波值也相差很大,因此,如果某電路中存在的交流紋波超過使用的電容器可以安全承受的交流紋波值,產品就會出現熱致擊穿的現象.同樣,如果電路中的交流紋波一定,而選擇的鉭電容器的實際ESR值過高,產品也會出現相同的現象.一般來說,在濾波和大功率充放電電路,必須使用ESR值盡可能低的鉭電容器.對于電路中存在的交流紋波過高而導致的電容失效問題在高電壓應用中，鉭電容具有較好的耐壓性能，能夠保證電路的安全運行。CAK45W-D-25V-10uF-K

在維修鉭電容時，需要遵循安全規范和操作流程，確保人員和設備的安全。CAK45W-F-25V-22uF-K

電容失效模式,機理和失效特點對于鉭電容，失效與其他類型的電容一樣,也有電參數變化失效、短路失效和開路失效三種。由于鉭電容的電性能穩定,且有獨特的“自愈”特性,鉭電容鮮有參數變化引起的失效，鉭電容失效大部分是由于電路降額不足，反向電壓，過功耗導致，主要的失效模式是短路。另外,根據鉭電容的失效統計數據,鉭電容發生開路性失效的情況也極少。因此,鉭電容失效主要表現為短路性失效。鉭電容短路性失效模式的機理是:固體鉭電容的介質Ta2O5由于原材料不純或工藝中的原因而存在雜質、裂紋、孔洞等疵點或缺陷,鉭塊在經過高溫燒結時已將大部分疵點或缺陷燒毀或蒸發掉,但仍有少量存在。在賦能、老煉等過程中,這些疵點在電壓、溫度的作用下轉化為場致晶化的發源地—晶核;在長期作用下,促使介質膜以較快的速度發發生物理、化學變化,產生應力的積累,到一定時候便引起介質局部的過熱擊穿。如果介質氧化膜中的缺陷部位較大且集中,一旦在熱應力和電應力作用下出現瞬時擊穿,則很大的短路電流將使電容迅速過熱而失去熱平衡,鉭電容固有的“自愈”特性已無法修補氧化膜,從而導致鉭電容迅速擊穿失效。CAK45W-F-25V-22uF-K