什么是光譜共焦技術？光譜共焦位移傳感器提供比較好的技術以滿足非接觸尺寸測量**苛刻的要求。基于使用空間彩色編碼的創新光學原理，光譜共焦傳感器使用戶能夠以非凡的精確度對任何類型的材料進行測量。傳感器適用于絕大多數行業：計量或研究實驗室中的高精度儀器，工業生產線上的質量控制。用于工業環境中的設計，傳感器的各系列，吸引集成器與測量檢測機器輕松連接，這歸功于為每臺儀器提供的動態鏈接庫（DLL）。光譜共焦成像基于2個原則：l共焦成像l光軸的彩色編碼。共焦裝置是一種光學裝置，光學系統在物體的表面上產生點光源S的圖像S’。反向散射光由相同的光學系統收集，該光學系統在***S’’處成像。***被置于光電探測器的前面，它過濾可以到達光電探測器的光線，因此它也被稱為“空間濾波器”。共焦裝置的特點是具有特殊的信噪比。按照CCI原理，光學系統是彩色光學頭，光電探測器是一個光譜儀。馬波斯測量科技為您提供專業的光譜共焦傳感器。安徽Marposs 傳感器價格

光譜共焦位移傳感器原理介紹一束白光點光源，通過色散透鏡發生光譜色散，形成不同波長的單色光，每個波長的都有一個完美聚焦點且對應一個相對高度距離值（測量范圍）。測量時所有波段的光射到物體表面被原路反射到半透半反射鏡并重新聚焦，只有在被測物體上完美聚焦S‘點的波段的光才會通過共焦點小孔S“并被光譜儀感測到，其他波長的光被擋在小孔之外，通過計算進入小孔的光譜波長換算出相對距離。面白光干涉傳感器白光干涉測量**于非接觸式快速測量，精密零部件之重點部位的表面粗糙度、平面度、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、面形輪廓及臺階段差尺寸，其測量精度可以達到納米級！目前，在3D測量領域，白光干涉儀是精度比較高的測量儀器之一安徽Marposs 傳感器價格光譜共焦傳感器，就選馬波斯測量科技，用戶的信賴之選，有想法的不要錯過哦！

在半導體行業應用：LED芯片三維測量LED晶圓光學檢測BGA半導體封裝光伏晶圓表面形貌測量涂層厚度時與部件無任何接觸。激光和紅外傳感器可分析2至50厘米距離的涂層。這意味著可以在工業涂層環境中測量部件，即使它們位于移動產線上、在高溫環境中，甚至易碎或潮濕環境中。由于激光束產生的熱量極少，因此測量過程中涂層和部件都不會被損壞或改變。因此，對于那些迄今已有的方法會破壞測試樣品的工業運用，它也可以系統地測量每個部件。測量通常不到一秒鐘，具有高度重復性。這樣可以控制高達100％的涂層部件，嚴格遵循涂層工藝性能并實時反應以保持比較好狀

應用：玻璃外形輪廓測量CCSPrima+CL3-MG140手機屏幕與金屬外框的間隙檢測MPLS180+MicroView3D玻璃內表面弧度的測量大角度輪廓測量玻璃表面瑕疵檢測CL3-MG70+STILDUO玻璃表面微小劃傷檢測MC2精密制造行業精密制造產品，內部一般由很多細小復雜的零件組成。以代表性的手表來舉例，其制造流程和工藝雖比不上汽車、飛機工業的復雜程度，但其內部**小小超過100多個細小復雜的零件組裝在表盤內，稍微出現組裝疏忽將會導致手表不能正常運，產品品質不能經得起考驗。馬波斯測量科技光譜共焦傳感器獲得眾多用戶的認可。

什么是光譜共焦干涉儀？非接觸式輪廓測量技術中的測量精度，通常受機械振動和微掃描臺位置不準確的限制。為不再受此類環境干擾，開發了對振動不敏感的全新干涉測量法。采用這種新型干涉儀系統，干涉儀顯微鏡的精度可達亞納米級。光譜共焦干涉測量原理干涉測量法基于白光干涉圖（SAWLI）的光譜分析。它包括分析在光譜儀上觀察到的干擾信號，以便測量參比板和樣品之間的氣隙厚度。成熟系統的**性在于將參考板固定在檢測目標上。由于參考板和樣品固定在一起，機械振動不會影響測量結果。此外，該傳感器可用于測量太薄而不允許使用光譜共焦技術的透明薄膜。**小可測厚度為0.4μm。馬波斯測量科技是一家專業提供光譜共焦傳感器的公司，歡迎您的來電哦！遼寧非接觸式傳感器廠家

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應用范圍：光譜共聚焦傳感器既可用于工業環境中，也可用于生產過程中的在線檢測以及實驗室環境中的高精度儀器。他們主要涵蓋以下內容：l微形貌（測量樣品的形狀和表面特征）l尺寸控制（測試制造產品的特定尺寸是否符合規格）l質量控制(制造產品缺陷的識別和特征描述）l粗糙度測量（測量樣品表面的統計特征）l摩損度（表征機械或化學侵蝕）l厚度測量光譜共焦傳感器完全符合涉及3D真實表面紋理的測量和分析的ISO25178標準。此外，此標準第601章節致力于非接觸式表面測量，引用CCI作為***參考技術原理安徽Marposs 傳感器價格