激光干涉儀是一種高精度的測量工具，以下是對其的詳細介紹：一、定義與原理激光干涉儀是以激光波長為已知長度，利用邁克爾遜干涉系統測量位移的通用長度測量工具。其工作原理基于干涉原理，即當兩束波重疊并結合時，會產生新的波形模式。在激光干涉儀中，激光束被分為兩路，一路經固定反射鏡反射，另一路經可動反射鏡反射，兩束光重新匯合時產生干涉條紋。當可動反射鏡移動時，干涉條紋的光強變化被轉換為電信號，進而計算出位移量。光束分割：通過分束器將激光束分成兩部分，通常稱為參考光束和測量光束。張家港耐用雙頻激光干涉儀單價

激光干涉儀，以激光波長為已知長度，利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量。激光具有**度、高度方向性、空間同調性、窄帶寬和高度單色性等優點。目前常用來測量長度的干涉儀，主要是以邁克爾遜干涉儀為主，并以穩頻氦氖激光為光源，構成一個具有干涉作用的測量系統。激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測量工作，并可作為精密工具機或測量儀器的校正工作。英文名稱：laser interferometer（激光干涉儀）相城區安裝雙頻激光干涉儀單價雙頻激光干涉儀以波長作為標準對被測長度進行度量的儀器。

激光的出現在世界計量史上具有重大的意義。用穩頻的氦氖激光器作為光源，由于它的相干長度很大，干涉儀的測量范圍可以**的擴展；而且由于它的光束發散角小，能量集中，因而它產生的干涉條紋可以用光電接收器接收，變為電訊號，并由計數器一個不漏的記錄下來，從而提高了測量速度和測量精度，比如說我國自行設計與制造的以氦氖激光器作為光源的光電光波比長儀，可以在20分鐘之內把1米線紋尺上1001條刻線依次自動鑒定完畢，精度達到±0.2μm，這就是激光干涉儀的成功例證。

(1)接受信號為交流信號，前置放大器為高倍數的交流放大器，不用直流放大，故沒有零點漂移等問題。(2)利用多普勒效應，計數器計頻率差的變化，不受激光強度和磁場變化的影響。在光強度衰減90%時仍可得到滿意的信號，這對于遠距離測量是十分重要的，同時在近距離測量時又能簡化調整工作。(3)測量精度不受空氣湍流的影響，無需預熱時間。用激光干涉儀作為機床的測量系統可以提高機床的精度和效率。起初*用于高精度的磨床、鏜床和坐標測量機上，以后又用于加工中心的定位系統中。邁克爾遜干涉儀：由阿爾伯特·邁克爾遜發明，主要用于測量光的波長、干涉條紋的變化等。

（1）幾何精度檢測 可用于檢測直線度、垂直度、俯仰與偏擺、平面度、平行度等。（2）位置精度的檢測及其自動補償 可檢測數控機床定位精度、重復定位精度、微量位移精度等。利用雷尼紹ML10激光干涉儀不僅能自動測量機器的誤差，而且還能通過RS232接口自動對其線性誤差進行補償，比通常的補償方法節省了大量時間，并且避免了手工計算和手動數控鍵入而引起的操作者誤差，同時可比較大限度地選用被測軸上的補償點數，使機床達到比較好精度，另外操作者無需具有機床參數及補償方法的知識。實時測量：可以實現實時監測和數據采集，適合動態測量。張家港耐用雙頻激光干涉儀單價

它通過將光束分成兩部分，分別經過不同的路徑后再合并，形成干涉圖樣。張家港耐用雙頻激光干涉儀單價

基于菲索干涉儀的等厚干涉原理設計，通過對比被測平面與標準參照鏡的干涉條紋變化，實現光學元件表面形狀誤差和材料均勻性的非接觸式測量 [1] [3-4]。標準參照鏡面形精度通常達到p-v:λ/20 [3-4]。測量口徑：Φ60mm（典型型號） [3-4]對準方式：兩點對準系統 [3-4]結構特性：小型化設計、防塵性能優異 [3-4]精度范圍：根據型號不同覆蓋1/10-1/100波長梯度 [11.光學制造：檢測平面鏡、棱鏡等光學元件表面面型2.質量檢測：評估光學材料均勻性與透鏡波前像差 [1]3.科研實驗：實驗室環境下進行精密光學計量分析張家港耐用雙頻激光干涉儀單價

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