石油和天然氣D2PHASER是一種移動式的臺式X射線衍射儀(XRD),可用于鑒定地質樣品中的塊狀和黏土礦物。此外,X射線衍射(XRD)是分析頁巖層所必不可少的技術,可進行礦物學定性和定量表征。X射線衍射在石化業:使用D2PHASER識別膨脹性粘土(PDF)X射...
D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,是面向多用途、多用戶實驗室的X射線平臺。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求,包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延):典型的X射線粉末衍射(XRD)對分布函數(PDF)分析小角X射線散...
藥物:從藥物發現到藥物生產,D8D為藥品的整個生命周期提供支持,其中包括結構測定、候選材料鑒別、配方定量和非環境穩定性測試。地質學:D8D是地質構造研究的理想之選。借助μXRD,哪怕是對小的包裹體進行定性相分析和結構測定也不在話下。金屬:在常見的金屬樣品檢測技...
X射線粉末衍射(XRPD)技術是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,您將能簡單地實施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相...
介孔分子篩SBA-15結構分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結構,具有更大的孔徑、更厚的孔壁和更高的孔容,而且具有更好的水熱穩定性,有利于它在溫度較高、體系中有水的反應中應用,因此在催化、分離、生物及納米材料等領域有應用前景。SBA-15結...
BRAGG2D——監控樣品制備的質量樣品制備過程中的系統誤差,是分析誤差的重要來源。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像,將樣品制備問題可視化,如粒徑或擇優取向。避免就統計而言沒有代表性的測量結果。運營成本低不消耗水硅條帶探測器技術,無需使用探測器...
API多晶型分析引言2015版藥典附錄新增“9105多晶型藥品的質量控制技術和方法指導原則”:指出固體藥物及其制劑中粗在多晶型現象隨時,應使用“優勢藥物晶型物質狀態“為藥物原料及其制劑晶型,以保證藥品臨床有效性、安全性與質量可控性。說明目前藥物行業對晶型的重視...
薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到...
當石墨(002)衍射峰峰形對稱性很差時,如圖2,樣品中可能含有多種不同石墨化度的組分存在(當然,也可能是由于非晶碳或無定形碳的存在。需要對衍射峰進行分峰處理,得到各個子峰的峰位和積分強度值,如圖2所示。分別計算各子峰的石墨化度,再利用各子峰的積分強度為權重,歸...
由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時...
D8ADVANCEECO是一款功能齊全的D8ADVANCE衍射儀的經濟型版本,是D8衍射儀系列平臺的入門款。隨著采購和維護X射線分析的資源愈發有限,人們對準確性、精度和速度的要求也達到了前所未有的高度。D8ADVANCEECO即理想的解決方案:較小的生態足跡、...
汽車和航空航天:配備了UMC樣品臺的D8D的一大優勢就是可以對大型機械零件進行殘余應力和結構分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征。半導體與微電子:從過程開發到質量控制,D8D可以對亞毫米至300mm大小的樣品進行結構表征。制藥業篩選:新結構測定以及多晶篩選是藥物開...
制劑中微量API的晶型檢測引言藥物制劑生產過程中除需添加各種輔料外,往往還需要經過溶解、研磨、干燥(溫度)、壓片等工藝過程,在此過程中API的晶型有可能發生改變,進而可能影響到藥物的療效。國內外FDA規定多晶型藥物在研制、生產、貯存過程中必須保證其晶型的一致性...
X射線粉末衍射(XRPD)技術是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,您將能簡單地實施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相...
布魯克獨有的DBO功能為X射線衍射的數據質量樹立了全新的重要基準。馬達驅動發散狹縫、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能,可為您提供的數據質量——尤其是在低2?角度時。除此之外,LYNXEYE全系列探測器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和L...
蒙脫石散及雜質的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急、慢性腹瀉的藥物。蒙脫石散的主要成分為層狀結構的粘土礦物蒙脫石。根據中國藥典,蒙脫石散的鑒別和雜質含量的分析的主要手段為XRD。不論在何種應用場合,它都是值得您選擇的探測器:高的計數率、動態范圍和能量分...
X射線粉末衍射(XRPD)技術是重要的材料表征工具之一。粉末衍射圖中的許多信息,直接源于物相的原子排列。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,您將能簡單地實施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相...
波特蘭水泥熟料礦相定量分析引言水泥和熟料的物理化學性能,比如凝結性能和強度變化等,不光是由化學組成所決定的,而主要是由其礦物組成所決定的。傳統的熟料物相分析采用BOGUE計算方法或熟料顯微鏡分析方法。這些方法的缺點是眾所周知的。目前有效的熟料礦相定量分析方法是...
殘余應力分析::在DIFFRAC.LEPTOS中,使用sin2psi法,用Cr輻射進行測量,對鋼構件的殘余應力進行分析。使用了2D檢測器的μXRD:使用DIFFRAC.EVA,測定小區域結構特性。通過積分2D圖像,進行1D掃描,來進行定性相分析和微觀結構分析。...
XRD檢測納米二氧化鈦晶粒尺寸引言納米材料的性能往往和其晶粒大小有關,而X射線衍射是測定納米材料晶尺寸的有效方法之一。晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計算Dhkl:晶粒尺寸,垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高寬(或展寬)θ:...
D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀,帶有諸多前沿技術組件。它專為在環境條件下和非環境條件下,對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結構表征而設計。應用范圍:1.定性相分析和定量相分析、結構測定和精修、微應變和微晶尺寸分析2.X射線反射...
超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節點技術的發展,薄膜厚度越來越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm。在該技術節點的a20范圍內。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,XRR是的測量技術...
D8DISCOVER特點:微焦源IμS配備了MONTEL光學器件的IμS微焦源可提供小X射線束,非常適合小范圍或小樣品的研究。1.毫米大小的光束:高亮度和很低背景2.綠色環保設計:低功耗、無耗水、使用壽命延長3.MONTEL光學器件可優化光束形狀和發散度4.與...
對分布函數分析對分布函數(PDF)分析是一種分析技術,它基于Bragg衍射以及漫散射(“總散射”),提供無序材料的結構信息。其中,您可以通過Bragg衍射峰,了解材料的平均晶體結構的信息(即長程有序),通過漫散射,表征其局部結構(即短程有序)。就分析速度、數據...
薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到...
材料屬性D2PHASER是一款便攜的臺式XRD儀器,主要用于研究和質控。您可以使用TOPAS軟件提供的基本參數方法研究晶體結構、研究快速可靠的SAXS測量的納米結構或研究微觀結構(微晶尺寸)。SAXS—分析SBA-15介觀催化劑(PDF)Er-Melilite...
所有維度都非常好的數據質量不論在何種應用場合,它都是您的可選的探測器:高的計數率、動態范圍和能量分辨率,峰位精度布魯克提供基于NIST標樣剛玉(SRM1976c)整個角度范圍內的準直保證,面向未來的多用途采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時,將用戶...
D8ADVANCEECO可提供高亮度1kW線焦點X射線源,其能耗極低,無需外設水冷,對實驗室基礎設施亦無特殊要求。您只需準備家用壁式插座即可。因此,您將能簡單快捷地完成安裝和定位。D8ADVANCEECO將在分析性能不打折扣的前提下,將擁有成本和立式XRD儀器...
薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒定、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析(從非晶和多晶涂層到...
石油和天然氣D2PHASER是一種移動式的臺式X射線衍射儀(XRD),可用于鑒定地質樣品中的塊狀和黏土礦物。此外,X射線衍射(XRD)是分析頁巖層所必不可少的技術,可進行礦物學定性和定量表征。X射線衍射在石化業:使用D2PHASER識別膨脹性粘土(PDF)X射...