SKYSCAN1275–QualityinspectionAdditiveManufacturingAdditiveManufacturedpartBedfusion,pureAlpowderCourtesyofIRTDuppigheimScanConditi...
薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析,從非晶和...
地質、石油和天然氣勘探?常規(guī)和非常規(guī)儲層全尺寸巖心或感興趣區(qū)的高分辨率成像?測量孔隙尺寸和滲透率,顆粒尺寸和形狀?測量礦物相在3D空間的分布?原位動態(tài)過程分析聚合物和復合材料?以
材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品,因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動:X軸25mm、Y軸70mm和Z軸52mm,可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品;緊湊型尤...
當石墨(002)衍射峰峰形對稱性很差時,如圖2,樣品中可能含有多種不同石墨化度的組分存在(當然,也可能是由于非晶碳或無定形碳的存在。需要對衍射峰進行分峰處理,得到各個子峰的峰位和積分強度值,如圖2所示。分別計算各子峰的石墨化度,再利用各子峰的積分強度為權重,歸...
由于具有出色的適應能力,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的:配置儀器時,免工具、免準直,同時...
薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析,從非晶和...
RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個納米到幾個微米之間的單層或者多層材料。由于厚度比較薄,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上。常規(guī)的XRD測試,X射線的穿透深度一般在幾個微米到幾十個微米,這遠遠大于薄膜的厚度,導致薄膜的信號會受到襯底的...
特點介紹SkyScan1272是一臺具有革新意義的高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)統(tǒng)。單次掃描比較高可獲得2000張,每張大小為146M(12069x12069像素)的超清無損切片,用于之后高分辨三維重建。通過先進的相襯增強技術,SkyScan1272對樣品的細節(jié)...
制劑中微量API的晶型檢測引言藥物制劑生產過程中除需添加各種輔料外,往往還需要經過溶解、研磨、干燥(溫度)、壓片等工藝過程,在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,進而可能影響到藥物的療效。國內外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制、生產、貯存過程中必須保證其晶型的一致性...
對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術,它基于Bragg衍射以及漫散射(“總散射”),提供無序材料的結構信息。其中,您可以通過Bragg衍射峰,了解材料的平均晶體結構的信息(即長程有序),通過漫散射,表征其局部結構(即短程有序)。就分析速度、數(shù)據(jù)...
SKYSCAN1273的大樣品室能容納的樣品,比通過單個探測器視場所能掃描的范圍還要大。通過分段式掃描和探測器偏置掃描,SKYSCAN1273可以掃描直徑達到250mm和長度達到250mm的大型物體。3D.SUITE可自動和無縫地將超大尺寸的圖像拼接到一起。S...
SKYSCAN1273的大樣品室能容納的樣品,比通過單個探測器視場所能掃描的范圍還要大。通過分段式掃描和探測器偏置掃描,SKYSCAN1273可以掃描直徑達到250mm和長度達到250mm的大型物體。3D.SUITE可自動和無縫地將超大尺寸的圖像拼接到一起。S...
薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同,不過進一步提供了光束調節(jié)和角度控制功能。典型示例包括但不限于相鑒別、晶體質量、殘余應力、織構分析、厚度測定以及組分與應變分析。在對薄膜和涂層進行分析時,著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析,從非晶和...
對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術,它基于Bragg衍射以及漫散射(“總散射”),提供無序材料的結構信息。其中,您可以通過Bragg衍射峰,了解材料的平均晶體結構的信息(即長程有序),通過漫散射,表征其局部結構(即短程有序)。就分析速度、數(shù)據(jù)...
SKYSCAN1272High-Resolution3DX-rayMicroscopySpace-savingdesktopsystemwithminimuminstallationrequirementsdomesticpowerplug,nowateror
特點:X射線源:涵蓋各領域應用,從有機物到金屬樣品標稱分辨率(放大倍數(shù)下的像素尺寸):檢測樣品極小的細節(jié)X射線探測器:3MP(1,944x1,536)有效像素的CMOS平板探測器,高讀取速度,高信噪比樣品尺寸:適用于小-中等尺寸樣品輻射安全:滿足國際安全要求供...
淀粉結晶度測定引言淀粉結晶度是表征淀粉顆粒結晶性質的一個重要參數(shù),也是表征淀粉材料類產品性質的重要參數(shù),其大小直接影響著淀粉產品的應用性能、淀粉材料的物理和機械性能。X射線衍射法(XRD)加全譜擬合法測定淀粉顆粒結晶度常用的方法之一。結晶度對于含有非晶態(tài)的聚合...
石墨化度分析引言石墨及其復合材料具有高溫下不熔融、導電導熱性能好以及化學穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,應用于冶金、化工、航空航天等行業(yè)。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,進一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經過煅燒破碎、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料。石...
SKYSCAN1272SampleDimensionsMax.samplesizeforhighestresolution(0.4μm):2mm(insideFOV)/5mm(truncated)Largestrepresentativesamplediame
SKYSCAN2214研究地質樣品——無論是地下深處的巖心樣品還是地面之上的巖石,能為探索我們所在世界的形成過程提供豐富的信息。分析時通常需要破壞原始樣品,消除內部結構的重要起源。XRM可在無需切片的情況下分析樣品,因而能夠更快地得到結果,也使樣品未來能夠繼續(xù)...
制造業(yè):1.在鑄造、機械加工和增材制造過程中,檢測下次、分析孔隙度,即使是封閉在內部的結構也可以檢測2.對增材制造過程中的再利用的金屬粉末進行質控。封裝:1.檢測先進的醫(yī)療工具2.檢測藥品包裝3.檢測復雜的機電裝配。地質學、石油天然氣:1.大尺寸地質巖心分析2...
布魯克的XRM解決方案包含收集和分析數(shù)據(jù)所需的所有軟件。直觀的圖形用戶界面結合用戶引導的參數(shù)優(yōu)化,既適用于專業(yè)用戶也適用于新手用戶。通過使用全新的GPU加速算法,重建時間被大為縮短。CTVOX、CTAN和CTVOL相結合,形成一個強大的軟件套件,支持對模型進行...
優(yōu)勢◆SKYSCAN1273真正注重空間可用性,臺式樣品腔可容納高達500mm、直徑達300mm的超大樣品,在過去,這通常需要使用落地式系統(tǒng)才能實現(xiàn)。◆它還配備了精巧的樣品座,能夠實現(xiàn)任何尺寸的樣品的準確定位。◆SKYSCAN1273強勁的性能,源于其配備的先...
SKYSCAN2214功能光源00:00/01:47高清1xSKYSCAN2214采用全新一代的開放型X光源。該光源可達到優(yōu)于500nm的實際空間分辨率,高達160keV的X光能量,以及高達16W的功率。因為擁有極其簡單的預先配準的燈絲更換程序,該光源幾乎不需...
所有測量都支持手動設置,從而確保為難度較大的樣本設置比較好參數(shù)。即使在分辨率低于5μm的情況下,典型掃描時間也在15分鐘以內。無隱性成本:一款免維護的桌面μCT封閉式X射線管支持全天候工作,不存在因更換破損的燈絲而停機的情況,為您節(jié)約大量時間和成本。X射線源:...
高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)━內部結構非破壞性的成像技術眼見為實!這是我們常常將顯微鏡應用于材料表征的原因。傳統(tǒng)的顯微鏡利用光或電子束,對樣品直接進行成像。其他的,如原子力顯微鏡(AFM),則利用傳感器來檢測樣品表面。這些方法都能夠提供樣品表面/近表面結構或特...
§CTAn二維/三維圖像處理和分析CT-Analyser(即CTAn)可以針對顯微CT結果進行準確、詳細的形態(tài)學與密度學研究。借助強大、靈活和可編程的圖像處理工具,可以通過一系列分割、增強和測量功能,對任意切片或三維容積內部進行分析。多功能VOI選擇工具支持關...
§CTAn二維/三維圖像處理和分析CT-Analyser(即CTAn)可以針對顯微CT結果進行準確、詳細的形態(tài)學與密度學研究。借助強大、靈活和可編程的圖像處理工具,可以通過一系列分割、增強和測量功能,對任意切片或三維容積內部進行分析。多功能VOI選擇工具支持關...