鎖相熱成像系統的組件各司其職，共同保障了系統的高效運行。可調諧激光器作為重要的熱源，能夠提供穩定且可調節頻率的周期性熱激勵，以適應不同被測物體的特性；紅外熱像儀則如同 “眼睛”，負責采集物體表面的溫度場分布，其高分辨率確保了溫度信息的細致捕捉；鎖相放大器是系統的 “中樞處理器” 之一，專門用于從復雜的信號中提取與激勵同頻的相位信息，過濾掉無關噪聲；數據處理單元則對收集到的信息進行綜合處理和分析，**終生成清晰、直觀的缺陷圖像。這些組件相互配合、協同工作，每個環節的運作都不可或缺，共同確保了系統能夠實現高分辨率、高對比度的檢測效果，滿足各種高精度檢測需求。鎖相熱成像系統讓電激勵檢測更具實用價值。無損鎖相紅外熱成像系統工作原理

電子產業的功率器件檢測中，電激勵的鎖相熱成像系統發揮著至關重要的作用，為功率器件的安全可靠運行提供了有力保障。功率器件如 IGBT、MOSFET 等，在工作過程中需要承受大電流、高電壓，功耗較大，容易因內部缺陷而產生過熱現象，進而導致器件損壞，甚至引發整個電子系統的故障。通過施加接近實際工況的電激勵，鎖相熱成像系統能夠模擬功率器件的真實工作狀態，實時檢測器件表面的溫度分布。系統可以發現芯片內部的熱斑、柵極缺陷、導通電阻異常等問題，這些問題往往是功率器件失效的前兆。檢測獲得的溫度分布數據還能為功率器件的設計和生產提供重要參考，幫助工程師優化器件的結構設計和制造工藝，提高產品的可靠性。例如，在新能源汽車的電機控制器功率器件檢測中，該系統能夠檢測出器件內部的微小熱斑，提前預警潛在故障，保障新能源汽車的行駛安全。制造鎖相紅外熱成像系統平臺鎖相熱成像系統提升電激勵檢測的抗干擾能力。

在當今高科技蓬勃發展的時代，鎖相紅外熱成像系統也成其為“RTTLIT"以其獨特的優勢，正逐漸成為紅外檢測領域的新寵。該系統采用先進的鎖相技術，能夠捕捉目標物體的微小溫度變化，為各行業提供前所未有的熱成像解決方案。鎖相紅外熱成像系統優勢在于其高靈敏度和高分辨率的熱成像能力。無論是在復雜的工業環境中，還是在精密的科研實驗中，該系統都能以超凡的性能，準確快速地識別出熱異常，從而幫助用戶及時發現問題，有效預防潛在風險。

從技術原理來看，該設備構建了一套完整的 “熱信號捕捉 - 解析 - 成像” 體系。其搭載的高性能探測器（如 RTTLIT P20 采用的 100Hz 高頻深制冷型紅外探測器）能敏銳捕捉中波紅外波段的熱輻射，配合 InGaAs 微光顯微鏡模塊，可同時實現熱信號與光子發射的同步觀測。在檢測過程中，設備先通過熱紅外顯微鏡快速鎖定可疑區域，再啟動 RTTLIT 系統的鎖相功能：施加周期性電信號激勵后，缺陷會產生與激勵頻率同步的微弱熱響應，鎖相模塊過濾掉環境噪聲，將原本被掩蓋的熱信號放大并成像。這種 “先定位、再聚焦” 的模式，既保證了檢測效率，又突破了傳統設備對微弱信號的檢測極限。電激勵模式多樣，適配鎖相熱成像系統不同需求。

熱紅外顯微鏡（Thermal EMMI) 也是科研與教學領域的利器，其設備能捕捉微觀世界的熱信號。它將紅外探測與顯微技術結合，呈現物體表面溫度分布，分辨率達微米級，可觀察半導體芯片熱點、電子器件熱分布等。非接觸式測量是其一大優勢，無需與被測物體直接接觸，避免了對樣品的干擾，適用于多種類型的樣品檢測。實時成像功能可追蹤動態熱變化，如材料相變、化學反應熱釋放。在高校，熱紅外顯微鏡助力多學科實驗；在企業，為產品研發和質量檢測提供支持，推動各領域創新突破。電激勵與鎖相熱成像系統，實現微缺陷檢測。長波鎖相紅外熱成像系統成像

非接觸式檢測在不破壞樣品的情況下實現成像，適用于各種封裝狀態的樣品，包括未開封的芯片和PCBA。無損鎖相紅外熱成像系統工作原理

致晟光電在推動產學研一體化進程中，積極開展校企合作。公司依托南京理工大學光電技術學院，專注開發基于微弱光電信號分析的產品及應用。雙方聯合攻克技術難題，不斷優化實時瞬態鎖相紅外熱分析系統（RTTLIT），使該系統溫度靈敏度可達0.0001℃，功率檢測限低至1uW，部分功能及參數優于進口設備。此外，致晟光電還與其他高校建立合作關系，搭建起學業-就業貫通式人才孵化平臺。為學生提供涵蓋研發設計、生產實踐、項目管理全鏈條的育人平臺，輸送了大量實踐能力強的專業人才，為企業持續創新注入活力。通過建立科研成果產業孵化綠色通道，高校的前沿科研成果得以快速轉化為實際生產力，實現了高校科研資源與企業市場轉化能力的優勢互補。無損鎖相紅外熱成像系統工作原理