北京激光光刻膠國產廠家
來源：
發布時間：2025-07-09
去除殘留光刻膠（去膠）常采用氧等離子體灰化或濕法化學清洗。北京激光光刻膠國產廠家
關鍵工藝流程
涂布與前烘：
? 旋涂或噴涂負性膠，厚度可達1-100μm（遠厚于正性膠），前烘溫度60-90℃，去除溶劑并增強附著力。
曝光：
? 光源以**汞燈G線（436nm）**為主，適用于≥1μm線寬，曝光能量較高（約200-500mJ/cm2），需注意掩膜版與膠膜的貼合精度。
顯影：
? 使用有機溶劑顯影液（如二甲苯、醋酸丁酯），未曝光的未交聯膠膜溶解，曝光的交聯膠膜保留。
后處理：
? 后烘（Post-Bake）：加熱（100-150℃）進一步固化交聯結構，提升耐干法蝕刻或濕法腐蝕的能力。
先進制程瓶頸突破
KrF/ArF光刻膠的量產能力提升直接推動7nm及以下制程的國產化進程。例如，恒坤新材的KrF光刻膠已批量供應12英寸產線，覆蓋7nm工藝，其工藝寬容度較日本同類型產品提升30%。這使得國內晶圓廠（如中芯國際）在DUV多重曝光技術下，能夠以更低成本實現接近EUV的制程效果，緩解了EUV光刻機禁運的壓力。此外，武漢太紫微的T150A光刻膠通過120nm分辨率驗證，為28nm成熟制程的成本優化提供了新方案。
EUV光刻膠研發加速
盡管EUV光刻膠目前完全依賴進口，但國內企業已啟動關鍵技術攻關。久日新材的光致產酸劑實現噸級訂單，科技部“十四五”專項計劃投入20億元支持EUV光刻膠研發。華中科技大學團隊開發的“雙非離子型光酸協同增強響應”技術，將EUV光刻膠的靈敏度提升至0.5mJ/cm2，較傳統材料降低20倍曝光劑量。這些突破為未來3nm以下制程的技術儲備奠定基礎。
新型光刻技術融合
復旦大學團隊開發的功能型光刻膠，在全畫幅尺寸芯片上集成2700萬個有機晶體管，實現特大規模集成（ULSI）水平。這種技術突破不僅拓展了光刻膠在柔性電子、可穿戴設備等新興領域的應用，還為碳基芯片、量子計算等顛覆性技術提供了材料支撐。
光刻膠的工作原理：
1. 涂覆與曝光：在基底（如硅片、玻璃、聚合物）表面均勻涂覆光刻膠，通過掩膜（或直接電子束掃描）對特定區域曝光。
2. 化學變化：曝光區域的光刻膠發生光化學反應（正性膠曝光后溶解，負性膠曝光后交聯不溶）。
3. 顯影與刻蝕：溶解未反應的部分，留下圖案化的膠層，作為后續刻蝕或沉積的掩模，將圖案轉移到基底上。
在納米技術中，關鍵挑戰是突破光的衍射極限（λ/2），因此需依賴高能束曝光技術（如電子束光刻、極紫外EUV光刻）和高性能光刻膠（高分辨率、低缺陷）。
高分辨率光刻膠需滿足亞微米甚至納米級線寬的圖形化需求。北京激光光刻膠國產廠家
關鍵應用領域
半導體制造：
? 在晶圓表面涂覆光刻膠，通過掩膜曝光、顯影，刻蝕出晶體管、電路等納米級結構（如EUV光刻膠用于7nm以下制程）。
印刷電路板（PCB）：
? 保護電路圖形或作為蝕刻抗蝕層，制作線路和焊盤。
顯示面板（LCD/OLED）：
? 用于制備彩色濾光片、電極圖案等。
微機電系統（MEMS）：
? 加工微結構（如傳感器、執行器）。
工作原理（以正性膠為例）
1. 涂膠：在基材（如硅片）表面均勻旋涂光刻膠，烘干形成薄膜。
2. 曝光：通過掩膜版，用特定波長光線照射，曝光區域的光敏劑分解，使樹脂變得易溶于顯影液。
3. 顯影：用顯影液溶解曝光區域，留下未曝光的光刻膠圖案，作為后續刻蝕或離子注入的掩蔽層。
4. 后續工藝：刻蝕基材（保留未被光刻膠保護的區域），或去除光刻膠（剝離工藝）。
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