對于鉭電容器使用的電路,只有兩種;有電阻保護的電路和沒有電阻保護的低阻抗電路.對于有電阻保護的電路,由于電阻會起到降壓和抑制大電流通過的效果,因此,使用電壓可以達到鉭電容器額定電壓的60%.沒有電阻保護的電路有兩種;一;前級輸入已經經過整流和濾波,輸出穩定的充放電電路.在此類電路,電容器被當作放電電源來使用,由于輸入參數穩定沒有浪涌,因此,盡管是低阻抗電路,可安全使用的電壓仍然可以達到額定電壓的50%都可以保證相當高的可靠性.二;電子整機的電源部分;電容器并聯使用在此類電路,除了要求對輸入的信號進行濾波外,往往同時還兼有按照一定頻率和功率進行放電的要求.因為是電源電路,因此,此類電路的回路阻抗非常低,以保證電源的輸出功率密度足夠.在此類開關電源電路中[也叫DC-DC電路],在每次開機和關機的瞬間,電路中會產生一個持續時間小于1微秒的**度尖峰脈沖,其脈沖電壓值至少可以達到穩定的輸入值的3倍以上,電流可以達到穩態值的10倍以上,由于持續時間極短,因此,其單位時間內的能量密度非常高,如果電容器的使用電壓偏高,此時實際加在產品上的脈沖電壓就會遠遠超過產品的額定值而被擊穿.因此,使用在此類電路中的鉭電容器容許的使用電壓不能超過額定值的1/3.高頻電路中的鉭電容需要選擇具有較低等效串聯電阻的型號，以減少信號損失和噪聲。CAK351-40V-220uF-K-5

參數和選型鉭電容器的漏電流和工作溫度之間的關系鉭電容器的漏電流會隨使用溫度的增加而增加,此曲線稱作漏電流溫度曲線.但不同廠家生產的相同規格的產品，常常由于生產工藝和使用的原材料及設備精度不同而高溫漏電流變化存在非常大的差別.高溫漏電流變化大的產品在高溫狀態會由于自己產生的熱量的不斷累積而**終出現擊穿現象.高溫漏電流變化小的產品在高溫下長時間工作，產品的穩定性和可靠性將較高.因此高溫時產品漏電流變化率的大小可以決定鉭電容器的可靠性.對于片式鉭電容器,高溫性能高低對可靠性有決定性的影響.3.2漏電流VS電壓：漏電流的測試一般是在20℃時施加額定電壓進行測試，在測量電路中與電容串接一1000OHM保護電阻，充電一到五分鐘(KEMET、VISHAY、AVX為兩分鐘、SANYO為五分鐘)，然后測出漏電流。GCA55F-F-25V-100uF-M鉭電容在高溫和低溫環境下都能保持穩定的工作性能。

    固鉭因“不斷擊穿”又“不斷自愈”問題產生失效。在正常使用一段時間后常發生固鉭密封口的焊錫融化，或見到炸開，焊錫亂飛到線路板上。分析原因是其工作時“擊穿”又“自愈”，在反復進行，導致漏電流增加。這種短時間(ns～ms)的局部短路，又通過“自愈”后恢復工作。關于“自愈”。理想的Ta2O5介質氧化膜是連續性的和一致性的。加上電壓或高溫下工作時，由于Ta＋離子疵點的存在，導致缺陷微區的漏電流增加，溫度可達到500℃～1000℃以上。這樣高的溫度使MnO2還原成低價的Mn3O4。有人測試出Mn3O4的電阻率要比MnO2高4～5個數量級。與Ta2O5介質氧化膜相緊密接觸的Mn3O4就起到電隔離作用，防止Ta2O5介質氧化膜進一步破壞，這就是固鉭的局部“自愈了”。但是，很可能在緊接著的再一次“擊穿”的電壓會比前一次的“擊穿”電壓要低一些。在每次擊穿之后，其漏電流將有所增加，而且這種擊穿電源可能產生達到安培級的電流。同時電容器本身的儲存的能量也很大，導致電容器長久失效。

導電聚合物電容以高性能，小體積的優勢，在電子產品中的使用率逐漸上升，同時國內也涌現了一批貼片導電聚合物電容廠商，提前布局占領市場。導電聚合物電容以極低的ESR優勢，長壽命，相比鉭電容更高的安全性，在越來越多的產品中得到應用。充電頭網現在為大家介紹的是湖南湘怡中元科技推出的貼片導電聚合物鉭電容，導電聚合物鉭電容采用導電聚合物材料取代傳統鉭電容中的二氧化錳陰極，有效避免了傳統二氧化錳陰極鉭電容因反向電壓或過電流沖擊引發的爆燃或起火發生危險。同時導電聚合物陰極還提供相比二氧化錳陰極更好的電氣性能，不僅安全性大為提升，還無需像傳統鉭電容電壓大幅降額使用，并且導電聚合物鉭電容的ESR和ESL都得到明顯降低，可以在更高頻率使用。由于鉭電容的陽極氧化物具有自愈特性，所以它們比鋁電容更可靠，并能承受更高的工作電壓。

電路峰值輸出電流過大(使用電壓合適)鉭電容器在工作時可以安全承受的比較大直流電流沖擊I,與產品自身等效串聯電阻ESR及額定電壓UR存在如下數學關系;I=UR/1+ESR如果一只容量偏低的鉭電容器使用在峰值輸出電流很大的電路,這只產品就有可能由于電流過載而燒毀.這非常容易理解.3.鉭電容器等效串聯電阻ESR過高和電路中交流紋波過高導致的失效當某只ESR過高的鉭電容器使用在存在過高交流紋波的濾波電路,即使是使用電壓遠低于應該的降額幅度,有時候,在開機的瞬間仍然會發生突然的擊穿現象;出現此類問題的主要原因是電容器的ESR和電路中的交流紋波大小嚴重不匹配.電容器是極性元氣件,在通過交流紋波時會發熱,而不同殼號大小的產品能夠維持熱平衡的容許發熱量不同.由于不同容量的產品的ESR值相差較高,因此,不同規格的鉭電容器能夠安全耐受的交流紋波值也相差很大,因此,如果某電路中存在的交流紋波超過使用的電容器可以安全承受的交流紋波值,產品就會出現熱致擊穿的現象.同樣,如果電路中的交流紋波一定,而選擇的鉭電容器的實際ESR值過高,產品也會出現相同的現象.一般來說,在濾波和大功率充放電電路,必須使用ESR值盡可能低的鉭電容器.對于電路中存在的交流紋波過高而導致的電容失效問題在設計電源電路時，需要考慮鉭電容的連接方式和濾波效果，以保證電源的穩定性和噪聲抑制能力。CAK45-E-35V-47uF-K

鉭電容具有一定的自恢復能力，但在過電壓嚴重的情況下，仍有可能發生故障。CAK351-40V-220uF-K-5

電容失效模式,機理和失效特點對于鉭電容，失效與其他類型的電容一樣,也有電參數變化失效、短路失效和開路失效三種。由于鉭電容的電性能穩定,且有獨特的“自愈”特性,鉭電容鮮有參數變化引起的失效，鉭電容失效大部分是由于電路降額不足，反向電壓，過功耗導致，主要的失效模式是短路。另外,根據鉭電容的失效統計數據,鉭電容發生開路性失效的情況也極少。因此,鉭電容失效主要表現為短路性失效。鉭電容短路性失效模式的機理是:固體鉭電容的介質Ta2O5由于原材料不純或工藝中的原因而存在雜質、裂紋、孔洞等疵點或缺陷,鉭塊在經過高溫燒結時已將大部分疵點或缺陷燒毀或蒸發掉,但仍有少量存在。在賦能、老煉等過程中,這些疵點在電壓、溫度的作用下轉化為場致晶化的發源地—晶核;在長期作用下,促使介質膜以較快的速度發發生物理、化學變化,產生應力的積累,到一定時候便引起介質局部的過熱擊穿。如果介質氧化膜中的缺陷部位較大且集中,一旦在熱應力和電應力作用下出現瞬時擊穿,則很大的短路電流將使電容迅速過熱而失去熱平衡,鉭電容固有的“自愈”特性已無法修補氧化膜,從而導致鉭電容迅速擊穿失效。CAK351-40V-220uF-K-5