ThermalEMMI（熱紅外顯微鏡）是一種先進的非破壞性檢測技術，主要用于精細定位電子設備中的熱點區域，這些區域通常與潛在的故障、缺陷或性能問題密切相關。該技術可在不破壞被測對象的前提下，捕捉電子元件在工作狀態下釋放的熱輻射與光信號，為工程師提供關鍵的故障診斷線索和性能分析依據。在諸如復雜集成電路、高性能半導體器件以及精密印制電路板（PCB）等電子組件中，ThermalEMMI能夠快速識別出異常發熱或發光的區域，幫助工程師迅速定位問題根源，從而及時采取有效的維修或優化措施。鎖相熱成像系統提升電激勵檢測的抗干擾能力。非破壞性分析鎖相紅外熱成像系統技術參數

在實際應用中，這款設備已成為半導體產業鏈的 “故障診斷利器”。在晶圓制造環節，它能通過熱分布成像識別光刻缺陷導致的局部漏電；在芯片封裝階段，可定位引線鍵合不良引發的接觸電阻過熱；針對 IGBT 等功率器件，能捕捉高頻開關下的瞬態熱行為，提前預警潛在失效風險。某半導體企業在檢測一批失效芯片時，傳統熱成像設備能看到模糊的發熱區域，而使用致晟光電的一體化設備后，通過鎖相技術發現發熱區域內存在一個 2μm 的微小熱點，終定位為芯片內部的金屬離子遷移缺陷 —— 這類缺陷若未及時發現，可能導致產品在長期使用中突然失效。熱發射顯微鏡鎖相紅外熱成像系統技術參數鎖相熱成像系統的同步控制模塊需與電激勵源保持高度協同，極小的同步誤差都可能導致檢測圖像出現相位偏移。

電激勵參數的實時監控對于鎖相熱成像系統在電子產業檢測中的準確性至關重要，是保障檢測結果可靠性的關鍵環節。在電子元件檢測過程中，電激勵的電流大小、頻率穩定性等參數可能會受到電網波動、環境溫度變化等因素的影響而發生微小波動，這些波動看似細微，卻可能對檢測結果產生干擾，尤其是對于高精度電子元件的檢測。通過實時監控系統對電激勵參數進行持續監測，并將監測數據實時反饋給控制系統，可及時調整激勵源的輸出，確保電流、頻率等參數始終穩定在預設范圍內。例如，在檢測高精度 ADC（模數轉換）芯片時，其內部電路對電激勵的變化極為敏感，即使是 0.1% 的電流波動，也可能導致芯片內部溫度分布出現異常，干擾對真實缺陷的判斷。而實時監控系統能將參數波動控制在 0.01% 以內，有效保障了檢測的準確性，為電子元件的質量檢測提供了穩定可靠的技術環境。

鎖相熱成像系統借助電激勵在電子產業的微型電子元件檢測中展現出極高的靈敏度，滿足了電子產業向微型化、高精度發展的需求。隨著電子技術的不斷進步，電子元件正朝著微型化方向快速發展，如微型傳感器、微型繼電器等，其尺寸通常在毫米甚至微米級別，缺陷也更加細微，傳統的檢測方法難以應對。電激勵能夠在微型元件內部產生微小但可探測的溫度變化，即使是納米級的缺陷也能引起局部溫度的細微波動。鎖相熱成像系統結合先進的鎖相技術，能夠從強大的背景噪聲中提取出與電激勵同頻的溫度信號，將微小的溫度變化放大并清晰顯示出來，從而檢測出微米級的缺陷。例如，在檢測微型加速度傳感器的敏感元件時，系統能夠發現因制造誤差導致的微小結構變形，這些變形會影響傳感器的測量精度。這一技術的應用，為微型電子元件的質量檢測提供了有力支持，推動了電子產業向微型化、高精度方向不斷發展。電激勵頻率可調，適配鎖相熱成像系統多場景檢測。

鎖相熱成像系統在鋰電池檢測領域發揮著重要作用。隨著新能源汽車的快速發展，鋰電池的安全性和可靠性越來越受到關注。鋰電池內部的隔膜破損、極片錯位等缺陷，可能會導致電池短路、熱失控等嚴重問題。鎖相熱成像系統可以通過對鋰電池施加周期性的充放電激勵，使電池內部的缺陷區域產生異常的溫度變化。系統能夠捕捉到這些細微的溫度變化，并通過鎖相技術將其從復雜的背景信號中提取出來，從而定位缺陷的位置。這種檢測方式不僅能夠快速檢測出鋰電池的內部缺陷，還能對電池的性能進行評估，為鋰電池的生產質量控制和使用安全提供了有力的技術保障。鎖相熱成像系統通過識別電激勵引發的周期性熱信號，可有效檢測材料內部缺陷，其靈敏度遠超傳統熱成像技術。Thermo鎖相紅外熱成像系統方案

鎖相熱成像系統提升電激勵檢測的缺陷識別率。非破壞性分析鎖相紅外熱成像系統技術參數

鎖相熱成像系統與電激勵結合，為電子產業的芯片失效分析提供了一種全新的方法，幫助企業快速定位失效原因，改進生產工藝。芯片失效的原因復雜多樣，可能是設計缺陷、材料問題、制造過程中的污染，也可能是使用過程中的靜電損傷、熱疲勞等。傳統的失效分析方法如切片分析、探針測試等，不僅操作復雜、耗時較長，而且可能會破壞失效芯片的原始狀態，難以準確找到失效根源。通過對失效芯片施加特定的電激勵，模擬其失效前的工作狀態，鎖相熱成像系統能夠記錄芯片表面的溫度變化過程，并將其與正常芯片的溫度數據進行對比分析，從而找出失效位置和失效原因。例如，當芯片因靜電損傷而失效時，系統會檢測到芯片的輸入端存在異常的高溫區域；當芯片因熱疲勞失效時，會在芯片的焊接點處發現溫度分布不均的現象。基于這些分析結果，企業可以有針對性地改進生產工藝，減少類似失效問題的發生。非破壞性分析鎖相紅外熱成像系統技術參數