我們對單模光纖間的相互耦合、多模光纖出射光場的光束及光強做了基本的了解及分析,為后面的多-單模光纖耦合系統的架構打下基礎。其次,通過對耦合器件自聚焦透鏡及球透鏡的分析及研究,設計并研制出了多模光纖到單模光纖耦合系統的雛形。先使用自聚焦透鏡來匯聚從多模光纖出射光...
只要在確認耦合不過的前提下,可依次排除B殼天線、KB板和同軸線的故障進行維修。若以上一一排除,則是主板參數校準的問題,或者說是主板硬件存在故障。耦合天線的種類比較多,有塔式、平板式、套筒式,常用的是自動硅光芯片硅光芯片耦合測試系統系統。為防止外部環境的電磁干擾...
硅光芯片耦合測試系統是什么?硅光芯片耦合測試系統主要是用整機模擬一個實際使用的環境,測試設備在無線環境下的射頻性能,重點集中在天線附近一塊,即檢測天線與主板之間的匹配性。因為在天線硅光芯片耦合測試系統之前(SMT段)已經做過RFcable測試,所以可以認為主板...
光子帶隙型光子晶體光纖耦合系統:相對于折射率引導型光子晶體光纖耦合系統,光子帶隙型光子晶體光纖耦合系統要求包層空氣孔結構具有嚴格的周期性。纖芯的引入使其周期性結構遭到破壞時,就形成了具有一定頻寬的缺陷態或局域態,而只有特定頻率的光波可以在這個缺陷區域中傳播,其...
硅光芯片耦合測試系統的應用技術領域,公開了光子集成芯片的新型測試系統及方法,包括測試設備和集成芯片放置設備,測試設備包括電耦合測試設備和光耦合測試設備中的一種或兩種,電耦合測試設備和光耦合測試設備可拆卸安裝在集成芯片放置機構四周,電耦合測試設備包括單探針耦合模...
硅光芯片耦合測試系統系統,該設備主要由極低/變溫控制子系統、背景強磁場子系統、強電流加載控制子系統、機械力學加載控制子系統、非接觸多場環境下的宏/微觀變形測量子系統五個子系統組成。其中極低/變溫控制子系統采用GM制冷機進行低溫冷卻,實現無液氦制冷,并通過傳導冷...
使用光纖耦合系統通過數據進行對比分析,得出較好的耦合效率數值及此時各個耦合器件之間的距離。當多模光纖距離自聚焦透鏡為1.87mm,自聚焦透鏡距離帶球透鏡的單模光纖為1.26mm的時候,耦合效率達到較大值7.3。提出并研制出的多模光纖到單模光纖組合透鏡耦合系統結...
硅硅光芯片耦合測試系統及硅光耦合方法,其用以將從硅光源發出的硅光束耦合進入硅光纖,并可減少硅光束背向反射進入硅光源,也提供控制的發射條件以改善前向硅光耦合。硅光耦合系統包括至少一個平坦的表面,平坦的表面與硅光路相交叉的部分的至少一部分上設有若干擾動部。擾動部具...
手動耦合系統簡單來說,我們的高精度耦合設備,聚集了高精度,高穩定性,高效率,高性價比,培訓時間短,上手快,以及優越的適用性等優點,能夠兼容水平和垂直耦合,滿足光通信無源器件和有源器件的耦合測試;特別適合于學校研究所使用,定制的方式,可以根據客戶現場的具體應用,...
既然提到硅光芯片耦合測試系統,我們就認識一下硅光子集。所謂硅光子集成技術,是以硅和硅基襯底材料(如SiGe/Si、SOI等)作為光學介質,通過互補金屬氧化物半導體(CMOS)兼容的集成電路工藝制造相應的光子器件和光電器件(包括硅基發光器件、調制器、探測器、光波...
硅光芯片耦合測試系統的激光器與硅光芯片耦合結構及其封裝結構和封裝方法,發散的高斯光束從激光器芯片出射,經過耦合透鏡進行聚焦;聚焦過程中光路經過隔離器進入反射棱鏡,經過反射棱鏡的發射,光路發生彎折并以一定的角度入射到硅光芯片的光柵耦合器上面,耦合進硅光芯片。本發...
光纖耦合系統使用高分辨率差分調節器,是將自由空間激光優化耦合入單模光纖的理想選擇,即使在可見波長的光纖模場直徑只為3μm。快拆光纖夾使用帶狹槽的中心套圈,帶有六個安裝表面,每個用于直徑從125μm到2.66mm的光纖。只需旋轉套圈就能將正確的安裝狹槽對準壓臂。...
自動耦合光纖耦合系統:應用于平面光光纖(PLC)分路器封裝的新一代手動耦合系統:具有體積小、精度高、操作簡單和性價比高等優點。該系統中,在耦合工藝中扮演重要角色的高精運動平臺方面,保證了平臺的高穩定性、高重復性、高精度和長壽命等特點,結合自身的馬達驅動,智能運...
保偏光纖耦合系統的主要性能指標及其影響因素與通信用單模光纖耦合系統相同,衡量保偏光纖耦合系統的性能,附加損耗和耦合比是兩個重要指標。其中I;為光纖耦合系統主路與支路主偏振軸的光功率之和,戶iv為沿主偏振軸注入耦合系統的光功率。耦合系統雙錐體的直徑是影響附加損耗...
硅光芯片耦合測試系統應用到硅光芯片,我們一起來了解硅光芯片的重要性。為什么未來需要硅光芯片,這是由于隨著5G時代的到來,芯片對傳輸速率和穩定性要求更高,硅光芯片相比傳統硅芯的性能更好,在通信器件的高級市場上,硅光芯片的作用更加明顯。未來人們對流量的速度要求比較...
硅光芯片耦合測試系統是由激光器與硅光芯片集成結構,結構包括:激光器芯片,激光器芯片包括第1波導;硅光芯片,硅光芯片包括第二波導,第二波導及第1波導將激光器芯片發出的光耦合至硅光芯片內;第1波導包括依次一體連接的第1倒錐形波導部,矩形波導部及第二倒錐形波導部;第...
光子帶隙型光子晶體光纖耦合系統:相對于折射率引導型光子晶體光纖耦合系統,光子帶隙型光子晶體光纖耦合系統要求包層空氣孔結構具有嚴格的周期性。纖芯的引入使其周期性結構遭到破壞時,就形成了具有一定頻寬的缺陷態或局域態,而只有特定頻率的光波可以在這個缺陷區域中傳播,其...
我們提供,納米級升級精密耦合時不用人手參與,耦合穩定性較大提高,間接提升了耦合效率;用戶操作時更加得心應手,將整個耦合較耗時耗力的部分變得輕松和效率,較大節省用戶人力和精力,又與傳統的自動耦合單一化死板的耦合流程設計區別,讓耦合變得簡單,便捷。客戶使用了之后都...
基于設計版圖對硅光芯片進行光耦合測試的方法及系統,該方法包括:讀取并解析設計版圖,得到用于構建芯片圖形的坐標簇數據,驅動左側光纖對準第1測試點,獲取與第1測試點相對應的測試點圖形的第1選中信息,驅動右側光纖對準第二測試點,獲取與第二測試點相對應的測試點圖形的第...
硅光芯片耦合測試系統的測試站包含自動硅光芯片耦合測試系統客戶端程序,其程序流程如下:首先向自動耦合臺發送耦合請求信息,并且信息包括待耦合芯片的通道號,然后根據自動耦合臺返回的相應反饋信息進入自動耦合等待掛起,直到收到自動耦合臺的耦合結束信息后向服務器發送測試請...
硅光芯片耦合測試系統測試時說到功率飄忽不定,耦合直通率低一直是影響產能的重要的因素,功率飄通常與耦合板的位置有關,因此在耦合時一定要固定好相應的位置,不可隨便移動,此外部分機型需要使用專屬版本,又或者說耦合RF線材損壞也會對功率的穩定造成比較大的影響。若以上原...
相比于傳統的折射率傳導,光子晶體包層的有效折射率允許芯層有更高的折射率。因此,重要的是要注意到,這些我們所謂的內部全反射光子晶體光纖耦合系統,實際上完全不依賴于光子帶隙效應。與TIR-PCFs截然不同的另一種光纖,其光子晶體包層顯示的是光子帶隙效應,它利用這種...
硅光芯片耦合測試系統的應用技術領域,公開了光子集成芯片的新型測試系統及方法,包括測試設備和集成芯片放置設備,測試設備包括電耦合測試設備和光耦合測試設備中的一種或兩種,電耦合測試設備和光耦合測試設備可拆卸安裝在集成芯片放置機構四周,電耦合測試設備包括單探針耦合模...
硅光芯片耦合測試系統中半導體激光器芯片與硅光芯片的耦合結構及耦合方法,該耦合結構包括激光器單元,其包含有激光器芯片;硅光芯片,其上設有波導;以及刻蝕槽,其設置在硅光芯片的耦合端,用于連接激光器單元和硅光芯片。本發明能夠實現半導體激光器芯片與硅光芯片的高效率耦合...
多模光纖耦合系統,屬于照明技術領域。系統包括激光光源、耦合透鏡、多模光纖;耦合透鏡設于激光光源和多模光纖之間,多模光纖其與耦合透鏡連接的一端設有光纖準直器;耦合透鏡的進光端和出光端中的至少一端具有自由曲面,進光端或出光端具有自由曲面時且具有至少一個自由曲面,使...
光纖耦合系統及耦合方法涉及光纖耦合技術領域,解決了有效工作范圍小,耦合對準精度低,受大氣湍流干擾嚴重的問題,系統包括一種光纖耦合系統,包括光斑追蹤快反鏡,追蹤鏡驅動器,分光片,成像透鏡組,光斑位置探測器,圖像處理機,章動耦合快反鏡,耦合鏡驅動器,耦合透鏡組,耦...
說到功率飄忽不定,耦合直通率低一直是影響產能的重要因素,功率飄通常與耦合板的位置有關,因此在耦合時一定要固定好相應的位置,不可隨便移動,此外部分機型需要使用專屬版本,又或者說耦合RF線材損壞也會對功率的穩定造成比較大的影響。若以上原因都排除則故障原因就集中在終...
光纖耦合系統,包括角錐棱鏡、傾斜反射鏡、分光鏡、第1透鏡、三維平移臺、1×2光纖分束器、標定激光器、接收終端、光電探測器、第二透鏡、第1驅動器、控制處理機和第二驅動器。標定激光器發出光束經第1透鏡準直為平行光,小部分光能量經分光鏡透射后由角錐棱鏡共軸返回,再次...
通過調整預制棒的結構參數能得到所需結構與尺寸的光子晶體光纖耦合系統,具有非常靈活設計自由度。不同的空氣孔結構和排布使得折射率引導型光子晶體光纖耦合系統具有特定的模式傳輸特性。特別需要指出的是,研究還發現折射率引導型光子晶體光纖耦合系統包層中空氣孔的周期排列不是...
硅光芯片耦合測試系統的測試站包含自動硅光芯片耦合測試系統客戶端程序,其程序流程如下:首先向自動耦合臺發送耦合請求信息,并且信息包括待耦合芯片的通道號,然后根據自動耦合臺返回的相應反饋信息進入自動耦合等待掛起,直到收到自動耦合臺的耦合結束信息后向服務器發送測試請...